The invention relates to optical measurement of displacement. A system and method for measuring the displacement of an optical element include: a transmitter for transmitting an optical signal; a first detector for detecting a reflection of an optical signal from the element; a second detector for detecting a reflection of an optical signal from a raised cover structure; a processor for receiving a reflection of a detection from the first and second detectors, and using The detected reflection from the second detector removes distortion in the detected reflection from the first detector.
【技术实现步骤摘要】
位移的光学测量相关申请的交叉引用本申请要求2018年5月1日提交的美国专利申请序列号62/665,328的优先权,该申请通过引用合并到本申请的公开内容中。
本专利技术涉及用于位移的光学测量的系统和方法。
技术介绍
许多系统受到各种部件的小位移的影响,这通常是由振动引起的。一个例子是扬声器。扬声器是一种电声换能器,它将电信号转换为可听音频信号。在动态扬声器中,电信号被施加到音圈,然后振动,使得连接到音圈的隔板移动,从而产生声波。在扬声器系统中,畸变是大型超低音扬声器驱动器的主要限制,降低了驱动器延伸到深低音频率的能力。畸变被称为存在不需要的谐波频率,并且是由机电音圈系统和扬声器隔板中的非线性引起的。随着频率降低,畸变效应变得更糟,因此限制了扬声器实际上可以输出音频同时保持相当低的畸变的最低频率。如果扬声器被建模为动态系统,输入为音频电压输入,输出为扬声器锥的位移,前馈和/或反馈控制技术可用于校正畸变。控制扬声器用于减少畸变的传统方法依赖于速度和/或加速度测量的积分来确定位移,并且不直接测量位移。这导致位移测量中的误差累积,这对于控制扬声器的前馈方法是不可接受的。
技术实现思路
公开了用于光学测量位移的系统和方法。在一个实施方式中,一种用于测量元件位移的光学系统,包括:位于第一表面上用于发射光学信号的发射器;从所述第一表面位移的凸起的结构;用于检测来自所述元件的光学信号的反射的第一检测器;用于检测来自所述凸起的盖子结构的光学信号的反射的第二检测器;以及放大器,用于接收来自所述第一和第二检测器的检测的反射,并使用来自所述第二检测器的检测的反射来除去来自所述第一检测器 ...
【技术保护点】
1.一种用于测量元件位移的光学系统,包括:位于第一表面上用于发射光学信号的发射器;从所述第一表面位移的凸起的盖子结构;用于检测来自所述元件的光学信号的反射的第一检测器;用于检测来自所述凸起的盖子结构的光学信号的反射的第二检测器;和处理器,用于接收来自所述第一和第二检测器的检测的反射,并使用来自所述第二检测器的检测的反射来除去来自所述第一检测器的检测的反射中的畸变。
【技术特征摘要】
2018.05.01 US 62/665,328;2019.04.04 US 16/375,5511.一种用于测量元件位移的光学系统,包括:位于第一表面上用于发射光学信号的发射器;从所述第一表面位移的凸起的盖子结构;用于检测来自所述元件的光学信号的反射的第一检测器;用于检测来自所述凸起的盖子结构的光学信号的反射的第二检测器;和处理器,用于接收来自所述第一和第二检测器的检测的反射,并使用来自所述第二检测器的检测的反射来除去来自所述第一检测器的检测的反射中的畸变。2.权利要求1所述的光学系统,其中所述元件是扬声器防尘罩,并且所述第一表面是扬声器的轭。3.权利要求1所述的光学系统,其中所述处理器除去由所述发射器发射的光学信号中的变化引起的畸变。4.权利要求1所述的光学系统,还包括带通滤波器,用于对来自所述第一和第二检测器的检测的反射进行滤波。5.权利要求1所述的光学系统,其中所述凸起的盖子结构是平行于所述第一表面定位的平坦表面。6.权利要求1所述的光学系统,其中所述发射器是发光二极管(LED)。7.权利要求1所述的光学系统,其中所述处理器还被配置为校正来自所述第一检测器的检测的反射,以除去由所述光学信号中的变化引起的偏差。8.权利要求7所述的光学系统,其中所述处理器使用来自所述第二检测器的检测的反射来校正来自所述第一检测器的检测的反射。9.权利要求1所述的光学系统,其中所述元件是泵系统中的隔板。10.权利要求1所述的光学系统,还包括放大器,用于放大来自等等第一和第二检测器的检测的反射。11.一种光学测量元件位移的方法,包括:从安装在第一表面上的发射器发射光学信号...
【专利技术属性】
技术研发人员:T·雷,N·J·杰克瑟,N·T·科尔菲斯,C·M·汉纳,M·A·彻维兹,
申请(专利权)人:美国亚德诺半导体公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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