供电设备、受电设备、供电系统及控制供电的方法技术方案

本申请涉及供电设备、受电设备、供电系统及控制供电的方法。该供电设备包括：被配置为通过磁场向受电设备提供电力的供电单元；被配置为测量电特性值并且生成测量值的测量单元；被配置为提供设定值的受电单元；以及被配置为基于设定值和测量值检测磁场中的异物的异物检测单元。

Power supply equipment, receiving equipment, power supply system and control method of power supply

The present application relates to power supply equipment, receiving equipment, power supply system and method for controlling power supply. The power supply device includes: a power supply unit configured to provide power to the receiving device through the magnetic field; a measurement unit configured to measure the electrical characteristic value and generate the measured value; a receiving unit configured to provide the set value; and a foreign matter detection unit configured to detect foreign matters in the magnetic field based on the set value and the measured value.

【技术实现步骤摘要】
供电设备、受电设备、供电系统及控制供电的方法本申请是申请号为2014800458713，申请日为2014年8月19日，专利技术创造名称为“供电设备、受电设备、供电系统及控制供电的方法”的分案申请。
本技术涉及供电设备、受电设备、供电系统、以及控制供电的方法。特别地，本技术涉及一种用来检测磁场中的异物(foreignsubstance，外来杂质)的供电设备、受电设备、供电系统、以及控制供电的方法。
技术介绍
近来，无线地提供电力的系统已受到广泛地考虑。实现无线供电有两种主要系统。这些系统之一是广为人知的电磁感应系统。在电磁感应系统中，送电侧和受电侧之间的耦合度非常高，并且可以高效地执行供电。另一系统是磁场共振系统。在磁场共振系统中，通过积极地利用共振现象，供电源和供电目的地没有必要共享大量磁通。这两个系统之间有一个共同的问题，这就是由于异物生热而引起的安全问题。这些系统中的每个都使用磁场进行供电，从而当导体(诸如金属)异物进入磁场时，涡流可能会流经异物，并且异物可能生热。因此，已经提出了从设备的电特性值的变化检测是否存在异物的方法。借助于这种方法，设计限制等是不必要的，因此，可以以低成本检测异物。特别地，已经提出了一种供电系统(例如，见专利文献1)，检测发送功率和接收功率之间的功率差作为电特性值并从功率差的变化检测异物。此外，还有一种供电系统，其通过测量品质因子(所谓的Q因子)作为电特性值并且通过比较测量的Q因子和阈值来检测异物(例如，见专利文献2)。引用列表专利文献PTL1：JP2011-30422APTL2：JP5071574B1
技术实现思路
技术问题然而，在相关技术中，不能准确地检测磁场中的异物。在供电系统中，在磁场中，不仅仅有包括在异物中的导体，还有包括在受电设备中的导体。诸如Q因子的电特性值也可能会根据受电设备中导体的量而波动。因此，考虑到受电设备中导体的量，有必要设置与电特性值比较的阈值。然而，导体的量通常因受电设备的类型而有所不同。因此，在假设向多种受电设备供电的情况下，难以设置适当阈值。因此，供电系统可能不能从电特性值的变化中准确地检测磁场中的异物。鉴于上述内容，为了准确地检测磁场中的异物而作出本专利技术。问题的解决方案根据本技术的实施例，其第一方面是一种供电设备及其控制方法，供电设备包括：供电单元，配置为通过磁场向受电设备提供电力；测量单元，配置为测量供电单元的电特性值并且生成测量值；接收单元，配置为接收受电设备中设定的设定值；以及异物检测单元，配置为基于所述设定值和测量值检测磁场中的异物。借助于此，基于受电设备中设定的设定值和测量值来检测磁场中的异物。另外，在第一方面中，设定值可基于包含在受电设备中的导体的量来设定。由此，基于设定值和测量值检测磁场中的异物，该设定值基于受电设备中包含的导体的量来设置。另外，在第一方面，设定值可以是用于检测异物的阈值，并且异物检测单元可以比较阈值和测量值，并且基于比较结果检测异物。借助于此，基于阈值和测量值之间的比较结果来检测异物。另外，在第一方面，设定值可以是由于磁场中的受电设备的布置而变化的电特性值的变化量。借助于此，基于变化量和测量值来检测异物。另外，在第一方面，设定值可以是导体的表面积。借助于此，基于表面积和测量值来检测异物。