【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】导出场景的拓扑信息
技术介绍
条纹投影技术用于生成对象的三维(3D)表面信息。附图说明图1例示了根据示例的用于导出场景的拓扑信息的装置的示意性框图。图2A例示了根据示例的条纹图案,并且图2B例示了示出图2A的条纹图案的强度分布的曲线图。图3例示了照射射线和观察射线的示意性表示,以解释消除相位信息的模糊性(ambiguity)的示例。图4例示了用于导出拓扑信息的装置的示例的示意图,该装置包括照射表面块(surfacepatch)的投影器和捕获反射光的相机。图5例示了投影器和相机的设置的示例的二维切片的俯视图,其对应于核面(epipolarplane)。图6例示了图5的俯视图的分解图。图7例示了用于导出拓扑信息的装置的示例的示意性视图,其示出了在投影器的图案平面上的点与相机的图像平面上的对应点之间的几何关系。具体实施方式可以使用条纹投影轮廓测定系统来导出诸如对象之类的场景的拓扑信息。条纹投影轮廓测定系统包括:投影单元,其用于将诸如正弦条纹图案之类的结构化图案投影到对象表面上;图像采集单元,其要记录通过对象高度分布进行相位调制的条纹图案的图像;以及处理单元,其要通过用条纹分析技术分析图像来计算相位调制。可以对条纹投影技术进行分类,诸如相位步进轮廓测定(PSP)、傅立叶变换轮廓测定(FTP)、小波变换轮廓测定(WTP)和空间滤波变换轮廓测定。此类方法所揭示的估计相位可以在数学上被限制到2π的区间,而真实相位的范围可以是在大于2π的区间上。因此, ...
【技术保护点】
1.一种装置,包括:/n投影器,其要通过将条纹图案的移位版本投影到场景上来照射所述场景;/n相机,其要捕获被照射场景的图像,每个图像包括排列在第一空间方向上的行以及第二空间方向上的列中的像素的不同阵列,其中每个图像包括所述条纹图案的两个接续版本的不同组合;以及/n处理器,其要导出所述场景的拓扑信息,其中,为了导出所述场景的拓扑信息,所述处理器要:/n分析所捕获的图像以获得与所述像素中的一个相关联的相位信息;/n确定与所述图像中的所述条纹图案的两个接续版本的组合相关联的相位偏移;并且/n使用所确定的相位偏移来校正所述相位信息。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种装置,包括:
投影器,其要通过将条纹图案的移位版本投影到场景上来照射所述场景;
相机,其要捕获被照射场景的图像,每个图像包括排列在第一空间方向上的行以及第二空间方向上的列中的像素的不同阵列,其中每个图像包括所述条纹图案的两个接续版本的不同组合;以及
处理器,其要导出所述场景的拓扑信息,其中,为了导出所述场景的拓扑信息,所述处理器要:
分析所捕获的图像以获得与所述像素中的一个相关联的相位信息;
确定与所述图像中的所述条纹图案的两个接续版本的组合相关联的相位偏移;并且
使用所确定的相位偏移来校正所述相位信息。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,所述投影器要:
通过将所述条纹图案的N个移位版本相继投影到所述场景来照射所述场景,其中所述条纹图案的连续的移位版本之间的相位移位为2π/N,其中N≥3;并且
对于特定的当前捕获图像,分析包括所述当前捕获图像的最近N个图像以获得与所述像素相关联的相位信息。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,所述相机要使用曝光时间来捕获被照射场景的图像,其中,在所述曝光时间的第一分数期间,捕获来自所述条纹图案的第一版本的光,并且在所述曝光时间的第二分数期间,捕获来自相对于第一版本移位了的所述条纹图案的第二版本的光。
4.根据权利要求3所述的装置,其中,所述处理器要使用所述曝光时间的第一分数、所述曝光时间的第二分数以及所述条纹图案的第一和第二版本之间的相位移位来确定所述相位偏移。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,所述条纹图案是周期性的并且包括多个重复的子图案,其中,所述处理器要使用所述场景的深度信息来降低与所述像素相关联的相位信息的模糊性,所述深度信息是使用单独的深度传感器获得的。
6.一种装置,包括:
投影器,其要通过将条纹图案的移位版本投影到场景上来照射所述场景;
相机,其要捕获被照射场景的图像,每个图像包括排列在第一空间方向上的行以及第二空间方向上的列中的像素的不同阵列;
处理器,其要导出所述场景的拓扑信息,其中,为了导出所述场景的拓扑信息,所述处理器要:
分析所捕获的图像以获得与所述像素中的一个相关联的相位信息;以及
使用与所述像素相关联的相位信息在第一空间方向上的偏导数以及与所述像素相关联的相位信息在第二空间方向上的偏导数来估计针对所述像素的表面法线。
7.根据权利要求6所述的装置,其中,所述处理器要通过如下方式来计算与所述像素相关联的相位信息在空间方向上的偏导数:计算与所述像素相关联的相位信息和在所述空间方向上与跟所述像素相邻的另一像素相关联的相位信息之间的差,或者计算与所述像素相关联的相位信息和在所述空间方向上与跟所述像素相邻的另两个像素相关联的相位信息之间的差的平均。
8.根据权利要求6所述的装置,其中,所述处理器要:
使用第一向量和第二向量确定与所述像素相关联的场景的表面块的切向向量,第一向量垂直于照射方向和所投影的条纹方向,第二向量垂直于观察方向和观测到的条纹方向,并且
使用所述切向向量以及第一梯度向量和第二梯度向量的长度的比较来确定所述表面法线,第一梯度向量由在第一和第二空间方向上的所述偏导数来定义,第二梯度向量由所投影的条纹图案的相位...
【专利技术属性】
技术研发人员:S·温克巴赫,
申请(专利权)人:惠普发展公司,有限责任合伙企业,
类型:发明
国别省市:美国;US
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