降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置制造方法及图纸

技术编号:23050793 阅读:36 留言:0更新日期:2020-01-07 14:53
本实用新型专利技术公开了一种降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置,所述装置包括遮罩系统、升降系统和支架系统,遮罩系统由内壁、外壳、底部密封圈、猫眼窥视窗和窥视窗保护盖构成;升降系统由齿轮、齿条、箱体、24V直流电机、开关按钮、主控板、驱动板和限位开关构成;支架系统由底座、底座圆形平台、圆形凹槽、定位卡槽、电源插孔、网线出线孔、网线出线孔保护盖、减震器、定位孔、PT100温度传感器、LED显示屏、蜂鸣器、AT89S51单片机和支撑主体构成。本实用新型专利技术很好地降低了红外热成像检测时周围环境干扰和被检测构件表面发射率对检测结果的影响,保证了红外热成像检测结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置
本技术属于红外热波无损检测
,涉及一种降低红外热成像检测时周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置。
技术介绍
红外热成像检测技术是一种多学科交叉、多领域应用的新型无损检测技术。红外热成像检测技术的研究,对航空航天、石油化工、电力、建筑、机械、轨道交通和新能源等领域都具有重要意义。红外热成像检测技术的基本原理是,由于被检测物体本身存在不连续性缺陷,对热传递性能产生影响,使得被检测物体表面产生温度差,进而导致被检测物体表面的红外辐射能力产生差异,利用红外热像仪对被检测物体的辐射分布进行探测,通过采集的热像图序列就可得到被检测物体内部缺陷特征信息。但在进行检测时,周围环境中的热量、光照、电磁辐射等干扰因素以及被测构件的表面发射率,使得红外热成像检测结果受到了一定程度的影响。所以,设计一种能够降低红外热成像检测时周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置是有必要的。但是,现有的装置无法同时做到降低红外热成像检测时周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响,难以保证红外热成像检测结果的可靠性。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置,其特征在于所述装置包括遮罩系统、升降系统和支架系统,其中:/n所述遮罩系统由内壁、外壳、底部密封圈、猫眼窥视窗和窥视窗保护盖构成,其主体形状为半球形,底面设置有底部密封圈;/n所述猫眼窥视窗配有窥视窗保护盖,猫眼窥视窗由凹透镜和凸透镜组成,凹透镜安装在内壁上,凸透镜安装在外壳上;/n所述升降系统由齿轮、齿条、箱体、直流电机、开关按钮、主控板、驱动板和限位开关构成;/n所述箱体上设置有开关按钮,箱体的上顶面中心和下底面中心位置设置有限位孔,箱体的内部设置有齿轮、直流电机、主控板、驱动板;/n所述齿条的上下两端分别装有限位开关,齿条的上端依...

【技术特征摘要】
1.一种降低周围环境干扰和被检测构件表面发射率影响的装置,其特征在于所述装置包括遮罩系统、升降系统和支架系统,其中:
所述遮罩系统由内壁、外壳、底部密封圈、猫眼窥视窗和窥视窗保护盖构成,其主体形状为半球形,底面设置有底部密封圈;
所述猫眼窥视窗配有窥视窗保护盖,猫眼窥视窗由凹透镜和凸透镜组成,凹透镜安装在内壁上,凸透镜安装在外壳上;
所述升降系统由齿轮、齿条、箱体、直流电机、开关按钮、主控板、驱动板和限位开关构成;
所述箱体上设置有开关按钮,箱体的上顶面中心和下底面中心位置设置有限位孔,箱体的内部设置有齿轮、直流电机、主控板、驱动板;
所述齿条的上下两端分别装有限位开关,齿条的上端依次穿过箱体下底面和上顶面的限位孔,下端底部与遮罩系统的最顶端中心固连;
所述齿轮和齿条相互啮合,齿轮和直流电机连接;
所述支架系统由底座、底座圆形平台、圆形凹槽、定位卡槽、电源插孔、网线出线孔、网线出线孔保护盖、减震器、定位孔、温度传感器、LED显示屏、蜂鸣器、单片机和支撑主体构成;
所述底座的上表面设置有底座圆形平台;
所述底座圆形平台的外侧开有形状与底部密封圈完全吻合的圆形凹槽,底座圆形平台上开有定位卡槽、电源插孔、网线出线孔;
所述底座和箱体之间设置有支撑主体;
所述温度传感器、LED显示屏、蜂鸣器和单片机构成温度显示高温报警自动断电装置,温度传感器用于测试遮罩系统内部空间温度,LED显示屏用于实时显示温度,单片机用于控制蜂鸣器发出高温警报并自动切断电源。


2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘元林杜永志张阳
申请(专利权)人:黑龙江科技大学
类型:新型
国别省市:黑龙;23

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