光测定装置、导管套组及光测定方法制造方法及图纸

技术编号:23028139 阅读:33 留言:0更新日期:2020-01-03 18:02
本发明专利技术的光测定装置(1)测定自内置光纤(33)的导管(31)的导管前端部(31a)出射的激光(L)的强度。光测定装置(1)具备:受光部(6),其接收自导管前端部(31a)出射的激光(L);及安装部(7),其配置于面对受光部(6)的位置。安装部(7)相对于受光部(6)规定收纳有导管(31)的管状环箍(36)的位置。光测定装置(1)于环箍(36)的位置已通过安装部(7)规定的状态下,通过将激光(L)入射至受光部(6)而获得激光(L)的强度。

Light measuring device, catheter set and light measuring method

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光测定装置、导管套组及光测定方法
本专利技术关于测定自内置光纤的导管套组出射的光的强度的光测定装置、光测定方法、及应用于该等装置及方法的导管套组。
技术介绍
内置光纤的导管利用于患者的诊断及治疗等。例如,专利文献1揭示血栓溶解疗法。将导管使用于血栓溶解疗法的情形时,首先,将导管插入患者的体内。其后,经由导管对患部照射激光。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利第4409499号公报专利文献2:日本实公平6-42182号公报专利文献3:日本特开平8-262278号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的问题导管在使用时插入体内。因此,插入体内时需要充分灭菌。因此,保管时及输送时,为保持洁净度而将导管收纳于称为环箍的管状收纳具。因此,为保持导管的洁净度,较佳为直至即将使用前将导管预先收纳于环箍内。专利文献1揭示的方法中,较佳为对患部照射具有预先规定的强度的激光。因此,如专利文献2、3所揭示,在即将开始治疗前进行光强度的确认作业。因此,本专利技术的目的在于提供一种维持导管的洁净度,且可容易进行光强度的确认作业的光测定装置、导管套组及光测定方法。[解决问题的技术手段]本专利技术的一形态为测定自内置光纤的导管的导管前端部出射的光的强度的光测定装置,其具备:受光部,其接收自导管前端部出射的光;及安装部,其配置于与受光部面对的位置,安装部相对于受光部规定收纳导管的管状环箍的位置,在环箍的位置已通过安装部规定的状态下,通过将光入射至受光部而获得光的强度。该装置中,安装部规定环箍相对于受光部的位置。因此,无需为了测定光的强度,而自环箍取出导管。其结果,由于可在将导管收纳于环箍的状态下测定光的强度,故可维持导管的洁净度。再者,无需自环箍取出导管。其结果,可简化测定所需要的工序。因此,根据该装置,可维持导管的洁净度,且容易进行光强度的确认作业。一形态的光测定装置进而具备将环箍配置于安装部的第1配接器,环箍具有供导管前端部配置并包含开口的环箍前端部,第1配接器也可具有触碰环箍前端部的第1触碰部。根据该构成,光经由环箍前端部的开口向受光部出射。其结果,自导管前端部出射的光不衰减地直接入射至受光部。因此,可获得精度较佳的光的强度。一形态的光测定装置进而具备盖,其安装于环箍;及第2配接器,其将安装有盖的环箍配置于安装部,环箍具有供导管前端部配置并且包含开口的环箍前端部,盖安装于环箍前端部,盖具有包含封闭开口并且使自光纤出射的光透过的透过窗部的盖前端部,第2配接器也可具有触碰盖前端部的第2触碰部。根据该构成,在导管前端部与受光部之间,配置具有透过窗部的盖。透过窗部封闭环箍前端部的开口。因此,可保护导管前端部。本专利技术的其他形态的导管套组具备:具有光纤的导管;及收纳导管的导管收纳具,导管具有出射在光纤传播的光的导管前端部,导管收纳具具有:管状的环箍;及保持导管相对于环箍的位置的导管保持部,环箍包含:供导管前端部配置并包含开口的环箍前端部;及与环箍前端部为相反侧的环箍基端部,导管保持部安装于环箍基端部。在导管套组中,通过导管保持部保持导管相对于环箍的位置。根据该构成,测定光的强度时,可抑制导管前端部至受光部的距离产生偏差。其他形态的导管套组中,导管保持部也可以在环箍的延伸方向,使导管前端部与环箍前端部一致的方式,保持导管的位置相对于环箍的位置。根据该构成,若规定环箍前端部的位置,则规定导管前端部的位置。因此,可更抑制导管前端部至受光部的距离产生偏差。其他形态的导管套组也可进而具备封闭部,其安装于环箍前端部,封闭环箍前端部的开口。根据该构成,可保护导管前端部。其他形态的导管套组也可进而具备位置调整机构,其设置于环箍基端部,变更导管前端部在环箍的延伸方向相对于环箍前端部的位置。根据该构成,保管时及测定时可变更导管前端部的位置。即,保管时,可将导管前端部配置于相对于环箍前端部的里侧,故可保护导管前端部。