一种多针玻璃封接光电子管的检测系统及方法技术方案

本发明专利技术属于光电子管检测技术领域，公开了一种多针玻璃封接光电子管的检测系统及方法，所述多针玻璃封接光电子管的检测系统包括：外观检测模块、电压检测模块、电流检测模块、电阻检测模块、主控模块、电信号检测模块、功耗计算模块、故障概率确定模块、三维模拟模块、寿命预测模块、显示模块。本发明专利技术通过功耗计算模块对待测光电子管的温度进行调节，对待测光电子管的测试温度进行监测，以保证可在测试温度一致的情况下采集待测光电子管的目标电流值，从而计算功耗值，以达到精准测试量待测光电子管功耗值的目的；同时，通过故障概率确定模块可以获得准确的光电子管故障概率。

【技术实现步骤摘要】
一种多针玻璃封接光电子管的检测系统及方法
本专利技术属于光电子管检测
，尤其涉及一种多针玻璃封接光电子管的检测系统及方法。
技术介绍
目前，最接近的现有技术：电子管，是一种最早期的电信号放大器件。被封闭在玻璃容器(一般为玻璃管)中的阴极电子发射部分、控制栅极、加速栅极、阳极(屏极)引线被焊在管基上。利用电场对真空中的控制栅极注入电子调制信号，并在阳极获得对信号放大或反馈振荡后的不同参数信号数据。早期应用于电视机、收音机扩音机等电子产品中，近年来逐渐被半导体材料制作的放大器和集成电路取代，但目前在一些高保真的音响器材中，仍然使用低噪声、稳定系数高的电子管作为音频功率放大器件。然而，现有光电子管的检测过程中不能确测量光电子管的功耗；同时，不能准确的获取光电子管故障概率。综上所述，现有技术存在的问题是：现有光电子管的检测过程中不能确测量光电子管的功耗；同时不能准确的获取光电子管故障概率。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种多针玻璃封接光电子管的检测系统及方法。>本专利技术是这样实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多针玻璃封接光电子管的检测方法，其特征在于，所述多针玻璃封接光电子管的检测方法包括以下步骤：/n第一步，通过外观检测模块利用摄像器采集光电子管外观图像检测光电子管顶部的颜色是否正常；通过电压检测模块利用电压表检测光电子管电压数据；/n第二步，通过电流检测模块利用电流表检测光电子管电流数据；通过电阻检测模块利用电阻表检测光电子管电阻数据；/n第三步，主控模块调度电信号检测模块利用信号检测器检测光电子管电子信号数据；/n第四步，通过功耗计算模块利用计算程序计算光电子管功耗数据；通过故障概率确定模块确定光电子管故障概率分布；故障概率确定模块的确定方法如下：/n1)对光电子管故障记录数据分别按...

【技术特征摘要】
1.一种多针玻璃封接光电子管的检测方法，其特征在于，所述多针玻璃封接光电子管的检测方法包括以下步骤：
第一步，通过外观检测模块利用摄像器采集光电子管外观图像检测光电子管顶部的颜色是否正常；通过电压检测模块利用电压表检测光电子管电压数据；
第二步，通过电流检测模块利用电流表检测光电子管电流数据；通过电阻检测模块利用电阻表检测光电子管电阻数据；
第三步，主控模块调度电信号检测模块利用信号检测器检测光电子管电子信号数据；
第四步，通过功耗计算模块利用计算程序计算光电子管功耗数据；通过故障概率确定模块确定光电子管故障概率分布；故障概率确定模块的确定方法如下：
1)对光电子管故障记录数据分别按照光电子管的工作时间t和工作温度c进行统计；
2)分别在t和c方向投影且归一化数据；
3)对故障概率分布点进行拟合得到特征函数，进而得到光电子管故障概率空间分布；可用于从已有的长期监测得到的光电子管故障记录数据中得到光电子管故障概率；其原理是基于离散型空间故障树；Pit(t)和Pic(c)分别是光电子管关于t和c的特征函数，i表示第i个光电子管，Pit(t)反映工作时间t对光电子管故障率的影响，而Pic(c)反映工作温度c对光电子管故障率的影响，即Pit(t)对t敏感，而忽略工作温度c的影响；Pic(c)对c敏感，而忽略工作时间t的影响，分别对沿着t轴和c轴进行投影，得到了光电子管故障对于工作时间t的分布和光电子管故障对于工作温度c的分布；对500天内的发生故障情况进行了统计；记录相应的这段时间内的工作温度；光电子管对于时间t的故障分布，时间上每隔50天，就会出现若干时间点的故障为0的状态，然后故障一直维持在状态1，对于工作时间t，50天应该是光电子管对于工作时间的故障率变化周期，根据其50天的周期进行合并，再根据50天内的最大故障数将这段时间的故障次数归一化；温度c与故障对应点分布为正弦曲线的一部分，设其中C代表正弦曲线周期；c0代表正弦曲线的平移量；A表示正弦曲线的垂直位移量，同时30～40℃区间内点的分布了解到，30～35℃内点表示的故障概率逐渐减小，在30～40℃时，Pic(c)＝1；使用最小二乘法得到在0～40℃的关于温度c的第一个光电子管的特征函数P1c(c)如式(1)所示，



