分光光度计制造技术

本发明专利技术提供一种分光光度计，不必在分光光度计的内部设置较大的空间，能够向被测量位置照射观察光，并且能够容易地知道被测量位置。在分光光度计中，在与被测量位置光学上共轭的位置配置狭缝。来自被测量物体的光通过狭缝，在测量光路上行进，通过波长色散元件进行波长色散。在测量光谱时，使观察光源向测量光路外退避。在观察被测量位置时，观察光源插入测量光路内，向狭缝发出观察光。或者，来自被测量物体的光通过狭缝，通过衍射光栅进行衍射。观察光源配置在0阶光的光路上。在观察被测量位置时，观察光源向衍射光栅发出观察光。

Spectrophotometer

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分光光度计
本专利技术涉及分光光度计。
技术介绍
在测量光谱的分光光度计的被测量范围很小的情况下，即使在被测量位置与目标位置只是稍微偏离时，被测量的光谱与来自目标位置的光的光谱有时也存在很大的变化。因此，在分光光度计的被测量范围很小的情况下，希望在测量前能够观察被测量位置，在测量前能够使被测量位置与目标位置吻合。专利文献1所述的技术是在分光器中能够实现上述愿望的技术的例子。在专利文献1所述的技术中，在注入观察光的情况下，遮光器为关闭状态。另外，LED向遮光器照射观察光，遮光器将照射的观察光向物镜反射，物镜使反射光在被测量物体的表面成像。测量部位根据在被测量物体的表面成像的光的位置进行指定。另外，在进行测量的情况下，遮光器被打开，通过了狭缝镜(スリットミラー)的光被引导向受光部(第0027-0031段)。现有技术文献专利文献专利文献1：(日本)特开2009-288150号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题在专利文献1记载的技术所代表的现有技术中，为了将用于向测量位置照射观察光的机构收纳在分光光度计的内部，必须在分光光度计的内部设置较大的空间。例如，在专利文献1记载的技术中，为了将狭缝镜等收纳在分光器的内部，必须在分光器的内部设置较大的空间。如下说明的专利技术以解决该问题为目的。如下说明的专利技术所要解决的技术问题为，不必在分光光度计的内部设置较大的空间，能够向被测量位置照射观察光，并能够容易地知道被测量位置。用于解决技术问题的技术方案如下说明的专利技术涉及分光光度计。(1)在如下说明的第一专利技术中，来自被测量位置的被测量光利用受光光学系统而成像。由此，生成成像的被测量光。成像的被测量光通过在与被测量位置共轭的位置配置的狭缝。由此，生成在测量光路上行进的被测量光。在测量光路上行进的被测量光由波长色散元件进行波长色散。由此，生成进行了波长色散的光。传感器接收进行了波长色散的光，并输出表示光谱的信号。插拔机构在观察被测量位置时，在测量光路内插入观察光源，在测量光谱时，使观察光源向测量光路外退避。观察光源在观察被测量位置时，向狭缝发出观察光。(2)在如下说明的第二专利技术中，来自被测量位置的被测量光利用受光光学系统成像。由此，生成成像的被测量光。成像的被测量光通过狭缝。由此，生成在测量光路上行进的被测量光。在测量光路上行进的被测量光利用衍射光栅进行衍射。由此，生成衍射光。另外，在测量光路上行进的被测量光利用衍射光栅进行反射。由此，生成0阶光。传感器接受衍射光，并输出表示光谱的信号。观察光源配置在0阶光的光路上，在观察被测量位置时，向衍射光栅发出观察光。专利技术效果根据如下说明的专利技术，不必在分光光度计的内部设置较大的空间，能够向被测量位置照射观察光，并能够容易地知道被测量位置。本专利技术的目的、特征、方面、以及优点通过下面的详细说明与附图将变得更为清楚。附图说明图1是图示第一实施方式的分光光度计的示意图。图2是图示第一实施方式的分光光度计所具有的分光器的剖面的示意图。图3是图示第一实施方式的分光光度计所具有的分光器及观察光源的驱动机构的部分剖面的示意图。图4是图示可置换第一实施方式的分光光度计所具有的观察光源的观察光源的示意图。图5是图示第二实施方式的分光光度计的示意图。图6是图示第二实施方式的分光光度计的衍射光栅的配置的立体图。图7是与第二实施方式的分光光度计的衍射光栅的配置进行比对的衍射光栅的配置的立体图。具体实施方式1第一实施方式1.1分光光度计图1是图示第一实施方式的分光光度计的示意图。图2是图示第一实施方式的分光光度计所具有的分光器的剖面的示意图。图3是图示第一实施方式的分光光度计所具有的分光器及观察光源的驱动机构的部分剖面的示意图。图2对图3的A-A切割线的位置的剖面进行图示。图3对图2的B-B切割线的部分剖面进行图示。图1所图示的分光光度计1000具有：照明光学系统1020、受光光学系统1021、分光器1022、控制器1023、以及操作部1024。分光光度计1000也可以具有上述结构部件以外的结构部件。分光光度计1000是具有d：8几何形状的物体颜色的分光光度计。