一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，包括：激光器；分光镜，定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射，并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜；以及光谱仪，所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱，本实用新型专利技术通过被检物的反斯托克斯光来识别被检物，由于采集到的被检物的反斯托克斯光的波长小于激光的波长，而荧光的波长大于激光的波长，被检物的反斯托克斯光与荧光在不同波段，二者没有重叠，故荧光不会对被检物的反斯托克斯拉曼信号产生影响，从而就消除了荧光的干扰。

A Raman detection system for eliminating fluorescence interference

The utility model discloses a Raman detection system for eliminating fluorescence interference, which includes: a laser; a spectroscope, which is positioned to reflect the laser from the laser to the tested object, and only allow the anti Stokes light from the tested object to transmit through the spectroscope; and a spectrometer, which receives the light from the tested object and transmits through the spectroscope The anti Stokes light of the tested object is analyzed to obtain the Raman spectrum of the tested object. The utility model recognizes the tested object through the anti Stokes light of the tested object. Because the wavelength of the anti Stokes light of the collected tested object is less than the wavelength of the laser, and the fluorescence wavelength is greater than the wavelength of the laser, the anti Stokes light and fluorescence of the tested object In different wavebands, there is no overlap between them, so the fluorescence will not affect the anti Stokes Raman signal of the detected object, thus eliminating the interference of fluorescence.

