【技术实现步骤摘要】
γ射线检测器
本专利技术的一个方面涉及γ射线检测器。
技术介绍
一直以来，已知有包括具有入射窗和光电面的光电倍增管以及由光学粘合剂粘合在入射窗的外表面的切伦科夫辐射体的γ射线检测器(例如，参考“R.Dolenec等，《硅光电倍增管在切伦科夫TOF-PET中的性能》，核科学学报，卷63，第5期，2016年，2478-2481页”)。
技术实现思路
在如上所述的γ射线检测器中，有时由切伦科夫辐射体释放的切伦科夫光的至少一部分由于切伦科夫辐射体与光学粘合剂之间以及光学粘合剂与入射窗之间的折射率之差，而在它们之间的边界面反复反射。此时，有可能该切伦科夫光被切伦科夫辐射体吸收，光电倍增管的检测光子数減少，γ射线的检测效率和时间分辨率会降低。本专利技术的一个方面的目的是，提供能够使γ射线的检测效率和时间分辨率提高的γ射线检测器。本专利技术的一个方面所涉及的γ射线检测器是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管，入射窗是切伦科夫辐射体(CherenkovRadiator)，光电面隔着中间层而形成于入射窗中的真空侧的面，中间层的厚度为通过γ射线与入射窗相互作用而释放的切...
【技术保护点】
1.一种γ射线检测器，其中，是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管，所述入射窗是切伦科夫辐射体，所述光电面隔着中间层而形成于所述入射窗中的真空侧的面，所述中间层的厚度为通过所述γ射线与所述入射窗相互作用而释放的切伦科夫光的波长以下。
【技术特征摘要】
2018.04.26 JP 2018-0854101.一种γ射线检测器，其中，是检测γ射线的检测器，包括具有入射窗和光电面的光电倍增管，所述入射窗是切伦科夫辐射体，所述光电面隔着中间层而形成于所述入射窗中的真空侧的面，所述中间层的厚度为通过所述γ射线与所述入射窗相互作用而释放的切伦科夫光的波长以下。2.如权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：大田良亮，须山本比吕，下井英树，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。