一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统技术方案

一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，包括半导体激光器、第一偏振分光棱镜、激光多普勒干涉单元和激光迈克尔逊干涉单元；该第一偏振分光棱镜位于半导体激光器的发射端以将光束分成S偏振分量和P偏振分量；该激光多普勒干涉单元接收P偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量线性直线度误差；该激光迈克尔逊干涉单元接收S偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量角度直线度误差。本实用新型专利技术系统不仅拥有较高的精度，还简化了系统结构与检测过程，能够提供完备的直线度信息。

A straightness measurement system based on grating interference principle

A straightness measurement system based on the principle of grating interference includes a semiconductor laser, a first polarization beam splitting prism, a laser Doppler interference unit and a laser Michelson interference unit; the first polarization beam splitting prism is located at the transmitting end of the semiconductor laser to divide the beam into S polarization component and p polarization component; the laser Doppler interference unit receives p polarization component for acquisition The laser Michelson interference unit receives the S polarization component, which is used to collect four interference signals with the phase difference of 90 \u00b0 for measuring the angle straightness error. The system of the utility model not only has high precision, but also simplifies the system structure and detection process, and can provide complete straightness information.

【技术实现步骤摘要】
一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统
本技术涉及以光学技术为基础的精密测量方法领域，特别是一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统。
技术介绍
直线度误差分为线性直线度误差和角度直线度误差，是线性位移平台必须得到精密测量与严格控制的基本几何公差之一，也是表征其性能的重要几何参数。在精密加工领域，线性位移平台的稳定性、动态性和精度至关重要，它们是提高产品生产率和可靠性的基础。位移平台在工作时难免存在直线度误差，而为了达到理想的补偿效果，首先必须有一种高精度、高分辨率以及高稳定性的误差检测方法。因此，一种完备直线度测量方法的设计有着非常实际的意义和广泛的用途。据查阅相关文献，传统的位移平台直线度测量方法大致包含以下几类：第一类是水平仪测量法，将水平仪放置于待测平台上，记录并分析位移平台工作时，水平仪气泡的移动情况；第二类是自准直仪测量法，利用光学的自准直原理，通过记录反射光线焦点的偏离中心位移情况，换算出位移平台的角度偏转；第三类是激光干涉仪测量法，同上述两种直线度测量方法相比，其最主要的优点就是测量距离长、速度快、精度高，但其体积往往比较大，且对工作环境的要求极为严格，外部环境的变化会使得测量结果不稳定。针对现存的直线度测量方法，它们的系统结构往往略显复杂、体积臃肿、数据采集与处理难度较大、分辨率不高，难以实现高精度测量。不仅如此，市面上的仪器还存在着一个共同的缺点，那就是它们往往只能提供线性位移平台的角度直线度误差信息，然而国家标准规定的却是线性直线度误差。因此，检测完成后还必须将传统测量仪器给出的角度误差信息换算成线性误差信息，这便增加了额外的工作量。技术内容本技术的主要目的在于克服现有技术中的上述缺陷，提出一种于光栅干涉原理的直线度测量系统，不仅拥有较高的精度，还简化了系统结构与检测过程，能够提供完备的直线度信息。本技术采用如下技术方案：一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，包括半导体激光器，还包括第一偏振分光棱镜、激光多普勒干涉单元和激光迈克尔逊干涉单元；该第一偏振分光棱镜位于半导体激光器的发射端以将光束分成S偏振分量和P偏振分量；该激光多普勒干涉单元接收P偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量线性直线度误差；该激光迈克尔逊干涉单元接收S偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量角度直线度误差。所述激光多普勒干涉单元包括第一四分之一波片、光路调节器、衍射光栅、第二偏振分光棱镜、第三偏振分光棱镜、半波片、第四平面反射镜、第四偏振分光棱镜、第二四分之一波片和第一鉴相模块；该第一四分之一波片用于将P偏振分量变成圆偏振光，该光路调节器用于将圆偏振光垂直入射至衍射光栅；该衍射光栅与平台相对固定，且将圆偏振光衍射成+1级衍射光和-1级衍射光，-1级衍射光经第三平面反射镜反射后经第三偏振分光棱镜、半波片进入第四偏振分光棱镜，+1级衍射光经第二偏振分光棱镜、第四平面反射镜进入第四偏振分光棱镜，经第四偏振分光棱镜聚集，再经第二四分之一波片变成两束旋向相反的圆偏振光；该第一鉴相模块采集该两束圆偏振光得到所述干涉信号。所述光路调节器包括第一平面反射镜和第二平反射面镜，该第一平面反射镜和第二平面反射镜平行。所述第一鉴相模块包括第一消偏振分光棱镜、第五偏振分光棱镜、第六偏振分光棱镜、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器和第四光电探测器。所述激光迈克尔逊干涉单元包括直角棱镜、第三四分之一波片、衍射光栅、第一偏振分光棱镜、第四四分之一波片和第二鉴相模块；该直角棱镜将和第三四分之一波片将S偏振分量变成圆偏振光并垂直入射至衍射光栅，该衍射光栅与平台相对固定，其零级衍射光经第三四分之一波片变成P偏振光，经直角棱镜反射至第一偏振分光棱镜；所述激光多普勒干涉单元中，所述P偏振分量经的零级衍射光经通过第一四分之一波片变成S偏振光，在第一偏振分光棱镜中与P偏振光汇聚，经过第四四分之一产生左旋光和右旋光；所述第二鉴相模块采集该左旋光和右旋光得到所述干涉信号。所述第二鉴相模块包括第二消偏振分光棱镜、第七偏振分光棱镜、第八偏振分光棱镜、第五光电探测器、第六光电探测器、第七光电探测器和第八光电探测器。由上述对本技术的描述可知，与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：1)该测量方法使用光栅多普勒干涉原理和迈克尔逊干涉原理同时测量平台的线性直线度误差和角度直线度误差。系统可同时产生两种干涉现象，并通过分别解析的方式获得两种直线度误差。2)小型、模块化设计。本系统由两部分光路构成，两部分体积及重量都很小且均衡，因此均可作为随平台位移的动子，和固定于参考系的定子，根据具体应用场合可灵活配置。3)为了提高测量精度与读数的稳定性，本系统采用的位移标准是光栅的栅距，而非激光波长。并且，由于激光的光点直径远大于栅距，刻线误差的影响也被降到了最小。附图说明图1为本技术系统图；图2为本技术激光多普勒干涉单元原理图；图3为激光迈克尔逊干涉单元原理图。1、半导体激光器，2、第一偏振分光棱镜，3、第一四分之一波片，4、直角棱镜，5、第一平面反射镜，6、第二平面反射镜，7、衍射光栅，8、第三平面反射镜，9、第二偏振分光棱镜，10、第三偏振分光棱镜，11、半波片，12、第四平面反射镜，13、第四偏振分光棱镜，14、第二四分之一波片，15、第一消偏振分光棱镜，16、第五偏振分光棱镜，17、第六偏振分光棱镜，18、第一光电探测器，19、第二光电探测器，20、第三光电探测器，21、第四光电探测器，22、第三四分之一波片，23、第四四分之一波片，24、第二消偏振分光棱镜，25、第七偏振分光棱镜，26、第八偏振分光棱镜，27、第五光电探测器，28、第六光电探测器，29、第七光电探测器，30、第八光电探测器。具体实施方式以下通过具体实施方式对本技术作进一步的描述。参照图1至图3,本技术的一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，在基于多普勒频移的光栅干涉仪的基础上再结合迈克尔逊干涉仪，便能够同时测量位移平台运动的线性直线度误差和角度直线度误差。光栅干涉仪是是一种结合了偏振光学与光栅衍射原理的传统高精度位移传感器，其结构相对简单，受外部环境影响而造成的测量误差也比较小。再通过对衍射光栅信号的高精度相位细分，可以大大提高测量系统的分辨率。其基本测量原理是多普勒频移现象，当光源与接收端产生相对运动时，由于光程差的存在，接收端光波的相位与频率都会发生变化，频移量与光程差存在着某种一一对应的关系。反过来，也可以通过多普勒频移的大小，精确测量微小的位移量，即线性位移平台的线性直线度误差；众所周知，两束振动方向与频率均相同，且相位差恒定的相干光在空间上重叠时会产生干涉现象，而角度直线度误差的测量正是基于迈克尔逊干涉的原理而设计的。在干涉系统中，不同波长光源对应的相干长度不同。如氦氖激光器，能产生相干长度很长的激光束。由氦氖激光器发出的两束相干光即便光程差达到几米，照样可以产生显著的干涉现象。而半导体激光器的相干长度很短，两束光光程相差几毫米就没有干涉现象了，而它的优点是体积小、重量轻、价格低。若干涉系统中相干光束光程差较大，则需选用相干长度较长的光源，但此类激光器成本高，且体积很大。为实现测量结构的小型化与模块化，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，包括半导体激光器，其特征在于：还包括第一偏振分光棱镜、激光多普勒干涉单元和激光迈克尔逊干涉单元；该第一偏振分光棱镜位于半导体激光器的发射端以将光束分成S偏振分量和P偏振分量；该激光多普勒干涉单元接收P偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量线性直线度误差；该激光迈克尔逊干涉单元接收S偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量角度直线度误差。

