一种偏光片膜厚度均匀性检测装置制造方法及图纸

一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。本实用新型专利技术使利用透光膜在不同滤光下散射效果的均匀性，整体检测膜的均匀性。本实用新型专利技术有利于及时发现膜生产过程中均匀效果的异常，检测拉伸机的拉伸效果，可以对所有产品进行全检，从而全面提升生产质量，本实用新型专利技术无需光谱仪等检测设备，设备成本低。

A device for measuring thickness uniformity of polarizer film

【技术实现步骤摘要】
一种偏光片膜厚度均匀性检测装置
本技术属于检测设备，涉及有源矩阵有机发光二级面板显示屏(AMOLED)偏光片生产的拉膜步骤中，对膜厚度均匀性的检测，为一种偏光片膜厚度均匀性检测装置。
技术介绍
液晶屏能够显示各种信息给人类，是现代电子技术、人工智能的重要基础单位，是人机交互的重要通道，具有十分重要的价值。液晶屏中最新的是源矩阵有机发光二级面板显示屏(AMOLED)，偏光片是它的重要组成，它的偏光片需要由至少5个结构层所组成，由下而上依次为1)保护膜、2)三醋酸纤维素膜(TAC)或者聚甲基丙烯酸甲酯薄膜(PMMA)、3)聚乙烯醇(PVA)、4)三醋酸纤维素膜(TAC)或者聚甲基丙烯酸甲酯薄膜(PMMA)、5)保护膜。在生产过程中，需要把原材料的膜拉伸、扩大，达到指定的厚度，并且被拉伸后的膜保持均匀性效果，从而使得偏光片整体透光效果均匀，从而为AMOLED的均匀发光效果提供保障。目前，膜均匀的保障主要是靠拉伸机的稳定工作以及质检人员的耐心，质检人员需要使用光谱仪人工对膜中采样点依次一一抽样检测，现有技术中没有快速、专用的检测拉伸后均匀效果的设备，而且光谱仪价格也十分昂贵，动辄数十万元。如果能够性价比高、实时、准确采集膜均匀效果的话，一是有利于及时发现膜生产过程中均匀效果的异常，二是有利于发现各个拉伸机的问题，三是可以对所有产品进行全检，从而全面提升生产质量。查阅相关的专利、论文，现有的专利论文的方案主要集中于如何利用电阻值、光谱仪等方法对膜的每个点依次一一检测，达不到实际工业生产中对性价比高、快速全面的要求。
技术实现思路
本技术要解决的问题是：现有偏光片生产中，对拉伸后的膜均匀性检测依赖人工质检，劳动强度大，检测设备成本高，速度和精度也都无法满足生产需求。本技术的技术方案为：一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。进一步的，所述检测装置配设有控制器，所述控制器连接相机和滤光片阵列，用于发送拍摄指令给相机，发送位置移动指令给滤光片阵列，控制器还用于接收存储相机采集的图像。进一步的，还包括声光提示单元，控制器连接声光提示单元。声光提示单元用于提示控制器发出的指令及接收的数据。进一步的，本技术装置还包括直角坐标机器人，所述直角坐标机器人带动相机移动。进一步的，在检测台和相机上设有平衡尺，用于保证相机与检测台的平行效果。作为优选方式，所述滤光片阵列包括中心波长为685nm+/-5nm的红色窄带通过滤光片、532nm+/-5nm绿色窄带通过滤光片和400nm～500nm短波蓝光通过滤光片。本技术使用可控光源阵列给待测膜打白光，相机通过滤光片采集膜的图像，当白光透过膜时，其散射的光谱会发生变化，如果用带有红、绿、蓝滤镜的相机去采集其整体散射效果，由散射效果的均匀性，就可以整体检测膜的均匀性。本技术有利于及时发现膜生产过程中均匀效果的异常，检测拉伸机的拉伸效果，可以对所有产品进行全检，从而全面提升生产质量，本技术无需光谱仪等检测设备，设备成本低。附图说明图1为本技术结构示意图。图2为本技术滤光片阵列的实施例结构示意图。具体实施方式如图1，本技术的偏光片膜厚度均匀性检测装置，包括暗室2、检测台6、可控光源阵列5、相机8和滤光片阵列9，检测台6和相机8设置在暗室2内，暗室为本技术的工作空间，它阻隔了外部的一切可见光源，呈现纯黑暗工作模式。检测台6的台面上设置可控光源阵列5，可控面光源阵列5由多个方块的面光源阵列模块所组成，用于产生不同方块整列、不同光强的面光源，可控光源阵列5与相机8之间用于设置待测膜12，所述滤光片阵列9用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机8用于采集不同滤光片下待测膜的图像。检测装置配设有控制器1，控制器可采用工业计算机，控制器1连接相机8和滤光片阵列9，用于发送拍摄指令给相机8，发送位置移动指令给滤光片阵列9，控制器1还用于接收存储相机8采集的图像。本技术装置还包括直角坐标机器人7，控制器发送动作信号给直角坐标机器人7，所述直角坐标机器人7带动相机8移动，保证相机的拍摄效果，以待测膜充满相机采集视野为佳。所述滤光片阵列9可以采用圆盘或矩形等排布方式，如果为圆盘结构，如图2，则通过圆盘转动来使得不同的滤光片对应到相机镜头，如果为矩形结构，则可通过矩形前后或左右移动来使不同的滤光片对应到相机镜头。滤光片阵列9的移动也可以通过直角坐标机器人7来带动。本技术还包括声光提示单元11，控制器1连接声光提示单元11。声光提示单元11用于提示控制器发出的指令及接收的数据，如开始检测、相机位置移动、变换滤光片阵列位置等的提示。进一步的，在检测台6和相机8上设有平衡尺10，用于保证相机与检测台的平行效果。作为优选方式，所述滤光片阵列包括中心波长为685nm+/-5nm的红色窄带通过滤光片、532nm+/-5nm绿色窄带通过滤光片和400nm～500nm短波蓝光通过滤光片。下面通过具体实施例来说明本技术的实施。在本实施例中，暗室采用3000mm*3000mm*4000mm大小的铝型材，厚度2mm，可控光源阵列为12V、50mm*50mm的LED面光源单元，相机采用Balser的1000万像素相机，滤光片阵列采用中心波长为685nm+/-5nm的红色窄带通过滤光片、532nm+/-5nm绿色窄带通过滤光片、400nm～500nm短波蓝光通过滤光片，控制器为TP-IPC生产的型号IPC-T1520P的工业计算机。以图1为示例，通过搬运机器人4将拉伸机3拉好的待测膜12搬运到检测台6上的可控面光源阵列5上方，待测膜12以悬空设置在可控面光源阵列5上方为佳，例如可以使用搬运机器人4夹持固定待测膜12的位置，相机8通过直角坐标机器人7调整合适的拍摄位置，在不同滤光片下采集待测膜的图像，控制器接收并存储图像，图像可用于分析待测膜厚度的均匀性。其中拉伸机3和搬运机器人4为生产厂家的生产设备，不属于本技术范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，其特征是包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，其特征是包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。


2.根据权利要求1所述的一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，其特征是所述检测装置配设有控制器，所述控制器连接相机和滤光片阵列，用于发送拍摄指令给相机，发送位置移动指令给滤光片阵列，控制器还用于接收存储相机采集的图像。


3.根据权利要求2所述的一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，其特征是...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雷，袁博，肖观学，
申请(专利权)人：四川奥希特电子材料有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51