用于测试轮胎的方法技术

本发明专利技术披露了一种用于对组装在轮辋上的轮胎进行测试的方法，其中，所述轮胎以其滚动表面搁置在接触区域上并且由此发生局部变形，并且其中，所述轮胎的胎侧在测量区域中通过光学测量方法被捕获。所述方法的特征在于，所述测量区域相对于所述接触区域以这样的方式被安排成使得在所述测量区域中通过所述光学测量方法捕获到的所述轮胎的胎侧由于所述轮胎搁置在所述接触区域上而发生局部变形。

Methods used to test tyres

【技术实现步骤摘要】
用于测试轮胎的方法
本专利技术涉及一种用于对组装在轮辋上的轮胎进行测试的方法，其中所述轮胎以其滚动表面搁置在接触区域上并且由此发生局部变形，并且其中所述轮胎的胎侧在测量区域中通过光学测量方法被捕获。
技术介绍
DE102009008468A1中已经披露了此类方法。在此，第一次测量轮胎的表面，通过产生作用在轮胎上的离心力和/或压力使轮胎暴露于机械载荷下，并且第二次测量轮胎的表面。从这两次测量中确定由机械载荷引起的轮胎的形状变化。这应允许识别由于机械载荷而产生的结构损坏。在DE102009008468A1中，将待测试轮胎可旋转地安装在测试台上，并且通过其上搁置所述轮胎的辊而被加载压力。此外，提供了三个测量装置，这些测量装置在远离辊的区域中测量轮胎。US3,589,182A和US3,640,132A各自披露了一种测试台，在该测试台上轮胎搁置在辊上以用于目视测试在施加载荷情况下发生的损坏，并且在轮胎旋转的同时由辊对所述轮胎施加载荷。然而，上述方法只能捕获由载荷引起的损坏。因此，上述方法需要对轮胎施加相当大的载荷，载荷可以用于模拟轮胎使用寿命内的载荷或在极端情形下轮胎上的载荷。因此，上述方法仅适合于在抽查时测试试样的材料。DE102004062412B4披露了一种用于捕获旋转轮胎的表面的方法。DE19730787A1披露了一种用于确定被安排在轮胎的胎面上的轮廓要素的移动的方法，其中穿过被安排在轮胎搁置在其上的滚筒的圆周中的狭缝用光照射胎面，通过光的反射来确定轮廓要素的位置。DE19731486A1披露了一种方法，其中测试可旋转地安装在测试台上的轮胎。为此，通过干涉法在轮胎压力的两个不同压力水平下分段测量轮胎的表面。这应使得能够识别轮胎内部的缺陷。文件DE102004050355A1披露了一种用于测试轮胎表面的方法，其中产生对投影到轮胎上的图案的第一记录，轮胎围绕其轴线旋转并且对投影到轮胎上的图案作出另一记录，其中将这两个记录相互进行比较。这也应使得能够识别轮胎内部的缺陷。然而，迄今为止，从现有技术已知的方法不允许对组装在轮辋上的轮胎进行足够可靠的测试。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种用于测试组装在轮辋上的轮胎的改进方法。此目的是通过根据本专利技术的独立权利要求所述的方法来实现的。本专利技术的优选配置是从属权利要求的主题。在第一方面，本专利技术包括一种用于对组装在轮辋上的轮胎进行测试的方法，其中所述轮胎以其滚动表面搁置在接触区域上并且由此导致所述轮胎局部变形，并且其中所述轮胎的胎侧在测量区域中通过光学测量方法被捕获。所述方法的特征在于，所述测量区域相对于所述接触区域以这样的方式被安排成使得在所述测量区域中通过所述光学测量方法捕获到的所述轮胎的胎侧由于所述轮胎搁置在所述接触区域上而发生局部变形。本申请的专利技术人认识到，通过测量区域中的轮胎的胎侧的变形可以比在胎侧的未变形区域中进行测量(其用于根据现有技术的测量)的情况更好地识别误差。因此，测量区域相对于接触区域以这样的方式被安排使得胎侧在测量区域中发生变形，所述变形由当前在接触区域中作用的压力引起。作为轮胎故障的结果，由于胎侧与无故障胎侧不同地变形，所以可以识别这样的故障。测量区域优选地覆盖轮胎的胎侧的与接触区域相邻的区域。特别地，测量区域可以覆盖轮胎的胎侧的在高度方向上被安排在接触区域与轮胎的轮辋之间的区域。在此，高度方向应理解为是指由接触区域的中心点与轮胎的轴线之间的连接线限定的方向。测量区域可以相对于接触区域被居中地安排，或者测量区域可以覆盖相对于接触区域向前或向后移位的区域。在本专利技术的可能配置中，轮胎的内部结构的缺陷是通过借助光学测量方法捕获胎侧来捕获的。轮胎的内部结构的这种缺陷会影响在测量区域中轮胎的变形，借助于所述变形可以识别所述缺陷。在本专利技术的可能配置中，轮胎的胎侧的内部结构的缺陷可以通过光学测量方法来捕获。然而，由于位于测量区域之外的缺陷也会影响在测量区域中轮胎的变形并且因此可以间接地捕获缺陷，所以所捕获的缺陷不一定位于测量区域中。在本专利技术的可能配置中，轮胎的胎面的内部结构的缺陷可以通过光学测量方法来捕获。这是因为甚至这样的缺陷也会影响胎侧的变形。在本专利技术的可能配置中，缺陷是通过数字图像评估来捕获的。优选地，通过将通过光学测量方法记录到的测量图像与参考图像进行比较来捕获缺陷。在本专利技术的可能配置中，参考图像可以再现轮胎的胎侧的无缺陷区域的变形。在本专利技术的可能配置中，参考图像是通过对无缺陷轮胎进行测量而产生的。然而，这要求无缺陷轮胎在与待测试轮胎完全相同的条件下进行测试。在本专利技术的可能配置中，基于待测试轮胎的一个或多个测量图像来产生参考图像。测量图像以及产生参考图像所基于的所述一个或多个测量图像优选地是在相同条件下记录的，特别是在轮胎压力相同、轮胎的旋转速度相同(其也可以等于零)、以及接触区域中的接触压力相同的情况下记录的。相应测量图像优选地示出相对于接触区域的相同测量区域、并且尤其可以在用于光学捕获的测量头相对于接触区域的位置不变的情况下被记录。然而，相应测量图像优选地示出轮胎的侧面的不同区域。如果使用多个测量图像，则这些图像优选地用于确定轮胎的无故障区域的变形，然后将所述变形用作参考图像。举例来说，参考图像可以通过对待测试轮胎的胎侧的多个区域上进行平均来实现。可替代地，参考图像可以通过使用相对于测量图像在空间上移位的图像产生的。这可以借助于本身在空间上被移位并且用作参考图像的测量图像或借助于在轮胎位置修改情况下捕获到的参考图像来实现。通过将这样的参考图像与测量图像进行比较来显现结果图像，所述结果图像再现了表面变形的空间导数并且呈现轮胎结构的可见故障。特别地，在这方面可以使用从DE102004050355A1中已知的方法，区别在于，根据本专利技术，在胎侧的变形区域中进行测量。此外，可以记录在轮胎的捕获表面区域方面部分重叠的多个测量图像，使得在所述多个测量图像中轮胎的某一点在各自情况下被安排在测量区域的不同部分中。优选地，轮胎在两个测量图像之间向前旋转的角度是由测量区域覆盖的角度范围的至少百分之一并且优选地十分之一。因此，存在于轮胎的特定点处的故障位于轮胎表面的在这些不同测量图像中在各自情况下不同程度变形的区域中，并且因此故障在各自情况下对轮胎表面的形状具有不同的影响。结果是，可以以改进的方式捕获轮胎的有缺陷点。在本专利技术的可能配置中，轮胎的胎侧的三维表面形状是通过光学测量方法来捕获的。特别地，轮胎的胎侧的三维表面形状可以通过记录并评估投影到胎侧上的图案来实现。由相机直接捕获的图像(必要时其通过图像处理而进行数字后处理)可以用作本专利技术意义内的测量图像和/或参考图像。然而，基于对一个或多个直接捕获的图像的评估的任何数据记录(例如再现测量区域中轮胎的胎侧的三维表面的数据记录)也可以被认为是本专利技术意义内的测量图像和/或参考图像。在本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于对组装在轮辋上的轮胎进行测试的方法，其中，所述轮胎以其滚动表面搁置在接触区域上并且由此发生局部变形，并且其中，所述轮胎的胎侧在测量区域中通过光学测量方法被捕获，/n其特征在于，/n所述测量区域相对于所述接触区域以这样的方式被安排成使得在所述测量区域中通过所述光学测量方法捕获到的所述轮胎的胎侧由于所述轮胎搁置在所述接触区域上而发生局部变形。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于对组装在轮辋上的轮胎进行测试的方法，其中，所述轮胎以其滚动表面搁置在接触区域上并且由此发生局部变形，并且其中，所述轮胎的胎侧在测量区域中通过光学测量方法被捕获，
其特征在于，
所述测量区域相对于所述接触区域以这样的方式被安排成使得在所述测量区域中通过所述光学测量方法捕获到的所述轮胎的胎侧由于所述轮胎搁置在所述接触区域上而发生局部变形。


