The invention relates to a workpiece holder and a measuring device and method for performing a measurement by using the workpiece holder. The workpiece holder is configured to hold the workpiece, which has two relatively arranged workpiece surfaces to be measured, so that the two workpiece surfaces can be approached by the movable detection unit, and therefore can be measured in one setting of the workpiece. For this purpose, the workpiece holder includes a support member and a holder body. The retention body has a retention end away from the support member, the retention end has at least one retention surface, and the workpiece is kept at the retention surface. In the holding body, a free space is formed, when the workpiece is held, the free space abuts the workpiece surface facing the supporting member, and enables the workpiece surface to be approached for measurement or detection. The accessibility of the detection unit is provided by a transverse channel inclined to or perpendicular to the longitudinal axis of the workpiece holder.
【技术实现步骤摘要】
工件保持件、用于测量工件的测量装置和测量方法
本专利技术涉及用于保持工件的工件保持件,所述工件具有存在于相对工件侧部处的待测量的两个工件表面。本专利技术还涉及用于通过使用工件保持件而测量工件的测量装置和测量方法。
技术介绍
特别是在光学领域中经常可发现在相对工件侧部处相应地具有工件表面(特别是弯曲工件表面)的工件。工件表面可至少以部段地是球面或非球面的,或可具有自由形式。工件也可为微透镜和/或圆柱形光学件的阵列。正好,光学工件要求测量工件表面的特征参数,例如,工件表面的形状和/或每个工件表面的一个或更多个光学轴线的位置和/或定向。在此情况下,决定性的是,参考另一表面的至少一个几何形状参数而准确地知道一个表面的至少一个几何形状参数。例如,从DE102014208636A1或DE102016110453A1中已知工件的工件表面或光学工件表面的测量。在现有技术中,做出了高度努力以布置透镜组中的透镜或物镜,使得透镜组或物镜中的偏差最小化。DE102007027200A1提出了用于微光刻的投影照明装置以及定向双非球面的操纵器,从而优化光学系统的成像特征。从DE102013004738A1中已知用于参考基准轴线而目标性调整光学组件部件的方法。DE102008027831A1涉及透镜中间厚度的测量。待检查的透镜被容纳在具有旋转轴线的旋转支撑件上。旋转支撑件围绕其旋转轴线与透镜一起旋转。激光束平行于旋转轴线被引导通过旋转透镜,并且在激光束穿过透镜之后,空间性光传感器探测激光束的摆动圈。透镜而后相对于旋转支撑件 ...
【技术保护点】
1.工件保持件(35),被配置成在利用探测单元(26)测量的期间保持工件,所述工件在相对工件侧部处具有待测量的两个工件表面(24a、24b),所述探测单元(26)能够沿着工件表面(24a、24b)移动,/n所述工件保持件(35)具有支撑件(36),所述支撑件(36)被配置成与测量装置(20)的夹持装置(23)连接,/n所述工件保持件(35)具有保持主体(39),所述保持主体(39)在所述支撑件(36)处与附接端部(40)附接,并且从所述支撑件(36)延伸到自由保持端部(41),所述自由保持端部(41)被布置成在所述工件保持件(35)的纵向轴线(L)的方向上从所述附接端部(40)具有一定距离,/n其中,在所述保持端部(41)处,存在有至少一个保持表面(42、43),所述保持表面(42、43)被配置用于在所述工件(24)的周边区域处接触,/n并且其中,在所述保持主体(39)中,存在有自由空间(47),所述纵向轴线(L)延伸通过所述自由空间(47),并且所述自由空间(47)包括具有周边开口(50)的至少一个横向通道(49),用于所述探测单元(26),能够通过所述周边开口(50)从外部相对于所 ...
【技术特征摘要】
20180514 DE 102018111368.41.工件保持件(35),被配置成在利用探测单元(26)测量的期间保持工件,所述工件在相对工件侧部处具有待测量的两个工件表面(24a、24b),所述探测单元(26)能够沿着工件表面(24a、24b)移动,
所述工件保持件(35)具有支撑件(36),所述支撑件(36)被配置成与测量装置(20)的夹持装置(23)连接,
所述工件保持件(35)具有保持主体(39),所述保持主体(39)在所述支撑件(36)处与附接端部(40)附接,并且从所述支撑件(36)延伸到自由保持端部(41),所述自由保持端部(41)被布置成在所述工件保持件(35)的纵向轴线(L)的方向上从所述附接端部(40)具有一定距离,
其中,在所述保持端部(41)处,存在有至少一个保持表面(42、43),所述保持表面(42、43)被配置用于在所述工件(24)的周边区域处接触,
并且其中,在所述保持主体(39)中,存在有自由空间(47),所述纵向轴线(L)延伸通过所述自由空间(47),并且所述自由空间(47)包括具有周边开口(50)的至少一个横向通道(49),用于所述探测单元(26),能够通过所述周边开口(50)从外部相对于所述纵向轴线(L)径向接近所述自由空间(47)。
2.根据权利要求1所述的工件保持件,其特征在于,所述至少一个横向通道(49)在所述保持端部(41)处在平行于所述纵向轴线(L)的方向上穿过所述保持主体(39)。
3.根据权利要求1或2所述的工件保持件,其特征在于,所述自由空间(47)包括多个横向通道(49),每个横向通道(49)具有周边开口(50),其中,所述周边开口(50)被布置成围绕所述工件保持件(35)的所述纵向轴线(L)在周向方向(U)上相对于彼此具有一定距离。
4.根据权利要求3所述的工件保持件,其特征在于,所述横向通道(49)使所述保持主体(39)分隔成多个保持主体部件(54),所述保持主体部件(54)被布置成在周向方向(U)上具有一定距离。
5.根据权利要求3或4所述的工件保持件,其特征在于,在沿着所述纵向轴线(L)观察的情况下,所述横向通道(49)以星形的形式布置。
6.根据前述权利要求中任一项所述的工件保持件,其特征在于,所述自由空间(47)在所述纵向轴线(L)的区域中包括中央区域(48),所述中央区域(48)具有至少一个圆柱形或棱柱形部段。
7.根据前述权利要求中任一项所述的工件保持件,其特征在于,每个横向通道(49)包括主要部段(51)和狭长部段(52),所述狭长部段(52)在周向方向(U)上比所述主要部段(51)更小,并且在所述纵向轴线(L)的方向上邻接所述主要部段(51)。
8.根据权利要求7所述的工件保持件,其特征在于,所述狭长部段(52)被布置在所述保持主体(39)的所述保持端部(41)处。
9.根据权利要求7或8所述的工件保持件,其特征在于,所述主要部段(51)被布置成比所述狭...
【专利技术属性】
技术研发人员:M拜内曼,
申请(专利权)人:卡尔·马尔控股有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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