【技术特征摘要】
1.一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，包括半导体激光器，其特征在于：还包括第一偏振分光棱镜、激光多普勒干涉单元和激光迈克尔逊干涉单元；该第一偏振分光棱镜位于半导体激光器的发射端以将光束分成S偏振分量和P偏振分量；该激光多普勒干涉单元接收P偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量线性直线度误差；该激光迈克尔逊干涉单元接收S偏振分量，用于采集四路相位差为90°的干涉信号以供测量角度直线度误差。2.如权利要求1所述的一种基于光栅干涉原理的直线度测量系统，其特征在于：所述激光多普勒干涉单元包括第一四分之一波片、光路调节器、衍射光栅、第二偏振分光棱镜、第三偏振分光棱镜、半波片、第四平面反射镜、第四偏振分光棱镜、第二四分之一波片和第一鉴相模块；该第一四分之一波片用于将P偏振分量变成圆偏振光，该光路调节器用于将圆偏振光垂直入射至衍射光栅；该衍射光栅与平台相对固定，且将圆偏振光衍射成+1级衍射光和-1级衍射光，-1级衍射光经第三平面反射镜反射后经第三偏振分光棱镜、半波片进入第四偏振分光棱镜，+1级衍射光经第二偏振分光棱镜、第四平面反射镜进入第四偏振分光棱镜，经第四偏振分光棱镜聚集，再经第二四分之一波片变成两束旋向相反的圆偏振光；该第一鉴相模块采集该两束圆偏振光得到所述干涉信号。3.如权利要求2所述的一种基于光栅干...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶瑞芳，程方，苏杭，崔长彩，余卿，王寅，
申请(专利权)人：华侨大学，
类型：新型
国别省市：福建,35