非接触式光学测量方法与系统技术方案

一种非接触式光学测量方法与系统，该系统具有一取像单元、一投影单元与一计算单元，其中取像单元所获取的影像当中投影单元所投影图案的一投影位置随着取像单元的高度变动而改变，因而可以执行多次的校准作业，利用取像单元对尺寸已知的标准试片进行影像获取，记录取像单元所获取的影像当中投影单元所投影图案的投影位置，并利用计算单元计算得出转换系数，最后完成一转换系数表，于实际的光学检测时可以利用查表快速取得正确的转换系数，提升测量效率并维持测量的精确度。

Non contact optical measurement method and system

【技术实现步骤摘要】
非接触式光学测量方法与系统
本专利技术与光学测量技术有关，具体而言是指一种非接触式光学测量方法与系统，能够在检测作业时快速取用正确的转换系数，维持光学测量的精确度并提升作业效率。
技术介绍
随着电子产品造型轻薄短小，以及智慧多工的性能发展趋势，电子零组件的制造组装变成越来越精细而复杂，因此电子产品的工艺开始广泛采用自动光学检测(AOI)系统来进行产品缺陷的检测作业。传统的自动光学检测系统是使用非接触式的光学成像来进行2D平面测量作业，自动光学检测系统当中取像单元(ImageCaptureUnit)所获取的数字影像只有像素的信息，因此还需要通过自动光学检测系统当中的计算单元进行单位转换作业，才能取得所需的尺寸物理数值。在进行单位转换作业之前必须进行校准作业，先利用尺寸已知的标准试片(可能为圆形、矩形或其他图案)进行取像动作，接着将取像单元所获取影像的像素信息与已知的试片尺寸进行计算，可以得出一转换系数(例如0.05mm/像素)，如此才能够将转换系数套用于单位转换作业，得到取像单元在进行检测作业时所获取待测物影像的实际尺寸。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触式光学测量方法，其步骤包含有：/n准备一取像单元与一投影单元，该取像单元所获取的影像当中该投影单元所投影图案的一投影位置随着该取像单元的高度变动而改变；/n进行校准作业，启动该取像单元与该投影单元，利用该取像单元对尺寸已知的一标准试片进行影像获取，记录该取像单元所获取的影像当中该投影单元所投影图案的一投影位置，并利用一计算单元计算得出一转换系数；以及/n调整该取像单元的高度后再次回到前一步骤，直到一转换系数表建立完成，其中该转换系数表记录有该投影单元所投影图案的多个投影位置与所对应的多个转换系数。/n

【技术特征摘要】
1.一种非接触式光学测量方法，其步骤包含有：
准备一取像单元与一投影单元，该取像单元所获取的影像当中该投影单元所投影图案的一投影位置随着该取像单元的高度变动而改变；
进行校准作业，启动该取像单元与该投影单元，利用该取像单元对尺寸已知的一标准试片进行影像获取，记录该取像单元所获取的影像当中该投影单元所投影图案的一投影位置，并利用一计算单元计算得出一转换系数；以及
调整该取像单元的高度后再次回到前一步骤，直到一转换系数表建立完成，其中该转换系数表记录有该投影单元所投影图案的多个投影位置与所对应的多个转换系数。


2.如权利要求1所述的非接触式光学测量方法，还包含有最后的一查表作业，根据该投影单元所投影图案的投影位置查询该转换系数表取得所对应的该转换系数。


3.如权利要求1所述的非接触式光学测量方法，其中投影单元所投影图案的该投影位置为一直角坐标。

【专利技术属性】
技术研发人员：邱诗彰，陈荣宏，
申请(专利权)人：皓琪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71