因此，在分光光度计1000中，照明光学系统1020通过漫射光对样品进行照明。另外，受光光学系统1021接受从样品向与其表面的法线方向形成8°的方向射出的被测量光，并向分光器1022进行引导。另外，分光器1022对由受光光学系统1021引导的被测量光的光谱进行测量。照明光学系统1020具有照明光源1040以及积分球1041。照明光学系统1020也可以具有上述结构部件以外的结构部件。受光光学系统1021具有受光透镜1060。受光光学系统1021也可以具有受光透镜1060以外的结构部件。如图1、图2及图3所示，分光器1022具有：狭缝板1080、透镜1081、衍射光栅1082、线传感器1083、观察光源1084以及插拔机构1085。分光器1022也可以具有上述结构部件以外的结构部件。在狭缝板1080形成有狭缝1100。板状的狭缝形成体即狭缝板1080也可以置换为非板状的狭缝形成体。衍射光栅1082也可以置换为衍射光栅1082以外的波长色散元件。例如，衍射光栅1082也可以置换为棱镜。具有在波长色散方向上排列的多个光电转换元件的线传感器1083也可以置换为线传感器1083以外的传感器。例如，线传感器1083也可以置换为具有一个光电转换元件的传感器。在该情况下，设有在波长色散方向上扫描该传感器的扫描机构。或者设有在波长色散方向上旋转扫描所述波长色散元件的扫描机构。1.2光谱的测量响应于控制器1023检测出相对于操作部1024进行的、指示开始测量的操作，来开始光谱的测量。测量开始的触发也可以为相对于操作部1024进行的、指示开始测量的操作以外的其它操作。例如，测量开始的触发也可以是从与分光光度计1000可通信连接的设备输入的、指示开始测量的信号。在测量光谱时，插拔机构1085依照基于控制器1023的控制，使观察光源1084向测量光路1120外退避。观察光源1084的退避是通过旋转机构1090使安装有观察光源1084的臂部1091围绕旋转中心1092旋转来进行。另外，在测量光谱时，照明光源1040依照基于控制器1023的控制，发出用于对样品进行照明的照明光。发出的照明光经由在积分球1041的侧面形成的开口1140，向在积分球1041的内部形成的空间1160入射，由围绕空间1160的漫反射面1180进行多重漫反射。由此，照明光成为均匀的漫射照明光。成为均匀的漫射照明光的照明光从在积分球1041形成的测量开口1200射出，对与测量开口1200对置的区域进行照明，由配置在被测量位置1220的样品的表面进行反射。由此，生成来自被测量位置122本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分光光度计，具有：/n受光光学系统，其使来自被测量位置的被测量光成像，生成成像的被测量光；/n狭缝形成体，其形成狭缝，所述狭缝配置在与所述被测量位置在光学上共轭的位置，使所述成像的被测量光通过，生成在测量光路上行进的被测量光；/n波长色散元件，其对在所述测量光路上行进的被测量光进行波长色散，生成进行了波长色散的被测量光；/n传感器，其接受进行了所述波长色散的被测量光，输出表示光谱的信号；/n观察光源，其在观察所述被测量位置时发出观察光；/n插拔机构，其在观察所述被测量位置时向所述测量光路内插入所述观察光源以朝向所述狭缝发出所述观察光，并且在测量所述光谱时使所述观察光源向所述测量光路外退避。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170601 JP 2017-1091771.一种分光光度计，具有：
受光光学系统，其使来自被测量位置的被测量光成像，生成成像的被测量光；
狭缝形成体，其形成狭缝，所述狭缝配置在与所述被测量位置在光学上共轭的位置，使所述成像的被测量光通过，生成在测量光路上行进的被测量光；
波长色散元件，其对在所述测量光路上行进的被测量光进行波长色散，生成进行了波长色散的被测量光；
传感器，其接受进行了所述波长色散的被测量光，输出表示光谱的信号；
观察光源，其在观察所述被测量位置时发出观察光；
插拔机构，其在观察所述被测量位置时向所述测量光路内插入所述观察光源以朝向所述狭缝发出所述观察光，并且在测量所述光谱时使所述观察光源向所述测量光路外退避。


2.一种分光光度计，具有：
受光光学系统，其使来自被测量位置的被测量光成像，生成成像的被测量光；
狭缝形成体，其形成狭缝，所述狭缝使所述成像的被测量光通过，生成在测量光路上行进的被测量光；
衍射光栅，其对在所述测量光路上行进的被测量光进行衍射，生成衍射光；
传感器，其接受所述衍射光，并且输出表示光谱的信号；
观察光源，其配置在所述衍射光之内、0阶光的光路上，...

【专利技术属性】
技术研发人员：川崎贵志，藤井秀彦，鹤谷克敏，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP