一种用于排线的测试转接板及测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于排线的测试转接板及测试系统，所述测试转接板包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部，在对排线进行量测时，所述排线的一端插接在所述第一排线连接器上，量测仪的一表笔点触所述测试接触部，量测仪的另一表笔则可以依次对所述排线的另一端上的触点进行点触，这样量测仪的两个表笔无需同时对排线的两端上的触点进行依次点触，不仅能够减少错误点触排线的触点的现象的出现而提高了测试的准确度，同时也使得排线的测试过程更方便且快速。

A test adapter and test system for cable arrangement

【技术实现步骤摘要】
一种用于排线的测试转接板及测试系统
本技术涉及转接板
，尤其涉及一种用于排线的测试转接板及测试系统。
技术介绍
排线是一种用于连接两个电子器件模块的软性电路板，为了确保排线中的每一线路均为通路而非断路，需要对排线的线路通断性进行测试。目前，在测试排线的线路通断性时，一般用万用表的其中一个表笔接触排线的一端上的某个触点，用万用表的另一个表笔接触排线的另一端上的对应的触点，根据万用表测得的数据来判断排线的线路的通断性。例如，电容屏排线用来连接电容屏与触摸显示设备的主控板，在一些触摸显示设备中，电容屏排线分为两段，其中一段由电容屏的其中一侧边引出，另一段由电容屏的另一侧边引出。为了测试电容排线的通断性，用万用表的其中一个表笔接触电容屏排线的其中一段的末端上的触点，用万用表的另一个表笔接触电容屏排线的另一段的末端上的对应的触点。排线的两端上的触点分布密集，在用万用表的表笔对排线的两端上的触点进行点触的过程中，测试人员容易出现错误点触排线的触点的现象，这样会引起测量误差，因此测试人员在测试过程中需要来回寻找确认触点所在的位置，从而会使得测试过程不方便且耗时过长。
技术实现思路
本技术实施例的目的是提供一种用于排线的测试转接板及测试系统，能够更方便且快速地测试排线，并能够提高排线的测试准确度。为了实现上述目的，本技术一实施例提供了一种用于排线的测试转接板，包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部。实施本技术实施例，与
技术介绍
相比所产生的有益效果：所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部，在对排线进行量测时，所述排线的一端插接在所述第一排线连接器上，量测仪的一表笔点触所述测试接触部，量测仪的另一表笔则可以依次对所述排线的另一端上的触点进行点触，这样量测仪的两个表笔无需同时对排线的两端上的触点进行依次点触，即，测试人员在测试过程中只需要确认排线的其中一端上的触点所在的位置，而不需要对排线的两端上的触点所在的位置都进行确认，相比于现有技术，这样不仅能够减少错误点触排线的触点的现象的出现而提高了测试的准确度，同时也使得排线的测试过程更方便且快速。优选地，所述测试接触部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。优选地，所述测试转接板还包括第二排线连接器；所述第二排线连接器设于所述第一电路板上，所述第二排线连接器的引脚均与所述测试接触部连接；所述第一排线连接器的引脚均通过导电线路与所述第二排线连接器的引脚连接而连接所述测试接触部。优选地，所述测试接触部为由焊锡在所述第二排线连接器的所有引脚上焊接形成的焊锡凸起。优选地，所述排线为FPC排线或FFC排线。本技术另一实施例提供了一种用于排线的测试转接板，用于与如上所述的测试转接板一起配合测试所述排线，包括第二电路板及第三排线连接器；所述第三排线连接器设于所述第二电路板上，所述第二电路板上设有多个按照预定顺序排列的测试点部，所述测试点部通过导电线路与所述第三排线连接器的引脚一一对应连接；任意相邻的两个所述测试点部之间的距离，大于所述排线的与该两个所述测试点部对应的两个触点部之间的距离。实施本技术实施例，与
技术介绍
