【技术实现步骤摘要】
根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质
本申请涉及产品生产测试
,特别是涉及一种根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
很多产品例如手机在生产测试过程中,需要测试非常多的内容,某一测试工位将需要测试的内容和项目配置在配置文件中,除非人为手动更改,否则该工位的测试模式一直保持不变;即使某一测试项不良率极低,低到该项就算是不测,同样满足品质要求。但是现有技术不能自动识别出该项是否可以取消。那么该测试项一直进行测试,如此一来时间耗费在这样的测试项上,品质过剩,测试效率低下。如果需要调整、删除该目标测试项目,则需要人工统计数据进行判断,并且手动修改测试项,非常复杂而且效率低下。
技术实现思路
本申请主要解决的技术问题是提供一种根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质,根据获得产品的不良率动态自动调整测试策略,操作简单,有利于提高产线测试效率。为了解决上述问题,本申请第一方面提供了一种根据不良率调整测试策略的方法,包括:获取目标测试项目的测 ...
【技术保护点】
1.一种根据不良率调整测试策略的方法,其特征在于,包括:/n获取目标测试项目的测试数据;/n根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率;/n将统计出的不良率与第一预设阈值进行比较,得出比较结果;/n根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。/n
【技术特征摘要】
1.一种根据不良率调整测试策略的方法,其特征在于,包括:
获取目标测试项目的测试数据;
根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率;
将统计出的不良率与第一预设阈值进行比较,得出比较结果;
根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将统计出的不良率与第一预设阈值进行比较的步骤之前还包括:
判断当前测试策略的类型;
若当前测试策略的类型为抽测,则执行将统计出的不良率与第一预设阈值进行比较的步骤;
所述根据比较结果调整测试策略的步骤具体包括:
判断所述统计出的不良率是否在预设第一区间或者预设第二区间,其中所述预设第一区间为小于或者等于第一预设阈值且大于或者等于第二预设阈值的不良率所在的区间,所述预设第二区间为大于第一预设阈值且小于或者等于第三预设阈值的不良率所在的区间;
如果为是,则判断所述统计出的不良率所在的梯度范围;
调整当前的抽测比率至所述统计出的不良率所在的梯度范围所对应的抽测比率;
其中所述第二预设阈值小于所述第一预设阈值,所述第一预设阈值小于所述第三预设阈值。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述判断所述统计出的不良率所在的梯度范围的步骤之前还包括:
预先将位于第一区间的不良率和位于第二区间的不良率划分成多个梯度范围,每个梯度范围对应设置一个预设抽测比率。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述预先将位于第一区间的不良率和位于第二区间的不良率划分成多个梯度范围,每个梯度范围对应设置一个预设抽测比率的步骤包括:
预先将位于第一区间的不良率划分成多个梯度范围;
每个梯度范围对应设置一个预设抽测比率,其中所述预设抽测比率从第二预设阈值开始呈递减趋势;
和/或者
预先将位于第二区间的不良率划分成多个梯度范围;
每个梯度范围对应设置一个预设抽测比率,所述预设抽测比率从第二预设阈值开始呈递增趋势。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述判断所述统计出的不良率是否在预设第一区间...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘振腾,
申请(专利权)人:OPPO重庆智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:重庆;50
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