一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具制造技术

技术编号:22551831 阅读:46 留言:0更新日期:2019-11-13 18:15
本实用新型专利技术公开了一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,包括基座,所述基座的后侧连接有背板,背板的底端通过导杆穿过上板与基座连接,背板上设有平行的竖直滑槽,竖直滑槽通过高度调节旋钮连接有滑板,滑板上的孔位通过轴转动连接有手动把手,压合推杆的底部通过固定块打上螺栓固定连接有上板,上板的右侧设有向下的测试针A,上板的正下方设有中板,中板通过滑动导柱与下板连接,下板右侧正对的测试针A的位置设有向上设置的测试针B,下板固定在基座的表面。该可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,由于采用焊点探针接触的方式,避免人为反复焊接带来的端子产品的损坏,减轻人体作业强度缓解疲劳损伤,节约人力成本。

A kind of contact type functional testing tool which can realize the fixed-point positioning of dense solder joints

The utility model discloses a contact type functional testing tool which can realize the fixed-point positioning probe of intensive welding points, including a base, the back side of the base is connected with a back plate, the bottom end of the back plate is connected with the base through a guide rod through the upper plate, the back plate is provided with a parallel vertical chute, the vertical chute is connected with a sliding plate through a height adjusting knob, and the hole position on the sliding plate is connected with a hand through the shaft rotation The bottom of the pressing push rod is connected with the upper plate by fixing the bolt on the fixed block, the right side of the upper plate is provided with a downward test pin a, the right lower part of the upper plate is provided with a middle plate, the middle plate is connected with the lower plate through a sliding guide post, the right side of the lower plate is directly opposite to the position of the test pin a, which is provided with an upward test pin B, and the lower plate is fixed on the surface of the base. This kind of tool can realize the contact function test of the fixed-point positioning probe of the dense solder joint. Because of the way of the contact of the solder joint probe, it can avoid the damage of the terminal products caused by the repeated welding, reduce the intensity of human operation, alleviate the fatigue damage, and save the labor cost.