相比所产生的有益效果：所述第三排线连接器设于所述第二电路板上，所述第二电路板上设有多个按照预定顺序排列的测试点部，所述测试点部通过导电线路与所述第三排线连接器的引脚一一对应连接。在实际量测排线的过程中，可以将该排线的一端与第一个实施例中的所述测试转接板的所述第一排线连接器进行插接，并将该排线的另一端与本实施例的所述第三排线连接器进行插接，用量测仪的其中一个表笔点触第一个实施例中的所述测试接触部，用量测仪的另一个表笔依次点触本实施例的所述测试点部，从而完成对FFC排线的每一线路的测试。相比于现有技术，由于本实施例的任意相邻的两个所述测试点部之间的距离，大于所述排线的与该两个所述测试点部对应的两个触点部之间的距离，这样比直接量测所述排线的所述触点部更方便，更能避免误测，保证了量测的准确性。优选地，任意相邻的两个所述测试点部之间的距离大于2mm。优选地，所述测试点部按照与其对应的所述触点部的前后顺序，在所述第二电路板上依次排成至少一排；在所述第二电路板上，且位于每一排的首尾两个测试点部的附近，标记有与该两个测试点部各自排序对应的数字。优选地，所述测试点部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。本技术还提供了一种用于排线的测试系统，包括如上所述的两种测试转接板。附图说明图1是本技术第一个实施例提供的一种用于排线的测试转接板结构示意图；图2是本技术第二个实施例提供的另一种用于排线的测试转接板结构示意图；图3是本技术第三个实施例提供的用于排线的测试系统结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。实施例一请参阅图1，本技术第一个实施例提供的一种用于排线的测试转接板1，包括第一排线连接器11、第一电路板12及测试接触部13；所述第一电路板12上设有所述第一排线连接器11和所述测试接触部13，所述第一排线连接器11的引脚均连接所述测试接触部13。在本实施例中，通过将所述第一排线连接器11的引脚均连接所述测试接触部13，则在实际量测时，可以不用对所述第一排线连接器11的各个引脚进行量测，而是可以直接量测所述测试接触部13，减少了工作量，提高了工作效率和量测精确度。在本实施例中，可以在所述第一排线连接器11的每个引脚附近标记与该引脚排序相对应的数字，也可以每隔一定数量的所述引脚才在某个引脚的附近进行数字标记，例如每隔五个所述引脚才在该五个引脚之后的下一引脚的附近标记与该引脚排序对应的数字，本技术对此不作具体限定。优选地，所述测试接触部13为焊盘结构、导电凸起结构(即该结构相对于所述第一电路板12凸起且能够导电)、导电凹槽结构(即该结构相对于所述第一电路板12凹陷且能够导电)或导电通孔结构(即为在所述第一电路板12上开设有的通孔，孔内或孔口附近设有导电材料，例如所述第一电路板12上的位于该通孔的孔口附近的区域露铜处理并进行覆锡处理)。优选地，所述测试转接板1还包括第二排线连接器14；所述第二排线连接器14设于所述第一电路板12上，所述第二排线连接器14的引脚均与所述测试接触部13连接；所述第一排线连接器11的引脚均通过导电线路15与所述第二排线连接器1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于排线的测试转接板，其特征在于，包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；/n所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于排线的测试转接板，其特征在于，包括第一排线连接器、第一电路板及测试接触部；
所述第一电路板上设有所述第一排线连接器和所述测试接触部，所述第一排线连接器的引脚均连接所述测试接触部。


2.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述测试接触部为焊盘结构、导电凸起结构、导电凹槽结构或导电通孔结构。


3.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，还包括第二排线连接器；
所述第二排线连接器设于所述第一电路板上，所述第二排线连接器的引脚均与所述测试接触部连接；所述第一排线连接器的引脚均通过导电线路与所述第二排线连接器的引脚连接而连接所述测试接触部。


4.如权利要求3所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述测试接触部为由焊锡在所述第二排线连接器的所有引脚上焊接形成的焊锡凸起。


5.如权利要求1所述的用于排线的测试转接板，其特征在于，所述排线为FPC排线或FFC排线。


6.一种用于排线的测试转接板，用于与权利要求1至权利要求5任一项所述的测试转接板一起配合测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：田智，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州视睿电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44