再者,测定时可使导管前端部与环箍前端部的位置一致。其结果,可抑制导管前端部至受光部的距离产生偏差。本专利技术的进而其他方式为使用光测定装置,测定自具有内置光纤的套管与收纳套管的环箍的导管套组出射的光的强度的光测定方法,光测定装置具备受光部,其接收自导管出射的光;及安装部,其配置于与受光部面对的位置,且相对于受光部规定收纳导管的管状环箍的位置,具有:以自导管出射的光入射至受光部的方式,将环箍配置于安装部的工序;及通过自光纤出射光,获得入射至受光部的光的强度的工序。该方法中,将环箍配置于安装部的工序中,规定环箍相对于受光部的位置。因此,无须为了测定光的强度,而自环箍取出导管。其结果,获得光的强度的工序中,可于将导管收纳于环箍的状态下,测定光的强度。因此,可维持导管的洁净度。再者,无需自环箍取出导管。其结果,可简化测定所需要的工序。因此,根据该方法,可维持导管的洁净度,且容易进行光强度的确认作业。[专利技术的效果]根据本专利技术,提供一种可维持导管的洁净度,且容易进行光强度的确认作业的光测定装置、导管套组及光测定方法。附图说明图1是显示第1实施方式的光测定装置的构成的图。图2是将图1所示的配接器及导管套组的构成放大显示的剖视图。图3(a)、(b)是用以说明位置调整机构的动作的剖视图。图4是显示第1实施方式的光测定方法的主要工序的流程图。图5(a)~(c)是用以说明图4所示的主要工序的图。图6(a)、(b)是用以说明继图5所示的工序后的主要工序的图。图7(a)、(b)是用以说明继图6所示的工序后的主要工序的图。图8是显示第2实施方式的光测定装置的构成的图。图9是显示第2实施方式的光测定方法的主要工序的流程图。图10(a)~(c)是用以说明图9所示的主要工序的图。图11(a)、(b)是用以说明继图10所示的工序后的主要工序的图。图12(a)、(b)是用以说明继图11所示的工序后的主要工序的图。图13是显示第3实施方式的光测定装置的构成的图。图14是将图13所示的配接器及导管套组的构成放大显示的剖视图。图15是显示第3实施方式的光测定方法的主要工序的流程图。图16(a)~(c)是用以说明图15所示的主要工序的图。图17(a)、(b)是用以说明继图16所示的工序后的主要工序的图。图18(a)、(b)是用以说明继图17所示的工序后的主要工序的图。图19(a)~(c)是显示变化例1、2、3的导管套组的剖面的立体图。图20(a)~(c)是显示变化例4、5、6的导管套组的剖面的立体图。图21(a)、(b)是显示变化例7的导管套组的剖面的侧视图。图22(a)、(b)是显示变化例8的导管套组的剖面的俯视图。图23(a)~(c)是显示变化例9、10、11的导管套组的剖面的侧视图。图24(a)~(c)是显示变化例12、13的导管套组的剖面的立体图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光测定装置,其特征在于,/n是测定自内置光纤的导管的导管前端部出射的光的强度的光测定装置,其包含:/n受光部,其接收自所述导管前端部出射的所述光;及/n安装部,其配置于面对所述受光部的位置,/n所述安装部相对于所述受光部规定收纳所述导管的管状的环箍的位置,/n在所述环箍的位置已通过所述安装部规定的状态下,通过将所述光入射至所述受光部而获得所述光的强度。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170515 JP 2017-0965271.一种光测定装置,其特征在于,
是测定自内置光纤的导管的导管前端部出射的光的强度的光测定装置,其包含:
受光部,其接收自所述导管前端部出射的所述光;及
安装部,其配置于面对所述受光部的位置,
所述安装部相对于所述受光部规定收纳所述导管的管状的环箍的位置,
在所述环箍的位置已通过所述安装部规定的状态下,通过将所述光入射至所述受光部而获得所述光的强度。


2.如权利要求1所述的光测定装置,其中,
进一步包含第1配接器,其将所述环箍配置于所述安装部,
所述环箍包含环箍前端部,其供所述导管前端部配置且包含开口,
所述第1配接器包含触碰所述环箍前端部的第1触碰部。


3.如权利要求1所述的光测定装置,其中,
进一步包含:
盖,其安装于所述环箍;及
第2配接器,其将安装有所述盖的所述环箍配置于所述安装部,
所述环箍包含环箍前端部,其供所述导管前端部配置且包含开口,
所述盖安装于所述环箍前端部,
所述盖包含盖前端部,其包含封闭所述开口且使自所述光纤出射的所述光透过的透过窗部,
所述第2配接器包含触碰所述盖前端部的第2触碰部。


4.一种导管套组,其特征在于,
包含:
导管,其包含光纤;及
导管收纳具,其收纳所述导管,
所述导管包含导管前端部,其出射在...

【专利技术属性】
技术研发人员:高田洋平清水良幸小杉壮冈田裕之
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1