2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量区域覆盖所述轮胎的胎侧的与所述接触区域相邻的区域、特别是所述轮胎的胎侧的在高度方向上被安排在所述接触区域与所述轮胎的轮辋之间的区域。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，通过借助所述光学测量方法捕获所述胎侧来捕获所述轮胎的内部结构的缺陷，其中，特别是通过将通过所述光学测量方法记录到的测量图像与参考图像进行对比来捕获缺陷。


4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述参考图像是通过测量无缺陷轮胎产生的，或者其中，所述参考图像是基于所述待测试轮胎的一个或多个图像产生的、特别是通过对所述待测试轮胎的胎侧的多个区域进行平均或通过使用相对于所述测量图像在空间上移位的测量图像来产生的。


5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述光学测量方法捕获所述轮胎的胎侧的三维表面形状，和/或其中，所述光学测量方法是通过包括投影仪和至少一个相机的光学测量头来实现的，其中，所述光学测量方法优选地基于光学三角测量或光学相关进行操作，和/或其中，所述测量头优选地具有从不同方向指向所述测量区域的多个相机。


6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述轮胎围绕其轴线旋转以捕获其胎侧的多个区域。


7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，当所述轮胎旋转时实施所述测量，使得在所述测量区域中所述轮胎的胎侧的变形包括动态变形，其中，优选地使用脉冲光源以便投影到所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙君立，孙旭，
申请(专利权)人：卡尔蔡司光电科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE