The invention provides a monitoring method for board reset test, which includes the following steps: S1: first read the memory of the chip and write the corresponding flag bits of the current reset type; when the writing fails, read the memory repeatedly and check until the flag bits are written successfully; S2: judge that every reset test occurs, add one to the current reset type flag bit count; S3 : judge whether the value of the written flag bit is equal to the reset set value, and the value of the written flag bit is the actual number of times of this type of reset in the automatic test of the single board; S4: judge whether the total number of resets counted in the output log is consistent with the total number of resets set in the log, and the total number of resets counted in the log is the total number of resets of this automatic single board. This method can not only quickly locate the success of current type reset test, but also judge whether abnormal reset occurs in this round of test, so as to judge whether the Board meets the design requirements in time and accurately, and make the test more effective.
【技术实现步骤摘要】
单板复位测试的监控方法
本专利技术具体涉及一种单板复位测试的监控方法。
技术介绍
系统复位有正常复位和异常复位两种情形,而异常复位通常由系统意外掉线、软件异常或者硬件异常而引起的。现有技术中,在系统发生复位后,软、硬件关键状态信息被清除,目前的复位测试方案无法分辨出在一轮自动化测试中,是否有异常复位的产生,因而在自动化测试过程中,即便发生了异常复位,维护人员也无法及时有效地在多次复位测试中辨别是否有异常复位的产生,无法快速地查找故障所在,增加了复位测试的难度。所以急需一种单板复位测试的监控方法以解决这一问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有技术的不足,提供一种单板复位测试的监控方法,该单板复位测试的监控方法可以很好地解决上述问题。为达到上述要求,本专利技术采取的技术方案是:提供一种单板复位测试的监控方法,该单板复位测试的监控方法包括如下步骤:S1:自动化复位测试时,首先读取芯片的存储器,并写入当前复位类型对应标志位,当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验,直至所述标志位写入成功;S2:判断每发生一次复位测试,都对当前复位类型标志位计数加一;S3:判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等,写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数;S4:判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符,日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。该单板复位测试的监控方法具有的优点如下:在自动化测试中,复位测试发 ...
【技术保护点】
1.一种单板复位测试的监控方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1:自动化复位测试时,首先读取芯片的存储器,并写入当前复位类型对应标志位,当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验,直至所述标志位写入成功;/nS2:判断每发生一次复位测试,都对当前复位类型标志位计数加一;/nS3:判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等,写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数;/nS4:判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符,日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。/n
【技术特征摘要】
1.一种单板复位测试的监控方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:自动化复位测试时,首先读取芯片的存储器,并写入当前复位类型对应标志位,当写入失败时反复读取所述存储器并进行校验,直至所述标志位写入成功;
S2:判断每发生一次复位测试,都对当前复位类型标志位计数加一;
S3:判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等,写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数;
S4:判断输出日志中统计的复位总次数与总复位设定次数相比较是否相符,日志中统计的复位总次数即本次自动化单板总复位次数。
2.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法,其特征在于:所述存储器为非易失性存储器。
3.根据权利要求1所述的单板复位测试的监控方法,其特征在于:S3:判断写入标志位的值与复位设定值相比是否相等,写入标志位的值即单板本次自动化测试该类型复位发生的实际次数的步骤具体还包括:
根据不同类型的复位有各自类型的计数值,没执行一次复位测试,对应类型的计数值自加一;
当该计数值与复位测试执行最初设定值相符时,表示本次测试该类型复位测试成功;
当该计数值与复位测试执行最初设定值不相符时,表示本次测试该类型复位测试失败,查看输出日志对比写入标志位可快速定位复位失败所在...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄秋霞,
申请(专利权)人:成都华镭科技有限公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
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