一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件制造技术

技术编号:22883054 阅读:33 留言:0更新日期:2019-12-21 06:58
一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件涉及空间光学遥感领域,超轻型消杂光组件具有质量轻、结构简洁和较高的消杂光效果等特点,并且力学性能优异,可以同时满足微纳相机对质量与消杂光的双重要求。该消杂光组件包括:主镜遮光罩、次镜遮光罩和主承力结构;所述主镜遮光罩和次镜遮光罩分别通过主承力结构固定安装。本发明专利技术超轻型消杂光组件,采用同轴式结构形式,结构简洁,并且主镜遮光罩、次镜遮光罩均使用碳纤维/环氧复合材料,具有密度小、高比刚度、高比强度、加工工艺好,尺寸稳定性好,抗疲劳性能好,抗振性能好等优点,从而满足微纳卫星质量和力学特性要求。

An ultra light component for eliminating stray light of coaxial micro nano remote sensing camera

【技术实现步骤摘要】
一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件
本专利技术专利涉及空间光学遥感领域,具体涉及一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件。
技术介绍
微纳卫星消杂光组件需要在满足相机超轻质量指标的前提下,具备抑制杂散光功能,并具有足够的强度和刚度。通常相机的消杂光组件为实现消杂光功能,结构设计较为复杂,质量过大,不适用于微纳遥感相机。空间遥感相机消杂光组件的主遮光罩可分为固定式遮光罩和可展开式遮光罩。固定式遮光罩可以分为圆筒形、腰筒形、方筒形、六角形等,可展开式遮光罩分为伸缩可展开式、充气可展开式、随动折叠遮光罩等。以上遮光罩存在几个问题:(1)质量较大。复杂形状或复杂结构的遮光罩很难将质量控制在微纳卫星质量要求内,容易超出指标要求;(2)结构力学特性验证难度大。遮光罩在设计时,不仅要考虑消杂光功能,还要考虑它的力学性能。遮光罩要有足够的强度和刚度,避免运输、发射过程中动态响应过大,出现开裂、破坏现象,甚至影响结构稳定性,降低空间相机光学系统成像品质。而结构复杂的遮光罩增加了力学特性验证工作量和难度;(3)研制周期长,加工成本高。为促本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件,其特征在于,该消杂光组件包括:主镜遮光罩、次镜遮光罩和主承力结构;所述主镜遮光罩和次镜遮光罩分别通过主承力结构固定安装。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件,其特征在于,该消杂光组件包括:主镜遮光罩、次镜遮光罩和主承力结构;所述主镜遮光罩和次镜遮光罩分别通过主承力结构固定安装。


2.根据权利要求1所述的一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件,其特征在于,所述主镜遮光罩包括:光阑、凸起横梁和遮光筒;所述遮光帘呈筒型结构,其内部等间距设有五层等高光阑;所述凸起横梁设置在遮光筒外表面,长度与所述遮光筒相同,通过凸起横梁内的中空结构使遮光筒与主承力结构固定;所述遮光筒的两端,分别呈内翻边和外翻边,所述内翻边使入射光成圆形光线,所述遮光筒通过外翻边与主承力结构固定。


3.根据权利要求2所述的一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件,其特征在于,所述遮光筒外翻边上设有机械接口。


4.根据权利要求1所述的一种适用于同轴式微纳遥感相机的超轻型消杂光组件,其特征在于,所述次镜遮光罩包括:锥形罩、斜立筋、圆筒形罩和圆环板;所述斜立筋圆周均布在锥形罩内,所述圆筒形罩通过所述斜立筋安装在锥形...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱英博张雷邵梦琪贾学志
申请(专利权)人:长光卫星技术有限公司
类型:发明
国别省市:吉林;22

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