散射射线滤波器、X射线探测器和X射线设备制造技术

本实用新型专利技术涉及散射射线滤波器、X射线探测器和X射线设备。散射射线滤波器包括：多个滤波壁，被定向成基本上平行于第一空间方向且在横向于第一空间方向的滤波面中呈格栅状彼此交叉布置，使得在交叉的滤波壁之间形成在第一空间方向上呈细长状延伸的辐射通道，滤波面被由布置在外侧的滤波壁形成的外壁限定；一定数量的参考元件，在垂直于第一空间方向的第二和/或第三空间方向上分别具有支承面以用于散射射线滤波器的定向，其中参考元件布置在滤波面的内部并布置为与在滤波面的方向上延伸的盖平面齐平或者沿第一空间方向向散射射线滤波器中缩进，支承面构造在滤波壁之一处，滤波壁通过免后处理的成型方法在第一空间方向上被至少分层地构造为一体。

Scatter filter, X-ray detector and X-ray equipment

【技术实现步骤摘要】
散射射线滤波器、X射线探测器和X射线设备
本技术涉及一种用于X射线探测器的散射射线滤波器，该X射线探测器被设计和设置用于X射线设备中。此外，本技术还涉及一种具有这样的散射射线滤波器的X射线探测器，以及具有这样的X射线探测器的X射线设备。
技术介绍
X射线成像设备(简称：X射线设备)通常具有X射线源和X射线辐射探测器(简称：X射线探测器)，它们彼此对置布置。在X射线设备的运行中，借助于X射线探测器检测由X射线源发射并且可能被测量对象(例如患者)部分减弱的X射线辐射。在此，X射线探测器被设置用于输出与入射的X射线辐射强度相对应的(测量)信号。在此，X射线探测器特别地具有大量像点(也称为“像素”)，这些像点用于对入射的X射线辐射的强度分布进行平面分辨率检测。在此，X射线探测器可选地被细分为多个探测器元件，这些探测器元件分别包括大量像素。由此，通过探测器元件的相应的串联(“平铺”)，也可以以简单方式来构造面积大并且弯曲的X射线探测器，例如用于计算机断层扫描。在X射线设备的运行中，由X射线源发射的X射线不仅被测量对象不同程度地减弱，而且还部分地与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种散射射线滤波器(20)，用于X射线设备(1)的X射线探测器(4)，其特征在于，所述散射射线滤波器(20)包括：/n-多个滤波壁(24、26)，被定向成基本上平行于第一空间方向(z)，并且在横向于所述第一空间方向(z)的一个滤波面(28)中呈格栅状彼此交叉布置，使得在交叉的所述多个滤波壁(24、26)之间形成多个辐射通道(22)，所述多个辐射通道(22)在所述第一空间方向(z)上呈细长状延伸，其中所述滤波面(28)被多个外壁(30)限定，所述多个外壁(30)由布置在外侧的多个滤波壁(24、26)形成，/n-一定数量的参考元件(38)，在垂直于所述第一空间方向(z)的第二空间方向和/或第三...

【技术特征摘要】
20180117 DE 202018000265.81.一种散射射线滤波器(20)，用于X射线设备(1)的X射线探测器(4)，其特征在于，所述散射射线滤波器(20)包括：
-多个滤波壁(24、26)，被定向成基本上平行于第一空间方向(z)，并且在横向于所述第一空间方向(z)的一个滤波面(28)中呈格栅状彼此交叉布置，使得在交叉的所述多个滤波壁(24、26)之间形成多个辐射通道(22)，所述多个辐射通道(22)在所述第一空间方向(z)上呈细长状延伸，其中所述滤波面(28)被多个外壁(30)限定，所述多个外壁(30)由布置在外侧的多个滤波壁(24、26)形成，
-一定数量的参考元件(38)，在垂直于所述第一空间方向(z)的第二空间方向和/或第三空间方向(x、y)上分别具有一个支承面(40)，以用于所述散射射线滤波器(20)的定向，其中所述参考元件(38)或相应的参考元件(38)布置在所述滤波面(28)的内部，并且其中所述参考元件(38)或相应的参考元件(38)布置为与在所述滤波面(28)的方向上延伸的盖平面齐平，或者布置为沿所述第一空间方向(z)向所述散射射线滤波器(20)中缩进，并且其中所述支承面(40)或相应的支承面(40)被构造在所述多个滤波壁(24、26)中的一个滤波壁处，
其中所述多个滤波壁(24、26)通过免后处理的成型方法而在所述第一空间方向(z)上被至少分层地构造为一体。


2.根据权利要求1所述的散射射线滤波器(20)，
其特征在于，所述支承面(40)或相应的支承面(40)在所述第二空间方向或第三空间方向(x、...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·弗罗因德，B·雷茨，J·弗雷格，
申请(专利权)人：西门子医疗有限公司，
类型：新型
国别省市：德国;DE