一种雷达物位计制造技术

本实用新型专利技术提供了一种雷达物位计，包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩，所述电路板的下板面上安装有辐射元件，所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件，所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔，其中，所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套，所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外，且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔，所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。本实用新型专利技术提供的雷达物位计，利用吸波片来吸收向四周泄露的电磁波，避免对测量结果造成影响，对测量的盲区有改善。

A radar level meter

【技术实现步骤摘要】
一种雷达物位计
本技术涉及物位计领域，特别是一种雷达物位计。
技术介绍
现有的雷达物位计，在测量使用时，电磁波信号在传播过程中会产生泄露，尤其是在两个部件的连接部位处传播时会产生泄露，泄露的电磁波会对测量信号造成干扰，影响雷达物位计的测量精度。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术实施例提供了一种雷达物位计，其通过设置吸波片来吸收泄露的电磁波，避免了泄露的电磁波对测量信号造成干扰，提高了雷达物位计的测量精度，改善了测量盲区。为了达到本技术的目的，本技术采取的技术方案如下：本技术实施例提供了一种雷达物位计，包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩，所述电路板的下板面上安装有辐射元件，所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件，所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔，其中，所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套，所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外，且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔，所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。本技术实施例提供的雷达物位计中，绝缘套的伸入屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，辐射元件的纵向投影位于吸波片的空腔内，使得辐射元件发射的电磁波信号可穿过吸波片的空腔沿纵向方向传播，而向四周泄露的电磁波可被吸波片吸收，防止泄露的电磁波对雷达物位计的测量造成影响，对测量的盲区有改善。本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述。附图说明附图用来提供对本技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本技术的技术方案，并不构成对本技术技术方案的限制。图1为根据本技术第一个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图；图2为图1所示的雷达物位计的分解结构示意图；图3为图1所示的雷达物位计中第一隔离片的结构示意图；图4为根据本技术第二个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图；图5为图4所示的雷达物位计的分解结构示意图；图6为根据本技术第三个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图；图7为根据本技术第四个实施例所述的雷达物位计的剖视结构示意图。附图标记：1-电路板，2-辐射元件，3-屏蔽罩，31-通孔，4-绝缘套，41-上端壁，411-环形凹槽，5-导波装置，51-波导转换段，52-波导段，53-喇叭段，6-第一吸波片，61-避让槽，7-第二吸波片，8-第三吸波片，9-密封圈。具体实施方式下文中将结合附图对本技术的实施例进行详细说明。在本技术中的描述中，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为：以辐射元件发射的电磁波信号的传输方向为“下”，以相反的方向为“上”，如图1所示。本技术的实施例提供了一种雷达物位计，如图1和图2所示，包括导波装置5、电路板1、上端开口的屏蔽罩3和下端开口的绝缘套4。其中，导波装置5内形成有沿纵向设置的导波通道。电路板1的下板面上安装有辐射元件2，屏蔽罩3固定至电路板1的下方并罩住辐射元件2，屏蔽罩3上设有与辐射元件2的位置纵向对应的通孔31。绝缘套4套设在导波装置5的上部部分外，且绝缘套4的上部部分穿过屏蔽罩3的通孔31，绝缘套4的伸入屏蔽罩3内的上部部分上固定有环形的吸波片，辐射元件2的纵向投影位于吸波片的空腔内。