检测线路受损的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种检测线路受损的方法和装置，检测线路受损的方法包括设置待测线路的充电时间为第一预设时间；对待测线路进行充电，并检测待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；将第一充电电压与参考电压进行比较，若第一充电电压与参考电压的差值大于预设差值，则判断待测线路受损。上述的检测线路受损的方法和装置，待测线路的充电时间可以根据实际需要进行设计，并且可以根据触控面板的品质要求，设置预设差值，从而能够根据品质要求检测出不符合要求的受损线路。

【技术实现步骤摘要】
检测线路受损的方法和装置
本专利技术涉及检测
，特别涉及一种检测线路受损的方法和装置。
技术介绍
随着电子产品设计的发展日渐趋向使用者导向，基于用户便利性操作的考虑，应用触控面板的产品已逐渐成为市场上的主流，例如智能手机或平板电脑，因此触控面板已成为这些产品中重要且不可或缺的部分。目前，对触控面板线路的测试，通常是检测线路充电至临界电压时的充电时间，通过充电时间判断线路是否受损，但若线路的受损较小，此方法容易出现误判。
技术实现思路
基于此，有必要针对当触控面板线路的受损较小，现有的检测方法容易出现误判的问题，提供一种检测线路受损的方法和装置。一种检测线路受损的方法，包括：设置待测线路的充电时间为第一预设时间；对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。在其中一个实施例中，所述设置待测线路的充电时间为第一预设时间具体包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测线路受损的方法，其特征在于，包括：/n设置待测线路的充电时间为第一预设时间；/n对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；/n将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测线路受损的方法，其特征在于，包括：
设置待测线路的充电时间为第一预设时间；
对所述待测线路进行充电，并检测所述待测线路的充电时间达到第一预设时间时的第一充电电压；
将所述第一充电电压与参考电压进行比较，若所述第一充电电压与所述参考电压的差值大于预设差值，则判断所述待测线路受损。


2.根据权利要求1所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述设置待测线路的充电时间为第一预设时间具体包括：
对参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路进行充电；
检测所述参考线路及与所述参考线路的阻抗值相差预设阻抗值的多个线路分别在多个不同第二预设时间的第二充电电压；
根据所述多个第二充电电压设置其中一个第二预设时间为第一预设时间。


3.根据权利要求1所述的检测线路受损的方法，其特征在于，获取所述参考电压的步骤包括：
对参考线路进行充电；
所述参考线路的充电时间为第一预设时间时的充电电压作为参考电压。


4.根据权利要求2或3所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述参考线路与所述待测线路的尺寸和材质相同。


5.根据权利要求2或3所述的检测线路受损的方法，其特征在于，所述参考线路为未受损线路。


6.一种检测线路受损的装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：萧清波，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，业成光电深圳有限公司，英特盛科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51