一种静力学参数触探探头制造技术

本发明专利技术公开了一种静力学参数触探探头，其属于海洋地质探测技术领域，包括侧摩筒、设置于侧摩筒一端的锥尖和设置于侧摩筒另一端的基座，还包括测量体，测量体位于侧摩筒内，测量体的一端与侧摩筒固定连接，另一端与锥尖固定连接，测量体的中间部位与基座固定连接，通过测量体的形变量能够单独获得侧摩阻力和锥尖阻力。由于测量体的中间部位与基座固定连接，使得侧摩阻力与锥尖阻力能够独立测量、互不影响。通过一个测量体即可完成低量程的侧摩阻力和高量程的锥尖阻力的测量，在实现一个部件两种量程测量的同时，减少零部件数量，提高装配效率和装配精度，减少密封位置，保证密封性和稳定性，提高测量准确性。

A probe for probing static parameters

【技术实现步骤摘要】
一种静力学参数触探探头
本专利技术涉及海洋地质探测
，尤其涉及一种静力学参数触探探头。
技术介绍
静力触探技术是岩土工程及工程地质中沉积物力学参数测量中较为可靠的一种原位测试技术，在工程勘查中广泛使用。通过静力触探可以获取沉积物力学性质。静力触探的基本原理是用准静力(相对动力触探而言，没有或很少冲击荷载)将一个内部装有传感器的探头以匀速压入土中，由于地层中各种土的软硬不同，探头所受的阻力也不同，传感器将这种大小不同的贯入阻力通过电信号输入到记录仪表中记录下来，再通过贯入阻力与土的工程地质特征之间的定性关系和统计相关关系，来实现取得土层剖面、提供浅基承载力、选择桩端持力层和预估单桩承载力等工程地质勘察目的。由于触探探头在使用的过程中需要测量侧摩阻力、锥尖阻力、孔隙水压力等多个参数，其内部的零部件众多，装配难度大且精度不易保证，导致探头的稳定性和密封性较差，进而影响测量结果的准确性。现有的一体成型的测力元件，虽然能够同时测得侧摩阻力和锥尖阻力，但是在进行侧摩阻力测量时，测得的侧摩阻力包括了锥尖阻力，使得侧摩阻力的测量量程增大，精度降低，测量结果准确性降低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种静力学参数触探探头，以解决现有技术中存在的装配难度大、稳定性差、密封性差的技术问题。如上构思，本专利技术所采用的技术方案是：一种静力学参数触探探头，包括侧摩筒、设置于所述侧摩筒一端的锥尖和设置于所述侧摩筒另一端的基座，还包括：测量体，位于所述侧摩筒内，所述测量体的一端与所述侧摩筒固定连接，所述测量体的另一端与所述锥尖固定连接，所述测量体的中间部位与所述基座固定连接，通过所述测量体的形变量能够单独获得侧摩阻力和锥尖阻力。其中，所述测量体的内部中空形成容置空间，所述测量体的中间部位于内壁上设置有第一螺纹部，所述基座与所述第一螺纹部固定连接。其中，所述基座包括支撑部和伸长部，所述支撑部与所述侧摩筒连接，所述伸长部伸入所述容置空间内并与所述螺纹部固定连接。其中，所述测量体的一端于内壁上设置有第二螺纹部，所述锥尖与所述第二螺纹部固定连接。其中，所述容置空间的端部形成安装腔，所述安装腔内设置有压力传感器，所述压力传感器与所述锥尖之间间隔设置。其中，所述测量体的外壁上开设有与所述容置空间连通的通孔。其中，所述测量体的一端于所述测量体的外壁上设置有凸起部，所述凸起部与所述侧摩筒固定连接。其中，所述测量体包括一体成型的第一支撑体和第二支撑体，所述第一支撑体和所述第二支撑体的连接处与所述基座固定连接，所述第一支撑体上设置有第一应变片，所述第二支撑体上设置有第二应变片。其中，所述锥尖的端部设置有透水石，所述透水石的外径与所述侧摩筒的外径相等。其中，所述锥尖为分体结构，所述锥尖的中间部位设置有透水石。本专利技术的有益效果：本专利技术提出的静力学参数触探探头，由于测量体的一端与侧摩筒固定连接，使得侧摩筒受到的侧摩阻力能够传递至测量体，由于测量体的另一端与锥尖固定连接，使得锥尖受到的锥尖阻力能够传递至测量体，由于测量体的中间部位与基座固定连接，侧摩阻力导致的形变量在测量体的一端到中间部位之间，锥尖阻力导致的形变量在测量体的另一端到中间部位之间，使得侧摩阻力与锥尖阻力能够独立测量、互不影响。通过一个测量体即可完成低量程的侧摩阻力和高量程的锥尖阻力的测量，在实现一个部件两种量程测量的同时，减少零部件数量，提高装配效率和装配精度，减少密封位置，保证密封性和稳定性，提高测量结果的准确性。附图说明图1是本专利技术实施例一提供的静力学参数触探探头的示意图；图2是本专利技术实施例一提供的静力学参数触探探头的测量体的示意图；图3是本专利技术实施例二提供的静力学参数触探探头的示意图；图4是图3的部分示意图。图中：1、侧摩筒；2、锥尖；21、透水孔；22、第一部分；23、第二部分；3、基座；31、支撑部；32、伸长部；4、测量体；41、第一支撑体；42、第二支撑体；43、凸起部；44、第一螺纹部；45、通孔；46、第二螺纹部；47、安装腔；5、压力传感器；6、水密插头；7、透水石；8、挡环。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。实施例一参见图1和图2，本专利技术实施例提供一种静力学参数触探探头，包括侧摩筒1、设置于侧摩筒1一端的锥尖2和设置于侧摩筒1另一端的基座3，还包括测量体4，测量体4位于侧摩筒1内，测量体4的一端与侧摩筒1固定连接，另一端与锥尖2固定连接，测量体4的中间部位与基座3固定连接，通过测量体4的形变量能够单独获得侧摩阻力和锥尖阻力。由于测量体4的一端与侧摩筒1固定连接，使得侧摩筒1受到的侧摩阻力能够传递至测量体4，由于测量体4的另一端与锥尖2固定连接，使得锥尖2受到的锥尖阻力能够传递至测量体4，由于测量体4的中间部位与基座3固定连接，侧摩阻力导致的形变量在测量体4的一端到中间部位之间，锥尖阻力导致的形变量在测量体4的另一端到中间部位之间，使得侧摩阻力与锥尖阻力能够独立测量、互不影响。通过一个测量体4即可完成低量程的侧摩阻力和高量程的锥尖阻力的测量，在实现一个部件两种量程测量的同时，减少零部件数量，提高装配效率和装配精度，减少密封位置，保证密封性和稳定性，提高测量结果的准确性。其中，低量程的侧摩阻力，指的是能够测量较小的侧摩阻力；高量程的锥尖阻力，指的是能够测量较大的锥尖阻力。测量体4包括一体成型的第一支撑体41和第二支撑体42，第一支撑体41和第二支撑体42的连接处与基座3固定连接，第一支撑体41上设置有第一应变片，第二支撑体42上设置有第二应变片。侧摩筒1受到的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种静力学参数触探探头，包括侧摩筒(1)、设置于所述侧摩筒(1)一端的锥尖(2)和设置于所述侧摩筒(1)另一端的基座(3)，其特征在于，还包括：/n测量体(4)，位于所述侧摩筒(1)内，所述测量体(4)的一端与所述侧摩筒(1)固定连接，所述测量体(4)的另一端与所述锥尖(2)固定连接，所述测量体(4)的中间部位与所述基座(3)固定连接，通过所述测量体(4)的形变量能够单独获得侧摩阻力和锥尖阻力。/n