另外，在第一方面，供电单元进一步可以通过磁场连续地提供具有不同频率的多个AC信号作为测试信号，并且测量单元可以在每当多个测试信号中的任一个被提供时测量电特性值，并且将测量的电特性值的统计量提供到异物检测单元作为测量值。借助于此，在每当多个测试信号中的任一个被提供时测量的电特性值的统计量，被提供作为测量值。另外，在第一方面，测量单元可以通过磁场连续地提供具有不同频率的多个AC信号作为测试信号，并且可以向异物检测单元提供在每当测试信号中的每个被提供时测量的电特性值的统计量作为测量值。借助于此，在每当多个测试信号被提供时测量的电特性值的统计量，被提供作为测量值。另外，在第一方面，供电单元可以包括配置为通过磁场提供电力的供电线圈，并且测量单元可以包括连接至供电线圈的可变电容、配置为通过可变电容向供电单元提供具有预定频率的AC信号作为测试信号的AC电源、配置为通过将可变电容的电容改变预定次数来改变测试信号的频率的可变电容控制单元、配置为在每当电容变化时测量电特性值并且向异物检测单元提供测量的电特性值的统计量作为测量值的测量值提供单元。借助于此，在每当电容变化时测量的电特性值的统计量，被提供作为测量值。另外，在第一方面，可以进一步包括：配置为控制AC电的电能并且提供所控制的AC电作为电力的供电控制单元以及介于供电控制单元和供电单元之间的滤波器电路。借助于此，通过滤波器电路提供了AC电。另外，在第一方面，供电单元可以包括共振电路，并且测量单元可以测量共振电路的品质因子作为电特性值。借助于此，测量共振电路的品质因子作为电特性值。另外，在第一方面，测量单元可以测量供电单元的电感作为电特性值。借助于此，测量共振电路的电感作为电特性值。另外，本技术的第二方面是一种受电设备，包括：受电单元，配置为通过磁场接收供电设备提供的电力；包括导体的底盘；发送单元，配置为向供电设备发送预先设置的设定值。借助于此，将基于底盘中包括的导体的量设置的设定值发送到供电设备。另外，在本技术的第二方面，可以基于受电设备中包括的导体的量来设置设定值。借助于此，基于受电设备中包括的导体的量而设置的值被发送到供电设备。另外，在本技术的第二方面，可以进一步包括底盘，并且导体可以包括在底盘中。借助于此，基于底盘中包括的导体的量而设置的值被发送到供电设备。另外，在第二方面，设定值可以是待与供电设备中的共振电路的品质因子比较的阈值。借助于此，待与共振电路的品质因子比较的阈值被发送到供电设备。另外，本技术的第三方面是一种供电系统，包括：受电设备，包括：配置为通过磁场接收提供的电力的接收单元、配置为发送预先设置的设定值的发送单元；以及供电设备，包括：配置为通过磁场向受电设备提供电力的供电单元，配置为测量供电单元的电特性值并且生成测量值的测量单元、配置为接收发送单元发送的设定值的接收单元、以及配置为基于设定值和测量值检测异物的异物检测单元。借助于此，基于设定值和测量值检测磁场中的异物，该设定值基于底盘中包括的导体量来设置。另外，在本技术的第三方面，可以基于受电设备中包括的导体的量来设置设定值。借助于此，基于受电设备中包括的导体的量设置的值被发送到供电设备。另外，在第三方面，供电单元可以包括共振电路，并且测量单元可以测量共振电路的品质因子作为电特性值。借助于此，测量共振电路的品质因子作为电特性值。根据本技术的另一方面，提供了一种供电设备。该供电设备包括：配置为通过磁场向受电设备提供电力的供电单元；配置为测量电特性值并且生成测量值的测量单元；配置为提供设定值的受电单元；以及配置为基于设定值和测量值检测磁场中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种供电设备，包括：/n供电单元，被配置为通过磁场向受电设备提供电力；/n测量单元，被配置为测量电特性值并且生成测量值；/n受电单元，被配置为提供设定值；以及/n异物检测单元，被配置为基于所述设定值和所述测量值检测所述磁场中的异物。/n

【技术特征摘要】
20130828 JP 2013-1762351.一种供电设备，包括：
供电单元，被配置为通过磁场向受电设备提供电力；
测量单元，被配置为测量电特性值并且生成测量值；
受电单元，被配置为提供设定值；以及
异物检测单元，被配置为基于所述设定值和所述测量值检测所述磁场中的异物。


2.根据权利要求1所述的供电设备，其中，至少所述受电单元被配置为设定所述设定值。


3.根据权利要求1所述的供电设备，其中，所述设定值基于设置在所述受电设备中的导体的量。


4.根据权利要求1所述的供电设备，其中，所述设定值基于设置在所述受电设备中的导体的表面积。


5.根据权利要求1所述的供电设备，其中，所述设定值基于由于所述受电设备在所述磁场中的布置而导致的所述电特性值的变化。


6.根据权利要求1所述的供电设备，其中，所述供电单元和所述测量单元中的至少一个被配置为基于具有不同频率的多个AC信号通过所述磁场提供多个测试信号，并且其中，所述测量单元被配置为在每次提供所述多个测试信号中...

【专利技术属性】
技术研发人员：中野裕章，寺岛彻，文仙启吾，小堺修，藤卷健一，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP