双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置，该装置包括相干光源、干涉光路、第一光电探测器、第二光电探测器、采集卡和上位机，本实用新型专利技术通过干涉光路中的电子快门将整个测试过程分为周期的曝光过程与采集过程，曝光时双光束干涉光路中的两个光束均同时照射在体全息材料表面，采集时双光束干涉光路中只有一束光照射在体全息材料表面，光电探测器进行数据采集。本实用新型专利技术采用了与曝光过程中入射光束完全一致的入射光进行衍射测试，因此总能保证Bragg角度高精度匹配，不会受到安装不一致、材料收缩等因素的影响。由于测量所使用波长与记录波长一致，因此整个过程中只需要一台激光器，不需要探测波长避开吸收光谱区。

【技术实现步骤摘要】
双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置
本技术涉及体全息材料领域，尤其涉及双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置。
技术介绍
体全息技术被视为下一代只读存储技术的候选技术之一，已经得到科研以及大型企业的密切关注。体全息技术的实现离不开高性能体全息图存储介质，世界各国均在对高性能体全息存储介质进行研究开发。体全息存储介质的研究开发过程中需要对体全息存储介质的灵敏度进行测量，现有方案通常都采用双波长进行体全息存储介质灵敏度实时测量，其方法为采用波长1进行干涉记录，采用波长2进行衍射光强探测，通过测量波长2的衍射效率来判断存储介质的灵敏度高低，该方法面临了如下问题：(1)当存储介质存在一定收缩时，实时测量过程中探测光会因为收缩而无法动态保证Bragg角度匹配，进而影响测量结果；(2)每一次重新安装存储介质的同时，受安装过程的细微误差，也会影响到Bragg角度匹配，进而影响测量结果；(3)当切换存储介质种类时，存储介质的吸收谱需要进行测定并选择新的波长2以便避开存储介质的高吸收光谱区，进而导致激光器的大量投入。...

【技术保护点】
1.一种双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置，其特征在于，包括相干光源、干涉光路、第一光电探测器、第二光电探测器、采集卡和上位机，其中：/n相干光源，用于提供具有一定相干性的相干光；/n干涉光路，将相干光源提供的相干光分成两束，再使这两束相干光在体全息材料所处位置发生干涉；/n第一光电探测器和第二光电探测器，用于对干涉光路中干涉后的光束进行强度探测；/n采集卡，用于采集第一光电探测器和第二光电探测器输出的电压信号并转换成数字信号；/n上位机，用于处理和存储采集卡得到的数字信号；/n所述干涉光路包括第一电子快门、第一半波片、偏振分光棱镜、第二电子快门和第二半波片，所述第一电子快门、第一半...

【技术特征摘要】
1.一种双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置，其特征在于，包括相干光源、干涉光路、第一光电探测器、第二光电探测器、采集卡和上位机，其中：
相干光源，用于提供具有一定相干性的相干光；
干涉光路，将相干光源提供的相干光分成两束，再使这两束相干光在体全息材料所处位置发生干涉；
第一光电探测器和第二光电探测器，用于对干涉光路中干涉后的光束进行强度探测；
采集卡，用于采集第一光电探测器和第二光电探测器输出的电压信号并转换成数字信号；
上位机，用于处理和存储采集卡得到的数字信号；
所述干涉光路包括第一电子快门、第一半波片、偏振分光棱镜、第二电子快门和第二半波片，所述第一电子快门、第一半波片、偏振分光棱镜分别依次设置，所述第二电子快门和第二半波片分别设置于偏振分光棱镜的两个分光方向；
所述相干光源提供的相干光依次通过第一电子快门、第一半波片和偏振分光棱镜后被分为两束，其中一束通过第二电子快门后照射到体全息材料上，另一束通过第二半波片后照射体全息材料上，然后两束相干光分别由...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵宇，李泽仁，刘振清，蒙建华，赵榆霞，叶雁，李军，李生福，朱建华，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院流体物理研究所，
类型：新型
国别省市：四川;51