温度校准装置及数字货币矿机制造方法及图纸

本公开涉及一种温度校准装置及数字货币矿机，所述装置包括：运算模块，包括温度检测单元及多个运算单元，所述温度检测单元用于检测所述运算模块的温度及每个运算单元的温度；降温模块，用于对所述运算模块进行降温；控制模块，电连接于所述运算模块及所述降温模块，用于：控制所述每个运算单元在预设时钟频率下工作；控制所述降温模块对所述运算模块进行降温；针对每一运算单元，在所述运算模块的温度及该运算单元的温度满足预设条件时，利用所述运算模块的温度及该运算单元的温度得到该运算单元的校准温度。本公开实施例可以提高温度控制的准确性，从而可以延长运算单元的寿命。

【技术实现步骤摘要】
温度校准装置及数字货币矿机
本公开涉及电子
，尤其涉及一种温度校准装置及数字货币矿机。
技术介绍
随着科技的不断发展，电子设备的计算能力越来越强，在一些电子设备中通常包含上百颗算力芯片，以提高电子设备的算力。在电子设备的温度控制系统中，通常以电子设备的电路板出风口处的算力芯片的温度代表电子设备的整体温度，在相应的温控策略下将电子设备温度调节到目标温度。在电子设备的算力芯片中，可能存在温度校准参数不准的芯片，若该芯片恰好落到了电子设备温度的采样点，可能影响到电子设备的能效比和算力芯片的寿命。因此，确保芯片温度校准的可靠性，对延长算力芯片寿命和提高电子设备能效比至关重要。
技术实现思路
有鉴于此，本公开提出了一种一种温度校准装置，所述装置包括：运算模块，包括温度检测单元及多个运算单元，所述温度检测单元用于检测所述运算模块的温度及每个运算单元的温度；降温模块，用于对所述运算模块进行降温；控制模块，电连接于所述运算模块及所述降温模块，用于：控制所述每个运算单元在预设时钟频率下工作；...

【技术保护点】
1.一种温度校准装置，其特征在于，所述装置包括：/n运算模块，包括温度检测单元及多个运算单元，所述温度检测单元用于检测所述运算模块的温度及每个运算单元的温度；/n降温模块，用于对所述运算模块进行降温；/n控制模块，电连接于所述运算模块及所述降温模块，用于：/n控制所述每个运算单元在预设时钟频率下工作；/n控制所述降温模块对所述运算模块进行降温；/n针对每一运算单元，在所述运算模块的温度及该运算单元的温度满足预设条件时，利用所述运算模块的温度及该运算单元的温度得到该运算单元的校准温度。/n

【技术特征摘要】
1.一种温度校准装置，其特征在于，所述装置包括：
运算模块，包括温度检测单元及多个运算单元，所述温度检测单元用于检测所述运算模块的温度及每个运算单元的温度；
降温模块，用于对所述运算模块进行降温；
控制模块，电连接于所述运算模块及所述降温模块，用于：
控制所述每个运算单元在预设时钟频率下工作；
控制所述降温模块对所述运算模块进行降温；
针对每一运算单元，在所述运算模块的温度及该运算单元的温度满足预设条件时，利用所述运算模块的温度及该运算单元的温度得到该运算单元的校准温度。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设条件包括：
所述运算模块的温度在第一预设时间段内达到稳定状态；以及
该运算单元的温度在第二预设时间段内达到稳定状态。


3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
以第一时长为间隔，在所述第一预设时间段内获取所述运算模块的多个温度；
在所述多个温度相等时，判断所述运算模块的温度在第一预设时间段内达到稳定状态。


4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述控制模块还用于：
以第二时长为间隔，在所述第二预设时间段内获取每个运算单元的多个温度；
在任一运算单元的多个温度相等时，判断该运算单...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯旭，
申请(专利权)人：展讯半导体成都有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51