【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于制造器件的量测传感器、光刻设备和方法相关申请的交叉引用本申请要求于2017年5月15日提交的欧洲申请No.17171103.9的优先权,通过引用将所述申请的全文并入本文。
本专利技术涉及用于可用在例如利用光刻技术进行的器件的制造中的方法和设备,以及涉及使用光刻技术来制造器件的方法。本专利技术更特别地涉及量测传感器,并且更具体地,涉及用于确定衬底上的标记的位置的位置传感器和方法。
技术介绍
光刻设备是一种将期望的图案施加到衬底(通常是在衬底的目标部分上)上的机器。例如,光刻设备可以被用在集成电路(IC)的制造中。在这种情况下,可以用可替代地称为掩模或掩模版的图案形成装置产生要在IC的单层上形成的电路图案。可以将所述图案转印到衬底(例如硅晶片)上的目标部分(例如包括管芯的一部分、一个或几个管芯)上。典型地,通过成像进行图案到设置在衬底上的辐射敏感材料(抗蚀剂)层上的转印。通常,单个衬底将包含被连续图案化或形成图案的相邻目标部分的网络。这些目标部分通常被称为“场”。在复杂的器件的制造中,典型地执行许多光刻图案化或图案形成步骤,从而在在衬底上的连续层中形成功能特征。因此,光刻设备的性能的重要方面是相对于在先前的层中(通过相同的设备或不同的光刻设备)设置的特征正确地且准确地放置被施加的图案的能力。为此目的,衬底设置有一组或更多组对准标记。每个标记是这样的结构:其位置可以稍后利用位置传感器(典型地,光学位置传感器)被测量。光刻设备包括一个或更多个对准传感器,通过所述对准传感器可以准确地测量衬底上的标记 ...
【技术保护点】
1.一种量测传感器设备,包括:/n照射系统,该照射系统能够操作以用照射辐射照射衬底上的量测标记;/n光学收集系统,该光学收集系统配置成在由所述量测标记散射所述照射辐射之后收集散射辐射;和/n依赖于波长的空间滤光器,该依赖于波长的空间滤光器用于在空间上过滤所述散射辐射,所述依赖于波长的空间滤光器具有依赖于所述散射辐射的波长的空间轮廓。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170515 EP 17171103.91.一种量测传感器设备,包括:
照射系统,该照射系统能够操作以用照射辐射照射衬底上的量测标记;
光学收集系统,该光学收集系统配置成在由所述量测标记散射所述照射辐射之后收集散射辐射;和
依赖于波长的空间滤光器,该依赖于波长的空间滤光器用于在空间上过滤所述散射辐射,所述依赖于波长的空间滤光器具有依赖于所述散射辐射的波长的空间轮廓。
2.根据权利要求1所述的量测传感器设备,其中,所述依赖于波长的空间滤光器包括遮蔽件,所述遮蔽件用于阻挡所述散射辐射的零衍射阶,其中所述遮蔽件的有效尺寸取决于所述散射辐射的波长。
3.根据权利要求2所述的量测传感器设备,其中,所述遮蔽件的用于第一波长范围内的散射辐射的有效尺寸比用于第二波长范围内的散射辐射的有效尺寸大。
4.根据任一前述权利要求所述的量测传感器设备,其中,所述依赖于波长的空间滤光器包括至少一个第一滤光器和至少一个第二滤光器,所述第一滤光器能够操作以实质上透射所述第一波长范围内的散射辐射且实质上阻挡所述第二波长范围内的散射辐射,所述第二滤光器能够操作以实质上阻挡至少在所述第一波长范围和所述第二波长范围内的散射辐射。
5.根据权利要求4所述的量测传感器设备,其中,所述第一滤光器和所述第二滤光器在光学上被对准,并且所述第一滤光器和所述第二滤光器的组合限定用于所述第一波长范围内的散射辐射的第一空间轮廓和用于所述第二波长范围内的散射辐射的第二空间轮廓。
6.根据权利要求4或5所述的量测传感器设备,其中所述第一滤光器包括二向色滤光器。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的量测传感器设备,其中,所述量测传感器设备至少能够在利用所述第一波长范围内的照射辐射的第一操作阶段和利用所述第二波长范围的照射辐射的第二操作阶段操作。
8.根据权利要求7所述的量测传感器设备,其中,所述第一操作阶段包括在第一量测标记上执行的粗定位阶段,并且所述第二操作阶段包括在第二量测标记上执行的精定位阶段,所述第一量测标记的节距大于所述第二量测标记的节距。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的量测传感器设备,其中,所述第二滤光器包括用于透射所述散射辐射的非零衍射阶的一个或更多个孔,并且所述第一滤光器与所述一个或更多个孔中的每个孔的内部部分在光学上被对准。
10.根据权利要求1至8中任一项所述的量测传感器设备,其中,所述第二滤光器包括用于将所述照射辐射引导到所述量测标记上的点反射镜。
11.根据任一前述权利要求所述的量测传感器设备,其中:
所述照射辐射包括第一偏振态;
所述量测标记包括主结构并且能够操作以相对于所述第一偏振态改变所述散射辐射的主要由所述主结构散射得到的第一部分的偏振态和主要由除所述主结构之外的一个或更多个特征散射得到的辐射的第二部分的偏振态中的至少一...
【专利技术属性】
技术研发人员:塞巴斯蒂安努斯·阿德里安努斯·古德恩,J·A·G·阿克曼斯,S·R·胡伊斯曼,T·M·T·A·M·埃拉扎里,
申请(专利权)人:ASML荷兰有限公司,ASML控股股份有限公司,
类型:发明
国别省市:荷兰;NL
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