A method for providing the measured value of the technical equipment (2) is proposed, in which the measured value (7) of at least one measurement series is detected, and the corresponding measured value is provided by the measurement sensor (MS1 \u2011 MSM) of the technical equipment (2) for the corresponding measurement time point, and the measured value is provided by the threshold comparison and at least one of them Its method stage is classified as normal measurement (10) or abnormal measurement (11), and the other method stage includes calculating one or more statistical position parameters for the measurement values selected from the same and / or different measurement series. The reliability of the measured value can be improved by this method. A technical system (1) with a technical device (2), at least one measuring sensor (MS1 \u2011 MSM), a program control device (4) and a method for running the technical system (1) are also proposed.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于提供技术设备的测量值的方法、技术系统和用于运行技术系统的方法
本专利技术涉及:一种用于提供技术设备的测量值的方法;一种技术系统,其具有该技术设备、至少一个测量传感器和程序控制装置;以及一种用于运行技术系统的方法。
技术介绍
技术设备、诸如在发电厂中的燃气或风力涡轮机越来越复杂。因而,为了这种设备的少维护并且高效的运行,使用技术系统来进行监视和控制,其中测量传感器测量技术设备的测量值,根据这些测量值来评价由技术设备和测量传感器构成的技术系统的运行状态并且根据该评价来改变技术设备的运行参数。例如,依据这些测量值可以确定在成本效益方面最优的为了维护目的而停用技术设备的时间点并且在所确定的最优的时间点停用该技术设备。对技术系统的运行状态的评价可以由技术设备的操作者手动地进行或者在通过程序控制装置来执行的方法中自动地进行。技术设备、诸如燃气或风力涡轮机的特点可在于极端条件,如高温、压力或流量率,这些极端条件导致所使用的测量传感器的故障率提高。然而,不可靠的、有错误的或者其它方面异常的测量值可能降低根据测量值对技术设备的运行状态的评价的可靠性,这可能对通过改变技术设备的运行参数来进行的运行有不利影响。
技术实现思路
在该背景下,本专利技术所基于的任务在于:提出了一种用于提供技术设备的测量值的方法,该方法改善了由该方法提供的测量值的可靠性。因此,提出了一种用于提供技术设备的测量值的方法,其中检测至少一个测量系列的测量值,其中相应的测量值由技术设备中的针对相应的物理测量参量的测 ...
【技术保护点】
1.一种用于提供(S5)技术设备(2)的测量值的方法,其中检测(S1)至少一个测量系列的测量值(7),其中相应的测量值由所述技术设备(2)中的针对相应的物理测量参量的测量传感器(MS1-MSm)针对相应的测量时间点来提供(S0),而且所述测量值借助于阈值比较(S2)和/或至少一个其它方法阶段(S3)被归类(S4)为正常测量值(10)或异常测量值(11),其中所述其它方法阶段(S3)包括:针对从同一和/或不同测量系列中选出的测量值来计算(S13、S19)一个或多个统计位置参数。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
【国外来华专利技术】20170131 DE 102017201548.91.一种用于提供(S5)技术设备(2)的测量值的方法,其中检测(S1)至少一个测量系列的测量值(7),其中相应的测量值由所述技术设备(2)中的针对相应的物理测量参量的测量传感器(MS1-MSm)针对相应的测量时间点来提供(S0),而且所述测量值借助于阈值比较(S2)和/或至少一个其它方法阶段(S3)被归类(S4)为正常测量值(10)或异常测量值(11),其中所述其它方法阶段(S3)包括:针对从同一和/或不同测量系列中选出的测量值来计算(S13、S19)一个或多个统计位置参数。
2.根据权利要求1所述的方法,所述方法包括:
利用如下步骤来执行第一方法阶段(S2):
检测所述至少一个测量系列的至少一个测量值,
将所述至少一个测量值与预先给定的阈值(8a)进行比较,从而产生比较结果,而且
根据所述比较结果,将所述至少一个测量值标识为正常测量值或者异常测量值,
执行第二和/或第三方法阶段(S3),
其中所述第二方法阶段(S3)包括:
检测多个测量系列的多个被选出的测量值,其中所述多个被选出的测量值由不同的测量传感器(MS1-MSm)针对同一测量参量和同一测量时间点来提供,
计算被选出的测量值的统计位置参数(μv),
针对所检测到的被选出的测量值中的至少一个测量值:
将所述至少一个测量值与所述统计位置参数(μv)进行比较,而且如果所述至少一个测量值与所述统计位置参数(μv)偏差了超过预先给定的相对(RD)偏差或者绝对(AD)偏差(8b),则将所述至少一个测量值标识为第二种类型的异常测量值,
其中所述第三方法阶段(S3)包括:
检测具有测量值的测量系列,其中所述测量值由测量传感器针对同一测量参量和不同的测量时间点来提供而且在所述测量系列中的测量值按时间排序,而且
针对所述测量系列的所检测到的测量值中的至少一个测量值:
针对同一测量系列的预先给定的第一数目(wb)个测量值来确定(S19)第一统计位置参数(μb)和第一统计离散参数(σb),所述第一数目个测量值在时间上先于所述测量系列的所述至少一个测量值,
针对同一测量系列的预先给定的第二数目(wf)个测量值来确定(S19)第二统计位置参数(μf)和第二统计离散参数(σf),所述第二数目个测量值在时间上晚于所述测量系列的所述至少一个测量值,
计算所述至少一个测量值和所述第一统计位置参数(μb)之差的数值与所述第一统计离散参数(σb)的第一商(Qb),
计算所述至少一个测量值和所述第二统计位置参数(μf)之差的数值与所述第二统计离散参数(σf)的第二商(Qf),
如果所述第一商(Qb)大于或等于预先给定的第一比较值(kb)并且所述第二商(Qf)大于或等于预先给定的第二比较值(kf),则将所述至少一个测量值标识(S21、S22)为第三种类型的异常测量值,或者如果所述第一商(Qb)小于所述预先给定的第一比较值(kb)或所述第二商(Qf)小于所述预先给定的第二比较值(kf),则将所述至少一个测量值标识(S21、S22)为正常测量值。
3.根据权利要求2所述的方法,其中
所述统计位置参数(μv)是中位值、平均值或者双权平均值;
所述第一统计位置参数(μb)和所述第二统计位置参数(μf)分别是平均值、中位值或者双权平均值,而
技术研发人员:N加塔,M文图里尼,GF策奇尼,A菲什金,T胡鲍尔,A穆拉拉素,M罗什钦,
申请(专利权)人:西门子股份公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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