一种盲元检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种盲元检测方法、装置及电子设备。该盲元检测方法包括：获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。通过本方案可以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。

A blind element detection method, device and electronic equipment

The embodiment of the application provides a blind element detection method, device and electronic equipment. The blind element detection method includes: obtaining a multi frame target image about the auxiliary object; wherein, any frame target image is: under a predetermined environment temperature, the data about the auxiliary object sensed by the infrared focal plane array, and different frame target images correspond to different predetermined environment temperature; based on the obtained target image, calculating the corresponding infrared focal plane array The reference data is used to represent the difference relationship of the pixel data sensed by the pixel in the infrared focal plane array under different predetermined ambient temperatures, and to determine the blind element in the infrared focal plane array based on the corresponding reference data of the infrared focal plane array. Through this scheme, the blind elements of IRFPA in different temperature environment can be detected quickly and effectively.

【技术实现步骤摘要】
一种盲元检测方法、装置及电子设备
本申请涉及红外热成像
，特别是涉及一种盲元检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
受制造工艺、材料等因素的影响，红外热成像设备中的红外焦平面阵列均不可避免地存在盲元、非均匀性等问题。由于盲元的存在会影响后期的图像处理算法及视觉效果，因此需要对红外焦平面阵列中的盲元进行检测，从而后续执行去盲元处理。其中，盲元包括死像元与过热像元，根据国标GB/T17444-1998中的规定，死像元为响应率低于平均响应率1/10的像元，过热像元为响应率高于平均响应率10倍的像元。并且，对于无温控的红外焦平面阵列而言，不同环境温度下像元的响应率的变化对盲元有很大影响，即，在一种环境温度下响应率处于正常范围的像元，在其他环境温度下可能响应率变为处于不正常范围，成为新的盲元。因此，如何快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元，是一个亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请实施例的目的在于提供一种盲元检测方法、装置及电子设备，以快速有效地检测红外焦平面阵列在不同温度环境下所表现出的盲元。具体技术方案如下：第一方面，本申请实施例提供了一种盲元检测方法，包括：获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。可选地，所述基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据的步骤，包括：从所获得的多帧目标图像中，按照预定帧顺序提取同一像元所对应的像素数据，并利用所提取的像素数据，生成所述红外焦平面阵列中各个像元对应的向量；将各个像元对应的向量和各个预定环境温度进行多项式拟合，得到各个像元对应的拟合函数。可选地，所述基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：从各个像元对应的拟合函数中，提取各个像元对应的拟合参数集；以各个像元对应的拟合参数集中的至少一类参数，生成与所述红外焦平面阵列的分辨率大小匹配的至少一个系数矩阵；其中，各个像元对应的拟合参数集中的同一类参数作为同一系数矩阵中的元素；基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元。可选地，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：计算各个系数矩阵的全局均值和全局标准差；针对每一系数矩阵，按照第一预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；其中，所述第一预定计算方式包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的全局均值的第一差值，并判断所述第一差值是否大于该系数矩阵的全局标准差的第一预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元。可选地，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：对各个系数矩阵分区计算均值和标准差，得到各个系数矩阵的局部均值和局部标准差；针对每一系数矩阵，按照第二预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；其中，所述第二预定计算方式，包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的目标局部均值的第二差值，并判断所述第二差值是否大于该系数矩阵的目标局部标准差的第二预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元；其中，所述目标局部均值为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部均值，所述目标局部标准差为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部标准差。第二方面，本申请实施例提供了一种盲元检测装置，包括：目标图像获得单元，用于获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；参考数据计算单元，用于基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；盲元确定单元，用于基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。可选地，所述参考数据计算单元包括：向量生成子单元，用于从所获得的多帧目标图像中，按照预定帧顺序提取同一像元所对应的像素数据，并利用所提取的像素数据，生成所述红外焦平面阵列中各个像元对应的向量；拟合函数生成子单元，用于将各个像元对应的向量和各个预定环境温度进行多项式拟合，得到各个像元对应的拟合函数。可选地，所述盲元确定单元包括：拟合参数集提取子单元，用于从各个像元对应的拟合函数中，提取各个像元对应的拟合参数集；系数矩阵生成子单元，用于以各个像元对应的拟合参数集中的至少一类参数，生成与所述红外焦平面阵列的分辨率大小匹配的至少一个系数矩阵；其中，各个像元对应的拟合参数集中的同一类参数作为同一系数矩阵中的元素；盲元获得子单元，用于基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元。可选地，所述盲元获得子单元具体用于：计算各个系数矩阵的全局均值和全局标准差；针对每一系数矩阵，按照第一预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；其中，所述第一预定计算方式，包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的全局均值的第一差值，并判断所述第一差值是否大于该系数矩阵的全局标准差的第一预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元。可选地，所述盲元获得子单元具体用于：对各个系数矩阵分区计算均值和标准差，得到各个系数矩阵的局部均值和局部标准差；针对每一系数矩阵，按照第二预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；其中，所述第二预定计算方式，包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的目标局部均值的第二差值，并判断所述第二差值是否大于该系数矩阵的目标局部标准差的第二预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元；其中，所述目标局部均值为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部均值，所述目标局部标准差为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部标准差。第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；...