时间t与故障对应点分布为指数曲线的一部分，得到0～19天内点分布为指数曲线，故设Pit(t)＝1-ekt；19天后故障概率1，即Pit(t)＝1；使用最小二乘法得到在0～50天的关于时间t的第一个光电子管的特征函数P1t(t)如式(2)所示，



由于只考虑了工作时间t和工作温度c两种环境因素对光电子管的故障影响，所以根据Pi(t,c)＝1-(1-Pit(t))(1-Pic(c))，即可得到光电子管的故障发生概率空间分布；
第五步，通过三维模拟模块利用模拟程序对光电子管工作过程进行三维模拟；
第六步，通过寿命预测模块利用预测程序根据检测的数据及功耗、故障信息预测光电子管寿命；
第七步，通过显示模块利用显示器显示检测的光电子管外观、电压、电流、电阻及电子信号、功耗、故障概率分布数据。


2.如权利要求1所述的多针玻璃封接光电子管的检测方法，其特征在于，所述利用计算程序计算光电子管功耗数据包括：
(1)通过控制电路对待测光电子管的温度进行调节；
(2)监测所述待测光电子管的测试温度；
(3)当所述测试温度达到预设阈值时，采集所述待测光电子管的目标电流值；
(4)根据所述目标电流值计算所述待测光电子管的功耗值，并记录所述功耗值；
(5)判断记录的所述功耗值的次数是否小于次数阈值，若是，返回执行步骤(1)；若否，执行步骤(6)；
(6)对记录所有功耗值计算平均功耗值。


3.如权利要求1所述的多针玻璃封接光电子管的检测方法，其特征在于，所述多针玻璃封接光电子管的检测方法还包括：图像二值化的处理过程是将被测目标f(x，y)区分成目标物体与背景两部分，采用双峰间波谷的灰度值作为阈值实现区域分割，具体算法如下：
(1)求出图像灰度值的两个极值Zl和Zk，令阈值T0＝(Zl+Zk)/2；
(2)依据阈值Tk将图象分成两个区域，求出这两个区域的平均灰度值Zo和ZB：



其z(i，j)是图像上点的灰度值，N(i,j)点(i,j)的权重系数N(i,j)＝1.0；
(3)求出新的阈值Tk+1＝(Z0+ZB)/2；
(4)如果Tk+1＝Tk则结束，否则K＝K+1转到步骤(2)。


4.如权利要求1所述的多针玻璃封接光电子管的检测方法，其特征在于，所述多针玻璃封接光电子管的检测方法还包括：边缘检测方法步骤如下：
(1)消除噪声，使用平滑滤波器来进行卷积运算减低图像中的噪声干扰；
(2)计算梯度幅值和方向：
a)采用卷积的运算矩阵(x、Y两方向进行计算)：



b)采用下面的公式来获得梯度的幅值与方向：



(3)抑制梯度中幅值的极大值，排除非边界的像素点，只显示一些细线条。


5.一种基于权利要求1～...

【专利技术属性】
技术研发人员：王毅，包西平，林蒙丹，
申请(专利权)人：徐州工业职业技术学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32