本技术实施例提供的雷达物位计中，绝缘套4的伸入屏蔽罩3内的上部部分上固定有环形的吸波片，辐射元件2的纵向投影位于吸波片的空腔内，即辐射元件2的位置与吸波片的空腔纵向对应，使得辐射元件2发射的电磁波信号可穿过吸波片的空腔沿纵向方向传播，而向四周泄露的电磁波可被吸波片吸收，防止泄露的电磁波对雷达物位计的测量造成影响，对测量的盲区有改善。可选地，如图1和图2所示，吸波片包括设置于绝缘套4的上端壁41的上表面和电路板1的下板面之间的第一吸波片6，第一吸波片6套设在辐射元件2外。第一吸波片6套设在辐射元件2外，使向下辐射的电磁波能够穿过第一吸波片6的空腔向下传导，进行物位测量。第一吸波片6还可吸收辐射元件2向四周泄露的电磁波，避免向四周泄露的电磁波对雷达物位计的测量造成影响。可选地，如图2和图3所示，第一吸波片6上设有沿径向方向延伸的避让槽61，避让槽61可避让与辐射元件2连接的导线。可选地，如图1所示，绝缘套4的上端壁41的上表面上设有环形凹槽411，第一吸波片6的下部部分位于环形凹槽411内，第一吸波片6的上部部分凸出于环形凹槽411并与电路板1的下板面接触。第一吸波片6的下端面与环形凹槽411的底壁接触，上端面与电路板1的下板面接触，这样第一吸波片6可将电路板1的下板面与绝缘套4的上端壁41之间的间隙填充，减少从电路板1的下板面与绝缘套4的上端壁41之间泄露的电磁波。可选地，第一吸波片6固定在绝缘套4的上端壁41的上表面上或电路板1的下板面上。其中，第一吸波片6可通过粘接固定在绝缘套4的上端壁41的上表面上或电路板1的下板面上。当然，第一吸波片6还可以通过其他方式进行固定，如夹紧固定在绝缘套4的上端壁41和电路板1的下板面之间。可选地，如图4-图5所示，吸波片包括设置于绝缘套4的上端壁41的下表面和导波装置5的上端面之间的第二吸波片7。第二吸波片7既允许穿过绝缘套4的上端壁41的电磁波透过空腔后进入导波装置5的导波通道内，同时，还避免穿过绝缘套4的上端壁41的电磁波向四周泄露。可选地，第二吸波片7固定于绝缘套4的上端壁41的下表面上或导波装置5的上端面上。其中，第二吸波片7可通过粘接固定在绝缘套4的上端壁41的下表面上或导波装置5的上端面上。当然，第二吸波片7还可以通过其他方式进行固定，如夹紧固定在绝缘套4的上端壁41和导波装置5的上端面之间。可选地，如图6或图7所示，吸波片包括套设在绝缘套4的上部部分外的第三吸波片8，第三吸波片8位于屏蔽罩3内。第三吸波片8可以吸收在电磁波穿过绝缘套4的上端壁41时向四周泄露的电磁波。可选地，第三吸波片8固定在屏蔽罩3的内壁面上。其中，第三吸波片8可通过粘接固定在屏蔽罩3的内壁面上。可选地，如图1所示，导波装置5内的导波通道包括：波导转换段51、波导段52和喇叭段53。其中，波导转换段51和波导段52均呈圆柱形，但波导转换段51的内径大于波导段52的内径，波导转换段51和波导段52通过锥形的连接段连接。喇叭段53呈锥形，且其内径沿从上至下的方向逐渐增大。可选地，如图1所示，导波装置5与绝缘套4之间设有密封圈9。图1-图2示出的雷达物位计中，仅设置有第一吸波片6；图4-图5示出的雷达物位计中，仅设置有第二吸波片7；图6示出的雷达物位计中，设置有第一吸波片6和第三吸波片8；图7示出的雷达物位计中，设置有第二吸波片7和第三吸波片8。应当理解，雷达物位计中，也可以仅设置第三本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达物位计，包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩，所述电路板的下板面上安装有辐射元件，所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件，所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔，其特征在于：所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套，所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外，且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔，所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达物位计，包括导波装置、电路板和上端开口的屏蔽罩，所述电路板的下板面上安装有辐射元件，所述屏蔽罩固定至所述电路板的下方并罩住所述辐射元件，所述屏蔽罩上设有与所述辐射元件的位置纵向对应的通孔，其特征在于：所述雷达物位计还包括下端开口的绝缘套，所述绝缘套套设在所述导波装置的上部部分外，且所述绝缘套的上部部分穿过所述通孔，所述绝缘套的伸入所述屏蔽罩内的上部部分上固定有环形的吸波片，所述辐射元件的纵向投影位于所述吸波片的空腔内。


2.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于：所述吸波片包括设置于所述绝缘套的上端壁的上表面和所述电路板的下板面之间的第一吸波片，所述第一吸波片套设在所述辐射元件外。


3.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于：所述第一吸波片上设有沿径向方向延伸的避让槽。


4.根据权利要求2所述的雷达物位计，其特征在于：所述绝缘套的上端壁的上表面上设有环形凹槽，所述第一吸波片的下部部分位于所述环形凹槽内，所述第一吸波...

【专利技术属性】
技术研发人员：周雷，
申请(专利权)人：北京古大仪表有限公司，周雷，
类型：新型
国别省市：北京;11