【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】传感器装置、水分含量测量装置、水分含量测量方法、信息处理装置和信息处理方法
本技术涉及用于测量诸如土壤的介质中的水分含量的传感器装置、水分含量测量装置、水分含量测量方法、信息处理装置和信息处理方法。
技术介绍
已知有时域反射法(TDR)作为用于测量介质中的水分含量的方法。这种方法包括沿着嵌入在介质中的金属探头发射电磁波,并且从基于电磁波的反射响应而测量的相对介电常数来计算介质中的水分含量(例如,参见专利文献1)。引用列表专利文献专利文献1:日本专利申请特开平第H10-90201号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题然而,存在以下问题,其中,由于TDR使用介质中的探头附近的电磁波传播特性来测量相对介电常数,在探头附近产生的间隙对测量具有很大影响,并且因此不可能正确地测量相对介电常数。鉴于上述情况,本技术的目的是提供能够改善介质的相对介电常数测量或介质中的水分含量测量的精度的传感器装置、水分含量测量装置、水分含量测量方法、信息处理装置和信息处理方法。解决技术问题的手段根据本技术的实施方式的传感器装置包括传感器头和测量单元。传感器头包括第一探头和第二探头,第一探头包括用于发射的第一天线部,第二探头包括用于接收的第二天线部,第二探头与第一探头相距特定距离并面对第一探头。测量单元包括生成测量信号的信号生成部,该测量信号包括关于第一天线部与第二天线部之间的介质中的电磁波传播特性的信息。传感器装置获得分别执行电磁波 ...
【技术保护点】
1.一种传感器装置,具有:/n传感器头,所述传感器头具有第一探头和第二探头,所述第一探头具有用于发射的第一天线部,所述第二探头具有以特定距离面对所述第一探头的且用于接收的第二天线部;和/n测量单元,所述测量单元具有生成测量信号的信号生成部,所述测量信号包含关于所述第一天线部与所述第二天线部之间的介质中的电磁波传播特性的信息。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170602 JP 2017-1099171.一种传感器装置,具有:
传感器头,所述传感器头具有第一探头和第二探头,所述第一探头具有用于发射的第一天线部,所述第二探头具有以特定距离面对所述第一探头的且用于接收的第二天线部;和
测量单元,所述测量单元具有生成测量信号的信号生成部,所述测量信号包含关于所述第一天线部与所述第二天线部之间的介质中的电磁波传播特性的信息。
2.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述第一探头和所述第二探头由具有芯线部和屏蔽部的同轴电缆构成,并且
所述第一天线部和所述第二天线部包括设置在所述屏蔽部的一部分中的开口部。
3.根据权利要求2所述的传感器装置,其中
所述第一探头和所述第二探头各自具有电性连接在所述芯线部的末端部与所述屏蔽部之间的末端电阻。
4.根据权利要求2所述的传感器装置,其中
所述传感器头进一步具有电磁波吸收材料,所述电磁波吸收材料设置在所述第一探头和所述第二探头中且覆盖所述开口部周围的所述屏蔽部。
5.根据权利要求4所述的传感器装置,其中
所述电磁波吸收材料包含铁氧体。
6.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述传感器头进一步具有支撑基板,所述支撑基板包括第一臂、第二臂和连接所述第一臂以及所述第二臂的连接部,并且
所述第一探头和所述第二探头由分别设置在所述第一臂和所述第二臂中的带状线构成。
7.根据权利要求6所述的传感器装置,其中
所述测量单元安装在所述连接部上。
8.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述传感器头进一步具有设置在所述第一探头和所述第二探头的至少一个中的、并且被构成为能够检测所述介质的温度的温度检测部。
9.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述传感器头进一步具有设置在所述第一探头和所述第二探头的至少一个中的、并且被构成为能够检测所述介质的电导率的电导率检测部。
10.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述信号生成部具有信号产生器和检波器,所述信号产生器向所述第一探头输入特定频率的脉冲信号,所述检测器对所述第二探头的输出进行正交检波。
11.根据权利要求1所述的传感器装置,其中
所述测量单元进一步具有被构成为能够将所述测量信号向信息处理装置发射的通信部。
12.一种水分含量测量装置,具有:
传感器头,所述传感器头具有第一探头和第二探头,所述第一探头具有用于发射的第一天线部,所述第二探头具有以特定距离面对所述所述第一探头的且用于接收的第二天线部;
生成测量信号的测量单元,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:山田笃,吉満匡平,三田宏幸,饭田幸生,小林诚司,广井聡幸,
申请(专利权)人:索尼公司,索尼半导体解决方案公司,
类型:发明
国别省市:日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。