一种信息确定方法、电子设备及计算机可读存储介质技术

本发明专利技术实施例公开了一种信息确定方法，该方法包括：设置待测元件的标准角度，并基于所述标准角度获取第一波长的光针对所述待测元件的第一光功率值；获取至少一束第二波长的光针对所述待测元件的第二光功率值；其中，所述第一波长的光和所述至少一束第二波长的光在所述待测元件表面上平行排列；基于所述至少一个第二光功率值，获取所述待测元件的至少一个偏折角度；基于所述标准角度和所述至少一个偏折角度，确定所述待测元件表面平整度信息。本发明专利技术实施例同时还公开了一种电子设备及计算机可读存储介质。

【技术实现步骤摘要】
一种信息确定方法、电子设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及电子与信息
，尤其涉及一种信息确定方法、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在精度要求较高的光学系统中，常见的光学元件如平板玻璃、分光棱镜、全反棱镜等其通光表面均为平面，且这些光学元件表面的平整度对光学模块的性能有着重要的影响；相对技术中针对光学元件表面平整度的测试方法主要有干涉、衍射等，其测试过程相对较复杂，且对环境的要求较高，从而导致测试效率降低。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术实施例期望提供一种信息确定方法、电子设备及计算机可读存储介质，从而使得针对光学元件表面信息测试的过程较为简单、且对环境要求较低，进而提高了测试效率。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种信息确定方法，所述方法包括：设置待测元件的标准角度，并基于所述标准角度获取第一波长的光针对所述待测元件的第一光功率值；获取至少一束第二波长的光针对所述待测元件的第二光功率值；其中，所述第一波长的光和所述至少一束第二波长的光在所述待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信息确定方法，所述方法包括：/n设置待测元件的标准角度，并基于所述标准角度获取第一波长的光针对所述待测元件的第一光功率值；/n获取至少一束第二波长的光针对所述待测元件的第二光功率值；其中，所述第一波长的光和所述至少一束第二波长的光在所述待测元件表面上平行排列；/n基于所述至少一个第二光功率值，获取所述待测元件的至少一个偏折角度；/n基于所述标准角度和所述至少一个偏折角度，确定所述待测元件表面平整度信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种信息确定方法，所述方法包括：
设置待测元件的标准角度，并基于所述标准角度获取第一波长的光针对所述待测元件的第一光功率值；
获取至少一束第二波长的光针对所述待测元件的第二光功率值；其中，所述第一波长的光和所述至少一束第二波长的光在所述待测元件表面上平行排列；
基于所述至少一个第二光功率值，获取所述待测元件的至少一个偏折角度；
基于所述标准角度和所述至少一个偏折角度，确定所述待测元件表面平整度信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置待测元件的标准角度，并基于所述标准角度获取第一波长的光针对所述待测元件的第一光功率值，包括：
获取所述待测元件的标准区域；
基于所述标准区域设置所述待测元件的标准角度；其中，所述标准角度表征所述待测元件的标准区域对应的第一表面与第二表面的夹角；
基于所述标准角度，获取所述第一波长的光针对所述待测元件的标准区域的第一光功率值。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个第二光功率值，获取所述待测元件的至少一个偏折角度，包括：
获取所述至少一束第二波长的光对应的基准损耗曲线；其中，所述基准损耗曲线表征所述第二光功率值与所述偏折角度对应的映射关系；
基于所述至少一个第二光功率值和所述基准损耗曲线，获取所述待测元件的至少一个偏折角度。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述至少一束第二波长的光对应的基准损耗曲线，包括：
基于所述至少一束第二波长的光的光斑直径和波长，计算得到所述至少一束第二波长的光对应的基准损耗曲线。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述标准角度和所述至少一个偏折角度，确定所述待测元件表面平整度信息，包括：
基于所述标准角度和所述至少一个偏折角度，计算得到所述待测元件的至少一个基准角度；
基于所述标准角度和所述至少一个基准角度，确定所述待测元件表面平整度信息。...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭金平，杨睿，王凡，杨宇翔，杨柳，袁志林，马雨虹，禤颖仪，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42