随机硬件失效指标获取方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种随机硬件失效指标获取方法、计算机设备及计算机存储可读存储介质。本发明专利技术技术方案的随机硬件失效指标获取方法包括：基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。本发明专利技术的技术方案获取的随机硬件失效指标准确度高，且获取随机硬件失效指标的复杂度低。

【技术实现步骤摘要】
随机硬件失效指标获取方法及装置
本专利技术涉及汽车
，更具体地，涉及一种随机硬件失效指标获取方法及装置、计算机设备、计算机存储可读存储介质。
技术介绍
道路车辆功能安全标准ISO26262根据危害和风险程度对车辆控制系统的安全性进行了评级，划分为从ASILA到ASILD四个安全完整性等级，其中ASILD为最高等级，安全要求最高。而对于不同的安全完整性等级有不同的安全参数要求，主要指标包括：单点故障度量指标(SPFM，single-pointfaultmetric)和潜伏故障度量指标(LFM，latent-faultmetric)用于衡量硬件架构的设计合理性；随机硬件失效概率度量，也称之为随机硬件失效指标(PMHF，probabilisticmetricforrandomhardwarefailures)用于衡量随机硬件失效整体水平。随机硬件失效指标作为评判汽车电子系统安全性的一个重要指标，其针对多点失效的随机硬件失效指标的评估是一个难点。目前通常采用以下两种方法对多点失效的随机硬件失效指标进行评估：1.道路车辆功能安全标准采用的评估方法道路车辆功能安全标准中采用的评估方法，针对多点失效的随机硬件失效指标的计算考虑了元件失效模式本身和施加在其上的安全机制或诊断机制的失效同时发生导致违背安全目标的情况。然而采用上述评估方法存在一定的问题：首先只考虑了元件失效模式本身和施加在其上的安全机制或诊断机制的失效同时发生导致违背安全目标的情况，没有考虑其他情况下的多点失效(如：元件1的失效模式A和元件2的失效模式B同时发生)，导致评估获得的多点失效的随机硬件失效指标小于实际的多点失效的随机硬件失效指标。其次，采用该方法评估多点失效的随机硬件失效指标时，需要考虑安全机制或诊断机制和元件失效模式的各种排列组合，并对各种排列组合是否违背安全目标进行分析，实际应用中导致工作量较大，增加了获取多点失效的随机硬件失效指标的复杂度。再次，目前在道路车辆功能安全标准中采用失效模式影响和诊断分析(FMEDA，FailureModesEffectsandDiagnosticAnalysis)来计算每个元件失效模式所对应的失效率，但是FMEDA是针对于单点失效的分析，不适用于分析多点失效的影响。2.权威评审机构或认证机构采用的评估方法目前一些权威评审机构或认证机构计算多点失效的随机硬件失效指标时，将λMPF.L(多点失效中的潜伏失效的失效率)作为多点失效的随机硬件失效指标。该评估方法将元件失效模式本身的潜伏失效作为多点失效的随机硬件失效指标，虽然简化了计算方式，但是采用该评估方法获得的多点失效的随机硬件失效指标大于实际的多点失效的随机硬件失效指标。此外，该评估方法没有办法评估实际的多点失效对安全目标的影响结果，因此，不利于后续基于多点失效的分析来对整体设计进行评估。因此，如何提供一种可以准确评估多点失效的随机硬件失效指标的方法，成为目前亟待解决的问题之一。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题是提供一种随机硬件失效指标获取方法，以提供准确的随机硬件失效指标。为解决上述问题，本专利技术技术方案提供一种随机硬件失效指标获取方法，包括:基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。可选的，所述基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件指标包括：对所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率相加以获取随机硬件失效指标。可选的，获取所述第一最小割集集合中的最小割集的失效率包括：获取所述最小割集中每一个基本失效的失效率；对所述最小割集中每一个基本失效的失效率相乘以获得最小割集的失效率。可选的，获取基本失效的失效率包括：获取元件的失效率和其失效模式比例，将所述元件的失效率与其失效模式比例相乘以获取基本失效的失效率。本专利技术技术方案还提供一种随机硬件失效指标获取装置，包括：第一获取单元，用于基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；第二获取单元，用于获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；第三获取单元，用于获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；第四获取单元，用于基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。可选的，所述第三获取单元包括：获取子单元，用于获取所述最小割集中每一个基本失效的失效率；运算单元，用于对所述最小割集中每一个基本失效的失效率相乘以获得最小割集的失效率。本专利技术技术方案还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器用于执行所述计算机程序时实现如下操作：基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。本专利技术技术方案还提供一种计算机存储可读存储介质，包括：计算机可执行指令，当所述计算机可执行指令被运行时执行如上所述的随机硬件失效指标获取方法。与现有技术相比，本专利技术技术方案具有以下优点：基于故障树分析获得违背安全目标的最小割集集合，获取了最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合，即第一最小割集集合。基于第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率以获取随机硬件失效指标。由于采用故障树分析获得了违背安全目标的所有的多点失效，因此，可以将违背安全目标的不同类型的多点失效均予以考虑，进而最终获得的多点失效的随机硬件失效指标与实际的多点失效的随机硬件失效指标基本一致，极大的提高了获得的多点失效的随机硬件失效指标的准确度。另外，由于不用对安全机制或诊断机制与元件失效模式进行不同的排列组合，因此在降低获取多点失效的随机硬件失效指标的复杂度的同时，也在很大程度上减少了实际应用中的工作量。此外，由于是先通过分析获得违背安全目标的多点失效后，再有针对性的获取基本失效的失效率，因此进一步地降低了实际应用中的工作量。附图说明图1是本专利技术实施例的随机硬件失效指标获取方法的流程图；图2是本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种随机硬件失效指标获取方法，其特征在于，包括：/n基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；/n获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；/n获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；/n基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。/n

【技术特征摘要】
1.一种随机硬件失效指标获取方法，其特征在于，包括：
基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；
获取第一最小割集集合，所述第一最小割集集合是指最小割集集合中最小割集的基本失效个数大于等于2且基本失效同时发生的最小割集的集合；
获取所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率，所述最小割集的失效率是指所述最小割集中所有基本失效同时发生的概率；
基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件失效指标。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率获取随机硬件指标包括：对所述第一最小割集集合中每一个最小割集的失效率相加以获取随机硬件失效指标。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述第一最小割集集合中的最小割集的失效率包括：
获取所述最小割集中每一个基本失效的失效率；
对所述最小割集中每一个基本失效的失效率相乘以获得最小割集的失效率。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取基本失效的失效率包括：获取元件的失效率和其失效模式比例，将所述元件的失效率与其失效模式比例相乘以获取基本失效的失效率。


5.一种随机硬件失效指标获取装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，用于基于故障树分析获取违背安全目标的最小割集集合；
第二获取单元，用于获取第一最小割集集合，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王方方，孙衍茂，翟萧，宋健，
申请(专利权)人：大陆泰密克汽车系统上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31