【技术实现步骤摘要】
一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统
本技术涉及一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统。
技术介绍
当一定频率的激光照射在物质上时，物质被激光激发以后会产生斯托克斯散射线和反斯托克斯散射线。其中，斯托克斯散射线是频率比激光频率低的、波长比激光长的变散射线，反斯托克斯散射线是频率比激光频率高的、波长比激光短的变散射线。斯托克斯散射线和反斯托克斯散射线均具有可以用于识别物质的指纹特征。采用拉曼光谱对物质进行检测时，通常采用的是斯托克斯散射线，利用斯托克斯射线的指纹特征对物质进行识别。不过，斯托克斯散射线的产生往往会同时伴随着荧光的产生。斯托克斯散射线的波长大于激光的波长，荧光的波长也大于激光的波长，因此在采用斯托克斯散射线对物质进行拉曼检测时，常常会受到荧光的干扰，并且由于荧光信号远远高于斯托克斯散射线的拉曼信号，导致很多物质由于荧光干扰而无法进行精确地检测。
技术实现思路
本技术的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。本技术提供一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，该用于消除荧光干扰的拉曼检测系统通过被检物的反斯托克斯信号来识别被检物，可以消除荧光对被检物的拉曼信号的影响。根据本技术的一个方面，提供一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，包括：激光器；分光镜，定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射，并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜；以及光谱仪，所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱。根据本技术的一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括反射镜，所述反射镜定位成将来自所述激光器的激光反射至所述分光镜。根据本技术的另一个实施例，所述分光镜设置在所述激光器的直射光路上，所述被检物设置在所述分光镜的反射光路上，所述光谱仪设置在所述分光镜的透射光路上。根据本技术的另一个实施例，所述反射镜设置在所述激光器的直射光路上，所述分光镜设置在所述反射镜的反射光路上，所述被检物设置在所述分光镜的反射光路上，所述光谱仪设置在所述分光镜的透射光路上。根据本技术的另一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括探头，所述激光器将激光传送给所述探头，以便所述探头使激光照射到所述分光镜上，并通过所述分光镜将激光反射至所述被检物上以激发出所述被检物的反斯托克斯光，所述探头收集来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪。根据本技术的另一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括探头，所述激光器将激光传送给所述探头，以便所述探头使激光照射到所述反射镜上，并依次通过所述反射镜和所述分光镜将激光反射至所述被检物上以激发出所述被检物的反斯托克斯光，所述探头收集来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪。根据本技术的一个实施例，所述探头还包括导入光纤和收集光纤，或者拉曼检测系统还包括与所述探头分开设置的导入光纤和收集光纤，其中，所述激光器通过所述导入光纤将激光传送到所述探头内部，所述反斯托克斯光通过所述收集光纤传送给所述光谱仪。根据本技术的一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括第一透镜和第二透镜，所述第一透镜设置在所述激光器的直射光路上，所述第二透镜设置在所述分光镜的反射光路上，激光经过所述第一透镜成为平行光并照射至所述分光镜上，经所述分光镜反射的平行光经过所述第二透镜聚焦到所述被检物上。根据本技术的另一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括第一透镜和第二透镜，所述第一透镜设置在所述激光器的直射光路上，所述第二透镜设置在所述分光镜的反射光路上，激光经过所述第一透镜成为平行光并照射至所述反射镜上，所述反射镜将所述平行光反射至所述分光镜上，所述分光镜反射所述平行光并且经所述分光镜反射的平行光经过所述第二透镜聚焦到所述被检物上。根据本技术的又一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括第三透镜，所述第三透镜设置在所述分光镜的透射光路上，来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光经过所述第三透镜聚焦后被传送给所述光谱仪。根据本技术的一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括窄带滤波片，所述窄带滤波片设置在所述激光器的直射光路上，所述激光器的激光经过所述窄带滤波片滤光后照射到所述分光镜上。根据本技术的一个实施例，用于消除荧光干扰的拉曼检测系统还包括短通滤波片，所述短通滤波片设置在所述分光镜的透射光路上，来自所述被检物并透射通过所述分光镜的反斯托克斯光经过所述短通滤波片滤光后被传送给所述光谱仪。根据本技术的一个实施例，所述激光器为785nm半导体激光器。根据本技术的一个实施例，所述分光镜为45°二向色镜。本技术的上述各种实施例提出了一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，该用于消除荧光干扰的拉曼检测系统通过被检物的反斯托克斯信号来识别被检物，由于采集到的被检物的反斯托克斯光的波长小于激光的波长，而荧光的波长大于激光的波长，被检物的反斯托克斯光与荧光在不同波段，二者没有重叠，故荧光不会对被检物的反斯托克斯拉曼信号产生影响，从而就消除了荧光的干扰。通过下文中参照附图对本技术所作的描述，本技术的其它目的和优点将显而易见，并可帮助对本技术有全面的理解。附图说明图1显示根据本技术的一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图；图2显示根据本技术的另一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图；图3显示根据本技术的又一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图。附图标记：1-激光器，2-反射镜，3-分光镜，4-被检物，5-光谱仪，6-探头，7-导入光纤，8-收集光纤，9-第一透镜，10-第二透镜，11-第三透镜，12-窄带滤波片，13-短通滤波片。具体实施方式下面通过实施例，并结合附图，对本技术的技术方案作进一步具体的说明。在说明书中，相同或相似的附图标号指示相同或相似的部件。下述参照附图对本技术实施方式的说明旨在对本技术的总体技术构思进行解释，而不应当理解为对本技术的一种限制。另外，在下面的详细描述中，为便于解释，阐述了许多具体的细节以提供对本披露实施例的全面理解。然而明显地，一个或多个实施例在没有这些具体细节的情况下也可以被实施。在其他情况下，公知的结构和装置以图示的方式体现以简化附图。根据本技术的总体上的专利技术构思，一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，包括：激光器；分光镜，定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射，并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜；以及光谱仪，所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱。图1显示根据本技术的一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图；图2显示根据本技术的另一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图；图3显示根据本技术的又一个实施例的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统的结构示意图。在技术的一种示例性实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，包括：激光器(1)；分光镜(3)，定位成将来自所述激光器(1)的激光向被检物(4)反射，并仅允许来自所述被检物(4)的反斯托克斯光透射通过所述分光镜(3)；以及光谱仪(5)，所述光谱仪(5)接收来自所述被检物(4)且透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物(4)的拉曼光谱。

【技术特征摘要】
1.一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，包括：激光器(1)；分光镜(3)，定位成将来自所述激光器(1)的激光向被检物(4)反射，并仅允许来自所述被检物(4)的反斯托克斯光透射通过所述分光镜(3)；以及光谱仪(5)，所述光谱仪(5)接收来自所述被检物(4)且透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物(4)的拉曼光谱。2.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括反射镜(2)，所述反射镜(2)定位成将来自所述激光器(1)的激光反射至所述分光镜(3)。3.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述分光镜(3)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。4.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述反射镜(2)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述分光镜(3)设置在所述反射镜(2)的反射光路上，所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。5.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括探头(6)，所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6)，以便所述探头(6)使激光照射到所述分光镜(3)上，并通过所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光，所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。6.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括探头(6)，所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6)，以便所述探头(6)使激光照射到所述反射镜(2)上，并依次通过所述反射镜(2)和所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光，所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。7.根据权利要求5或6所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述探头(6)还包括导入光纤(7)和收集光纤(8)，或者拉曼检测系统还包括与...

【专利技术属性】
技术研发人员：张建红，王红球，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11