带有可换外壳USB插头的老化测试连接器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接器。电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于连接器之外，触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，端子组嵌入于胶芯座内。通过在两面的触点上增加两个触点专门用于进行产品ID侦测和写入，使得测试器具备读取/写入产品ID的功能，满足了用户测试需求；同时，通过采用可拆卸的塑胶外壳，当外壳被磨损需要更换时可直接拆掉外壳，延长了老化测试连接器的使用寿命。

Aging test connector with interchangeable case USB plug

The utility model relates to an aging test connector with a exchangeable shell USB plug. The middle position of one side of the front side of the circuit board is provided with contacts A1 to A12, and the corresponding position of the back side of the circuit board is provided with contacts B1 to B12; two rows of contact holes are also symmetrically provided with two secondary contact holes, which are respectively connected with contact A8 and contact B8, and the copper column inserted into the two secondary contact holes is exposed outside the connector, and the contact A8 and contact B8 are used for detecting or writing the product ID; the USB plug includes a rubber core base The terminal group and the removable and replaceable shell made of plastic are embedded in the rubber core seat. By adding two contacts on both sides of the contact for product ID detection and writing, the tester has the function of reading / writing product ID, which meets the user's test requirements; at the same time, by using removable plastic shell, when the shell needs to be replaced due to wear, the shell can be removed directly, extending the service life of aging test connector.

【技术实现步骤摘要】
带有可换外壳USB插头的老化测试连接器
本技术涉及老化测试设备，尤其涉及一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接器。
技术介绍
测试器常见于对电子设备，如手机、平板电脑等，进行性能测试时的场景。老化测试连接器是常见的一种类型。老化测试连接器用于对电子设备的老化程度进行测试，从而得出电子设备抗老化能力以及老化之后设备运行性能。通常的老化测试连接器不带有读取/写入产品ID的功能，未能满足用户要求。老化测试连接器一般带有USB插头，USB插头中的金属端子是用于传输数据或者电能的关键部件。在对电子智能设备进行性能测试时，需要对USB插头进行多次连续反复插拔。常规的USB插头外壳都是金属壳，在多次测试使用时容易对被测试设备产生划痕，对被测试设备外观产生不良影响，因此便有了塑胶外壳的USB插头，这种塑胶外壳使用时间长了之后会磨损，但一般的USB插头不可更换USB插头，有待改进。
技术实现思路
本技术的目的在于为克服现有技术的以上缺陷，而提供一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接器。为实现上述目的，本技术采用以下技术方案：老化测试连接器包括基体及USB插头，基体包括电路板，电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于连接器之外，触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，端子组嵌入于胶芯座内，胶芯座包括扁形的前管以及方块，前管与方块一体成型，外壳包括一体成型的插头壳和后壳，胶芯座的前管嵌入到插头壳中，方块置入固定在后壳内，后壳通过螺钉固定在基体上。进一步地，端子组由若干金属端子组成，金属端子呈长条片状，金属端子的前端设有板状凸起的触点，触点凸起方向垂直于金属端子的长度方向，金属端子的尾端用于点焊在电路板上，在靠近金属端子尾端处设有一个方形凸台板，凸台板的凸起方向垂直于金属端子长度方向并与触点凸起方向相反。进一步地，金属端子的前端嵌入于前管内，金属端子的凸台板嵌入于方块内，金属端子的尾端外露于方块之外。进一步地，前管设有通道，方块设有方形腔，通道与方形腔连通，金属端子前端置入于通道中，金属端子的凸台板嵌入于方形腔中并且凸台板抵顶于方形腔靠近前管的内壁。进一步地，电路板设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台，凸台延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台的凸起方向垂直于电路板的侧边。进一步地，基体还包括盖板和底板，电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。进一步地，盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。进一步地，两个次触点孔之间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，主螺钉穿入等高铜套中，等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，主螺钉末端外露于底板之外。进一步地，底板的背面设有四个围成方形的定位柱。进一步地，盖板上设有沿着盖板工作表面的法向凸起的隔离台，隔离台与电路板设置触点A1至A12的侧边齐平。本技术与现有技术相比的有益效果是：通过在两面的触点上增加两个触点专门用于进行产品ID侦测和写入，使得测试器具备读取/写入产品ID的功能，满足了用户测试需求，增强了产品使用功能；同时，通过采用可拆卸的塑胶外壳，当外壳被磨损需要更换时可直接拆掉外壳，并更换新的装上即可继续使用，延长了老化测试连接器的使用寿命，降低了更新成本。附图说明图1为本技术老化测试连接器基体与USB插头分解图。图2、3均为为本技术老化测试连接器基体分解图。图4为本技术老化测试连接器USB插头外壳、胶芯座和端子组装配立体图。图5为本技术老化测试连接器USB插头外壳、胶芯座和端子组分解图。图6为本技术老化测试连接器USB插头胶芯座立体图。图7为本技术老化测试连接器USB插头胶芯座剖视图。图8为本技术老化测试连接器USB插头金属端子正面图。图9为本技术老化测试连接器USB插头端子组正面图。图10为本技术老化测试连接器USB插头端子组并排的立体图。图11为本技术老化测试连接器USB插头胶芯座与金属端子装配立体图。图12为本技术老化测试连接器USB插头胶芯座与金属端子装配剖视图。需要说明的是，以上视图所示产品均为适应图纸大小及视图清楚而进行了适当的缩小/放大，并不对视图所示产品大小加以限制。具体实施方式为了更充分理解本技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例对本技术的技术方案作进一步介绍和说明。本技术实施例的具体结构如图1-12所示。如图1-3所示，老化测试连接器包括基体900及USB插头100，基体900包括电路板80，以及盖板91和底板92。电路板80结构如图2、3所示，电路板80的正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板80背面的对应位置设有触点B1至B12。触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头100。电路板80的中间设有两排可插入铜柱81的对称的触点孔84、85，两排触点孔84、85贯穿电路板80正面与背面并连通电路板80正面与背面。第一排触点孔84依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔85依次为D+、D-、BNC+和BNC-。两排触点孔84、85下方还对称设有两个次触点孔86，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔86的铜柱82外露于连接器之外，触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID。电路板80设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台83，凸台83延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台83的凸起方向垂直于电路板80的侧边。凸台83与电路板80的侧边连接处的内角为圆角。当然，在其他实施例中，还可以将两个两届触点A8和触点B8的触点孔上的铜柱预留出来但不外露，当需要用时，才将遮盖部分去掉，露出铜柱供连接。电路板80夹在盖板91与底板92之间，盖板91和底板92通过四个角上通入螺钉94实现固定连接。电路板80正面朝向于盖板91，电路板80背面朝向于底板92，电路板80上插接的铜柱81均贯穿盖板91并外露于盖板91之外。盖板91上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽911。底板92上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽921。底板92的背面设有四个围成方形的定位柱923。此外，两个次触点孔86之间的位置穿入一个主螺钉93和一个等高铜套95，主螺钉93穿入等高本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.带有可换外壳USB插头的老化测试连接器，其特征在于，其包括基体及USB插头，所述基体包括电路板，所述电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，所述电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；所述触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；所述电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，所述触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于所述连接器之外，所述触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；所述USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，所述端子组嵌入于胶芯座内，所述胶芯座包括扁形的前管以及方块，所述前管与方块一体成型，所述外壳包括一体成型的插头壳和后壳，所述胶芯座的前管嵌入到插头壳中，所述方块置入固定在后壳内，所述后壳通过螺钉固定在基体上。/n

