磁场测量装置及磁场测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种利用ODMR准确地测量低频的交流磁场的磁场测量装置及磁场测量方法；线圈(2)对被配置于被测量交流磁场内的光探测磁共振部件(1)外加微波的磁场；高频电源(3)使微波的电流导通于线圈(2)；照射装置(4)对光探测磁共振部件(1)照射光；受光装置(5)探测从光探测磁共振部件(1)发出的光；而且，测量控制部(21)执行相对于被测量交流磁场的规定相位的规定的直流磁场测量序列，在该直流磁场测量序列中，对高频电源(3)以及照射装置(4)进行控制，确定由受光装置(5)探测出的光的探测光量；磁场运算部(22)根据该规定相位以及探测光量，对被测量交流磁场的强度进行运算。

Magnetic field measuring device and method

【技术实现步骤摘要】
磁场测量装置及磁场测量方法
本专利技术涉及一种磁场测量装置及磁场测量方法。
技术介绍
有的磁测量装置以利用了电子自旋共振的光探测磁共振(ODMR：OpticallyDetectedMagneticResonance)进行磁测量(例如参照专利文献1)。在ODMR中，通过对具有次能级的能级和光学跃迁能级的介质照射高频磁场(微波)和光，以分别用于次能级间的激发和光跃迁间的激发，从而利用光信号以高灵敏度检测由次能级间的磁共振引起的占有数的变化等。通常，基态的电子以绿色光激发后，在返回基态时发出红色光。另一方面，例如，金刚石结构中的氮空位中心(NVC：NitrogenVacancyCenter)中的电子，利用2.87GHz左右的高频磁场的照射，通过光激发而初始化后，从基态中的三个次能级中的最低能级(ms＝0)跃迁至基态中的比其高的能量轨道的能级(ms＝±1)。当该状态的电子以绿色光激发时，为了在无辐射下返回基态中的三个次能级中的最低能级(ms＝0)而发光量减少，通过该光探测，能够获知是否因高频磁场引起了磁共振。在ODMR中，使用如上的NVC这样的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁场测量装置，其特征在于，/n具备：光探测磁共振部件、线圈、高频电源、照射装置、受光装置、测量控制部以及磁场运算部，/n所述光探测磁共振部件配置于被测量交流磁场内，/n所述线圈对所述光探测磁共振部件外加微波的磁场，/n所述高频电源使所述微波的电流导通于所述线圈，/n所述照射装置对所述光探测磁共振部件照射光，/n所述受光装置探测从所述光探测磁共振部件发出的光，/n所述测量控制部执行相对于所述被测量交流磁场的规定相位的规定的直流磁场测量序列，在所述直流磁场测量序列中，对所述高频电源以及所述照射装置进行控制，确定由所述受光装置探测出的所述光的探测光量，/n所述磁场运算部根据所述规定相位以及所...

【技术特征摘要】
20180703 JP 2018-1265411.一种磁场测量装置，其特征在于，
具备：光探测磁共振部件、线圈、高频电源、照射装置、受光装置、测量控制部以及磁场运算部，
所述光探测磁共振部件配置于被测量交流磁场内，
所述线圈对所述光探测磁共振部件外加微波的磁场，
所述高频电源使所述微波的电流导通于所述线圈，
所述照射装置对所述光探测磁共振部件照射光，
所述受光装置探测从所述光探测磁共振部件发出的光，
所述测量控制部执行相对于所述被测量交流磁场的规定相位的规定的直流磁场测量序列，在所述直流磁场测量序列中，对所述高频电源以及所述照射装置进行控制，确定由所述受光装置探测出的所述光的探测光量，
所述磁场运算部根据所述规定相位以及所述探测光量，对所述被测量交流磁场的强度进行运算。


2.根据权利要求1所述的磁场测量装置，其特征在于，
所述测量控制部执行下述处理：(a)执行相对于所述被测量交流磁场的规定第一相位的所述直流磁场测量序列，(b)执行相对于所述被测量交流磁场的规定第二相位的所述直流磁场测量序列；
所述磁场运算部从所述第一相位、所述第二相位、以及所述第一相位及...

【专利技术属性】
技术研发人员：芳井义治，水落宪和，
申请(专利权)人：胜美达集团株式会社，国立大学法人京都大学，
类型：发明
国别省市：日本;JP