一种通用的瑕疵图像模拟方法技术

本发明专利技术公开了计算机视觉领域的一种通用的瑕疵图像模拟方法，对无瑕疵样品采集得到无瑕疵样本底图，通通过成像系统对无瑕疵样品外形进行成像，获得无瑕疵底图，然后根据人为经验设计生成一定范式的随机瑕疵形状，分离该瑕疵的形状图，形成分层图，每一层图代表着一种物理结构，无瑕疵样本底图基础上，分别对每一层图进行不同程度的扭曲或者亮度与色彩的调整，模拟出每一层图代表的一种物理结构的成像效果，每一层图进行层次叠加得到模拟的瑕疵图，模拟后的瑕疵图进行对应的标注，仅需要少量无瑕疵样本图即可结合已有经验模拟生成大量瑕疵数据和对应标注结果以供使用。

A general simulation method of defect image

【技术实现步骤摘要】
一种通用的瑕疵图像模拟方法
本专利技术涉及计算机视觉
，具体为一种通用的瑕疵图像模拟方法。
技术介绍
现有的数据增强方法往往基于传统图像算法，对图像进行变形，色相调整等，或对已有的标注瑕疵数据进行传统图像算法处理后再进行叠加。对于数据量不足或标注力量不足的情况下往往不能有很好的效果。此外，也有使用GAN等深度学习方法生成数据的方法，这些方法往往也需要一定量数据集，并且模拟出的效果不能很好的符合真实情况。上述两种方法共同的问题：1、需要一定量有标注的数据集；2、生成的数据集很难覆盖真实情况的全部可能性；3、难以在已有基础上进行新的瑕疵品类扩充与迁移。基于此，本专利技术设计了一种通用的瑕疵图像模拟方法，以解决上述提到的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种通用的瑕疵图像模拟方法，仅需要少量无瑕疵样本图即可结合已有经验模拟生成大量瑕疵数据和对应标注结果以供使用，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种通用的瑕疵图像模拟本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用的瑕疵图像模拟方法，其特征在于：具体包括以下步骤：/nS1：对无瑕疵样品采集得到无瑕疵样本底图；/nS2：通过成像系统对无瑕疵样品外形进行成像，获得无瑕疵底图，若成像精度不足则通过先上采样进行处理后再进行下采样的方式扩充精度；/nS3：然后根据人为经验设计生成一定范式的随机瑕疵形状；/nS4：在生成瑕疵的形状图上，分离该瑕疵的形状图，形成分层图，每一层图代表着一种物理结构；/nS5：将步骤S1中的无瑕疵样本底图基础上，分别对每一层图进行不同程度的扭曲或者亮度与色彩的调整，模拟出每一层图代表的一种物理结构的成像效果；/nS6：将步骤S5经过处理后的每一层图进行层次叠加得到模拟的瑕疵图...

【技术特征摘要】
1.一种通用的瑕疵图像模拟方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
S1：对无瑕疵样品采集得到无瑕疵样本底图；
S2：通过成像系统对无瑕疵样品外形进行成像，获得无瑕疵底图，若成像精度不足则通过先上采样进行处理后再进行下采样的方式扩充精度；
S3：然后根据人为经验设计生成一定范式的随机瑕疵形状；
S4：在生成瑕疵的形状图上，分离该瑕疵的形状图，形成分层图，每一层图代表着一种物理结构；
S5：将步骤S1中的无瑕疵样本底图基础上，分别对每一层图进行不同程度的扭曲或者亮度与色彩的调整，模拟出每一层图代表的一种物理结构的成像效果；
S6：将步骤S5经过处理后的每一层图进行层次叠加得到模拟的瑕疵图；
S7：将步骤S6中模拟后的瑕疵图进行对应的标注。


2.根据权利要求1所述的一种通用的瑕疵图像模拟方法，其特征在于：所述瑕疵为存在与正常区域物理性的差异，物理性的差异包括并不仅...

【专利技术属性】
技术研发人员：张发恩，杨经宇，郝磊，
申请(专利权)人：创新奇智重庆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50