【技术特征摘要】
1.带有可换外壳USB插头的老化测试连接器，其特征在于，其包括基体及USB插头，所述基体包括电路板，所述电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，所述电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；所述触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；所述电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，所述触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；两排触点孔下方还对称设有两个次触点孔，分别连接触点A8和触点B8，插入于两个次触点孔的铜柱外露于所述连接器之外，所述触点A8和触点B8用于侦测或写入产品ID；所述USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，所述端子组嵌入于胶芯座内，所述胶芯座包括扁形的前管以及方块，所述前管与方块一体成型，所述外壳包括一体成型的插头壳和后壳，所述胶芯座的前管嵌入到插头壳中，所述方块置入固定在后壳内，所述后壳通过螺钉固定在基体上。


2.如权利要求1所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述端子组由若干金属端子组成，所述金属端子呈长条片状，所述金属端子的前端设有板状凸起的触点，所述触点凸起方向垂直于金属端子的长度方向，所述金属端子的尾端用于点焊在电路板上，在靠近金属端子尾端处设有一个方形凸台板，所述凸台板的凸起方向垂直于金属端子长度方向并与触点凸起方向相反。


3.如权利要求2所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接器，其特征在于，所述金属端子的前端嵌入于前管内，所述金属端子的凸台板嵌入于所述方块内，所述金属端子的尾端外露于方块之外。


4.如权利要求2所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接器，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志艳，
申请(专利权)人：深圳市金丰达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44