【技术保护点】
1.一种盲元检测方法，其特征在于，包括：/n获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；/n基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；/n基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。/n

【技术特征摘要】
1.一种盲元检测方法，其特征在于，包括：
获得关于辅助对象的多帧目标图像；其中，任一帧目标图像为：在一预定环境温度下，红外热成像设备的红外焦平面阵列所感应的关于所述辅助对象的数据，且不同帧目标图像对应不同的预定环境温度；
基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；其中，所述参考数据用于表征：不同预定环境温度下，所述红外焦平面阵列中的像元所感应像素数据的差异关系；
基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据的步骤，包括：
从所获得的多帧目标图像中，按照预定帧顺序提取同一像元所对应的像素数据，并利用所提取的像素数据，生成所述红外焦平面阵列中各个像元对应的向量；
将各个像元对应的向量和各个预定环境温度进行多项式拟合，得到各个像元对应的拟合函数。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：
从各个像元对应的拟合函数中，提取各个像元对应的拟合参数集；
以各个像元对应的拟合参数集中的至少一类参数，生成与所述红外焦平面阵列的分辨率大小匹配的至少一个系数矩阵；其中，各个像元对应的拟合参数集中的同一类参数作为同一系数矩阵中的元素；
基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：
计算各个系数矩阵的全局均值和全局标准差；
针对每一系数矩阵，按照第一预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；
其中，所述第一预定计算方式包括：针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的全局均值的第一差值，并判断所述第一差值是否大于该系数矩阵的全局标准差的第一预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个系数矩阵和各个像元对应的所述至少一个系数矩阵的矩阵元素，得到所述红外焦平面阵列中的盲元的步骤，包括：
对各个系数矩阵分区计算均值和标准差，得到各个系数矩阵的局部均值和局部标准差；
针对每一系数矩阵，按照第二预定计算方式，确定所述红外焦平面阵列中的盲元；
其中，所述第二预定计算方式，包括：
针对每一像元，计算该像元对应的关于该系数矩阵的矩阵元素与该系数矩阵的目标局部均值的第二差值，并判断所述第二差值是否大于该系数矩阵的目标局部标准差的第二预定倍数，如果大于，确定该像元为盲元；
其中，所述目标局部均值为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部均值，所述目标局部标准差为：所对应矩阵区域包括该像元对应的矩阵元素的局部标准差。


6.一种盲元检测装置，其特征在于，包括：
目标图像获得单元，用于获...

【专利技术属性】
技术研发人员：马甲迎，唐杰，陈伟，谢浩山，
申请(专利权)人：杭州海康威视数字技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33