【技术实现步骤摘要】
一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具
本技术涉及测试治具,具体涉及一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具。
技术介绍
目前尤其是手机市场上出现越来越多的专用连接器接头,含有复杂的芯片货PCB加工工艺,其功能复杂,加工难度也比较高,其测试又是诸多工厂的难点。现有技术问题点:产品在生产过程中无法避免会出现不良的产品,而本产品是需要将芯线焊接至连接器PCB板焊点才能实现完整的功能测试。其存在以下缺陷:一,端子需要人工焊接芯线才能进行功能测试判定。二,即使功能良好的连接器,二次或多次焊接容易导致连接器的损坏。三,测试完成需要手工拆卸端子及连接线,也可能造成一定比例的损坏。四,测试要求高,具有一定焊接和测试经验的人才能完成此项工作。五,焊接测试前后需要的时间长,判定效率低,且需反复拆卸芯线,耗费人力物力!
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,包括基座,所述基座的后侧连接有背板,背板的底端通过导杆穿过上板与基座连接,背板上设有平行的竖直滑槽,竖直滑槽通过高度调节旋钮连接有滑板,滑板上的孔位通过轴转动连接有手动把手,手动把手的孔位通过销轴与连接件的一端连接,连接件的另一端通过销轴连接有压合推杆,压合推杆的底部通过固定块打上螺栓固定连接有上板,上板的右侧设有向下的测试针A,上板的正下方设有中板,中板通过滑动导柱与下板连接,下板右侧正对的测试针A的位置设有向上设置的测试针B,下板固定在基座的表面。优选的,所述上板的右部靠近测试针A的位置设有测试针过线孔。优选的,所述中板的右侧正对测试针A和测试针B的位置设有避空位,且中板上表面设有固定槽。优选的,所述基座的正面设有外部设备接口。本技术的技术效果和优点:该可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,采用全新设计定点定位接触式探针测试装置,操作简单,被测试端子产品可直接放在治具定位槽上,轻按压下手摇柄,使定点定位的上下面探针同时接触PCB板上下表面所需测试的功能焊点;由于采用焊点探针接触的方式,避免人为反复焊接带来的端子产品的损坏,减轻人体作业强度缓解疲劳损伤,其次,探针接触式功能测试效率远高于人工焊接时功能测试,实现效率和品质都提升,从而达到节约人力成本。附图说明图1为本技术的结构示意图;图2为本技术的右视图。图中:1基座、2背板、3手动把手、4竖直滑槽、5高度调节旋钮、6连接件、7导杆、8压合推杆、9上板、10固定槽、11滑动导柱、12中板、13下板、14测试针过线孔、15避空位、16外部设备接口、17测试针A、18测试针B、19滑板、20固定块。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。本技术提供了如图1-2所示的一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,包括基座1,所述基座1的后侧连接有背板2,背板2的底端通过导杆7穿过上板9与基座1连接,背板2上设有平行的竖直滑槽4,竖直滑槽4通过高度调节旋钮5连接有滑板19,滑板19上的孔位通过轴转动连接有手动把手3,手动把手3的孔位通过销轴与连接件6的一端连接,连接件6的另一端通过销轴连接有压合推杆8,压合推杆8的底部通过固定块20打上螺栓固定连接有上板9,上板9的右侧设有向下的测试针A17,上板9的正下方设有中板12,中板12通过滑动导柱11与下板13连接,下板13右侧正对的测试针A17的位置设有向上设置的测试针B18,下板13固定在基座1的表面。所述上板9的右部靠近测试针A17的位置设有测试针过线孔14,所述中板12的右侧正对测试针A17和测试针B18的位置设有避空位15,且中板12上表面设有固定槽10,所述基座1的正面设有外部设备接口16,包括但不限于喇叭耳机、显示器等等。工作原理:将欲连接的设备固定在中板12的固定槽10内,再连接器插入欲连接的设备的接口,向正面方向扳动手动把手3,当下压时,压合推杆8带动上板9下移,向下的测试针A17接触欲测试连接器上面的测试点,接着推动中板12沿着滑动导柱11向下移动使欲测试连接器下面的测试点接触下板13向上的测试针B18。此时欲连接的设备便通过欲测试的连接器及外部设备接口16和外部设备连接,通过相应的功能操作,便可以判定欲测试连接其的好坏。最后应说明的是:以上所述仅为本技术的优选实施例而已,并不用于限制本技术,尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,包括基座(1),其特征在于:所述基座(1)的后侧连接有背板(2),背板(2)的底端通过导杆(7)穿过上板(9)与基座(1)连接,背板(2)上设有平行的竖直滑槽(4),竖直滑槽(4)通过高度调节旋钮(5)连接有滑板(19),滑板(19)上的孔位通过轴转动连接有手动把手(3),手动把手(3)的孔位通过销轴与连接件(6)的一端连接,连接件(6)的另一端通过销轴连接有压合推杆(8),压合推杆(8)的底部通过固定块(20)打上螺栓固定连接有上板(9),上板(9)的右侧设有向下的测试针A(17),上板(9)的正下方设有中板(12),中板(12)通过滑动导柱(11)与下板(13)连接,下板(13)右侧正对的测试针A(17)的位置设有向上设置的测试针B(18),下板(13)固定在基座(1)的表面。

【技术特征摘要】
1.一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具,包括基座(1),其特征在于:所述基座(1)的后侧连接有背板(2),背板(2)的底端通过导杆(7)穿过上板(9)与基座(1)连接,背板(2)上设有平行的竖直滑槽(4),竖直滑槽(4)通过高度调节旋钮(5)连接有滑板(19),滑板(19)上的孔位通过轴转动连接有手动把手(3),手动把手(3)的孔位通过销轴与连接件(6)的一端连接,连接件(6)的另一端通过销轴连接有压合推杆(8),压合推杆(8)的底部通过固定块(20)打上螺栓固定连接有上板(9),上板(9)的右侧设有向下的测试针A(17),上板(9)的正下方设有中板(12),中板(12)通过滑动导柱(11)与下板(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:田黎
申请(专利权)人:深圳市欧普索科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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