基于光热效应的光强探测器及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种基于光热效应的光强探测器及系统，具体而言，涉及光强度测量领域。本申请通过将第一电极和第二电极分别设置在石墨烯层的一个面上，并处于石墨烯层的两端，并且给该第一电极和第二电极通电，当待测光纤中的光从该光强探测器的一端流向另外一端的时候，待测光纤中的光与该石墨烯层发生耦合，该石墨烯层的温度就会有所升高，根据该石墨烯层温度升高的情况就可以得到该石墨烯层的热噪声，根据该热噪声与该光强的对应关系，便可以直接得到该待测光纤中流过的光的光强。

Light intensity detector and system based on photothermal effect

【技术实现步骤摘要】
基于光热效应的光强探测器及系统
本专利技术涉及光强度测量领域，具体而言，涉及一种基于光热效应的光强探测器及系统。
技术介绍
发光强度一般简称光强，国际单位是candela(坎德拉)简写cd，其他单位有烛光，支光。1cd即1000mcd是指单色光源(频率540X10^12HZ)的光，在给定方向上(该方向上的辐射强度为(1/683)瓦特/球面度))的单位立体角发出的光通量。现有技术中，一般是采用和统计采集光的频率、照射区域面积和间隔t内照到A上的光子总数，然后使用公式I＝Nhv/At进行计算得到，其中用I表示光学中的光强，v表示光的频率，A为照射区域面积，N为时间间隔t内照到A上的光子总数。但是，现有中采集和统计光的频率、照射区域面积和间隔t内照到A上的光子总数的时候会出现一定的误差，使得最终的光强计算不准确。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于光热效应的光强探测装置及系统，以解决现有技术中光强计算不准确的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光热效应的光强探测器，其特征在于，所述光强探测器包括：石墨烯层、第一电极和第二电极；/n所述第一电极和所述第二电极分别设置在所述石墨烯层的一个面上，并处于所述石墨烯层的两端。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光热效应的光强探测器，其特征在于，所述光强探测器包括：石墨烯层、第一电极和第二电极；
所述第一电极和所述第二电极分别设置在所述石墨烯层的一个面上，并处于所述石墨烯层的两端。


2.根据权利要求1所述的基于光热效应的光强探测器，其特征在于，所述光强探测器还包括金属颗粒层，所述金属颗粒层设置在所述石墨烯层远离所述第一电极和所述第二电极的一侧。


3.根据权利要求1所述的基于光热效应的光强探测器，其特征在于，所述金属颗粒层的材料包括：金、银和钼中至少一种贵金属。


4.根据权利要求1所述的基于光热效应的光强探测器，其特征在于，所述光强探测器还包括多个金属单元，所述石墨烯层远离所述第一电极和所述第二电极的一侧挖设有多个孔洞，多个所述孔洞用于放置多个所述金属单元。


5.根据权利要求4所述的基于光热效应的光强探测器，其特征在于，多个所述金属单元的材料包括：金、银和钼中至少一种贵金属。


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【专利技术属性】
技术研发人员：解宜原，柴俊雄，宋婷婷，叶逸琛，刘波成，朱云超，严华，
申请(专利权)人：西南大学，
类型：发明
国别省市：重庆;50