【技术特征摘要】
1.一种静力学参数触探探头，包括侧摩筒(1)、设置于所述侧摩筒(1)一端的锥尖(2)和设置于所述侧摩筒(1)另一端的基座(3)，其特征在于，还包括：
测量体(4)，位于所述侧摩筒(1)内，所述测量体(4)的一端与所述侧摩筒(1)固定连接，所述测量体(4)的另一端与所述锥尖(2)固定连接，所述测量体(4)的中间部位与所述基座(3)固定连接，通过所述测量体(4)的形变量能够单独获得侧摩阻力和锥尖阻力。


2.根据权利要求1所述的静力学参数触探探头，其特征在于，所述测量体(4)的内部中空形成容置空间，所述测量体(4)的中间部位于内壁上设置有第一螺纹部(44)，所述基座(3)与所述第一螺纹部(44)固定连接。


3.根据权利要求2所述的静力学参数触探探头，其特征在于，所述基座(3)包括支撑部(31)和伸长部(32)，所述支撑部(31)与所述侧摩筒(1)连接，所述伸长部(32)伸入所述容置空间内并与所述螺纹部固定连接。


4.根据权利要求2所述的静力学参数触探探头，其特征在于，所述测量体(4)的一端于内壁上设置有第二螺纹部(46)，所述锥尖(2)与所述第二螺纹部(46)固定连接。


5.根据权利要求4所述的静力学参数触探探头，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张民生，高冬梅，洪波，魏志明，魏冠立，
申请(专利权)人：中国海洋大学，
类型：发明
国别省市：山东;37