【技术实现步骤摘要】
一种控制与保护开关电器的热记忆试验测试装置（一）
本技术涉及电器测试
，特别涉及一种控制与保护开关电器的热记忆试验测试装置。（二）
技术介绍
控制与保护开关电器广泛应用在低压配电终端领域，为电路提供保护和控制功能，也可实现附加功能，如隔离功能。该类产品国家标准：GB14048.9《低压开关设备和控制设备第6-2部分：多功能电器（设备）控制与保护开关电器（设备）（CPS）》，目前现行有效的国家标准版本是GB/T14048.9-2008。在该标准8.2.1.5.1.2条款中规定了热记忆试验，该试验涉及热平衡、中断电流以及脱扣验证三个阶段。控制与保护开关电器需要进行热记忆试验的目的，是为了验证控制与保护开关电器在发生过载情况下的产品性能。热记忆试验时模拟双金属片的热效应特性，将线路发热能量进行累加计算，避免在未达到长延时过载脱扣的情况下反复的过载引起导体发热。控制与保护开关电器上的智能控制器断电再上电，积累热效应全部清除。热记忆试验具有测试参数多、阶段衔接复杂等特点，试验人员需要组合不同的测试设备，来完场对上述三个阶...
【技术保护点】
1.一种控制与保护开关电器的热记忆试验测试装置，包括并联连接断路器Ⅰ（2）和断路器Ⅱ（5）的控制与保护开关电器（3），其特征在于：所述控制与保护开关电器（3）、断路器Ⅰ（2）与恒流源Ⅰ（1）串联形成热平衡回路，控制与保护开关电器（3）、断路器Ⅱ（5）、电流累时器（10）与恒流源Ⅱ（4）串联形成脱扣回路；断路器Ⅰ（2）的欠压电磁线圈进线端和断路器Ⅱ（5）的闭合电磁线圈进线端并联连接电源（8），且断路器Ⅰ（2）的欠压电磁线圈出线端连接双延时时间继电器（7）的常闭触点进线端，断路器Ⅱ（5）的闭合电磁线圈出线端连接双延时时间继电器（7）的常开触点进线端，双延时时间继电器（7）的常闭...
【技术特征摘要】
1.一种控制与保护开关电器的热记忆试验测试装置，包括并联连接断路器Ⅰ（2）和断路器Ⅱ（5）的控制与保护开关电器（3），其特征在于：所述控制与保护开关电器（3）、断路器Ⅰ（2）与恒流源Ⅰ（1）串联形成热平衡回路，控制与保护开关电器（3）、断路器Ⅱ（5）、电流累时器（10）与恒流源Ⅱ（4）串联形成脱扣回路；断路器Ⅰ（2）的欠压电磁线圈进线端和断路器Ⅱ（5）的闭合电磁线圈进线端并联连接电源（8），且断路器Ⅰ（2）的欠压电磁线圈出线端连接双延时时间继电器（7）的常闭触点进线端，断路器Ⅱ（5）的闭合电磁线圈出线端连接双延时时间继电器（7）的常开触点进线端，双延时时间继电器（7）的常闭触点出线端和常开触点出线端分别连接电源（8）的两端，电源（8）与双延时时间继电器（7）的工作线圈经导线连接；双延时时间继电器（7）的触发信号端子经导线连接运算放大器（9）的输出端子，运算放大器（9）的输入端子经导线连接热电偶（6）的输出端子，热电偶（6）的检测端粘贴在控制与保护开关电器（3）的接线端子上。
2.根据权利要求1所述的控制与保护开关电器的热记忆试验测试装置，其特征在于：所述断路器Ⅰ（2）为具欠压电磁线圈断路器，断...
【专利技术属性】
技术研发人员：张建成，赵毅，周俊刚，梁伟伟，刘通，
申请(专利权)人：山东省产品质量检验研究院，
类型：新型
国别省市：山东;37
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