一种延时电路及其数字恒流驱动控制电路制造技术

本实用新型专利技术公开一种延时电路及其数字恒流驱动控制电路，一种延时电路，包括：与门、控制开关、电阻R3、二极管D2以及电容C3；所述二极管D2的阳极连接与门的第一输入端，电阻R3的一端连接于所述与门的第二输入端，二极管D2的阴极与所述电阻R3的另一端连接；所述电容C3阳极同时连接与门的第一输入端和第二输入端，电容C3的阴极接地，与门的输出端连接于控制开关的控制端。该控制开关打开的时间得到了延时，实现了延时跳变的作用，电路结构简单可靠，故障率低。基于延时电路的数字恒流驱动控制电路取代了传统的软件强制屏蔽方案，使延时准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种延时电路及其数字恒流驱动控制电路
本技术涉及供电系统
，具体涉及一种延时电路及其数字恒流驱动控制电路。
技术介绍
如图1为现有技术的数字恒流驱动控制电路，主要包括LD器件（LD灯）、开关MOS管Q1，恒流控制MOS管Q2、用于驱动开关MOS管Q1的开关MOS管驱动模块、用于驱动恒流控制MOS管Q2的恒流MOS管驱动模块，其中，开关MOS管Q1驱动模块和恒流控制MOS管驱动模块均由MCU模块控制控制，LD器件的电路设置阳极压降检测点V+、阴极压降检测点V-以及驱动电流检测点I，这些检测点均被MCU模块的I/O端口采集、处理，并根据这些检测点控制开关MOS管Q1，恒流控制MOS管Q2的工作。具体地说，1-SW信号用于控制开关MOS管Q1，2-SW用于控制恒流控制MOS管Q2，V+为LD的阳极压降检测，V-为LD的阴极压降检测，I为LD的驱动电流检测。MCU模块（主控芯片）通过I/O采集检测点信息，并经计算和处理来判定LD器件环路是否正常工作，从而决定是否驱动恒流控制MOS管Q2和开关MOS管Q1工作，以达到保护整个恒流驱动系统的效果。如图2为图1中恒流MOS管驱动模块内部电路图，其包括与MCU模块连接的与非门IC1A、以与非门IC1A的输出端作为CP端（脚3）的触发器IC2A（型号为：74HC74）、输出端连接于恒流控制MOS管Q2的与门IC3A，与门IC3A的输入端分别连接触发器IC2A的输出端（脚6）和MCU模块的Reset端。FAULT_1,FAULT_2，FAULT_3，FAULT_4，FAULT_5，FAULT_6，FAULT_7，FAULT_8为MCU模块输出的逻辑信号（用于恒流控制MOS管模块的输出），高电压为正常，低电压为错误。这8路报错信号正常时候全部为高电平（H），与非门IC1A的8脚输出为低电平（L），结合图2，并根据触发器IC2A的真值表（表1所示）使用的时候，需要给（即图2触发器中的1脚）先置于低电平L状态，将6脚置位为高电平H状态，将系统保持在正常工作状态（表中：工作状态2），并马上将翻转为H，当与非门IC1A的输入脚出现翻转时，触发器IC2A的3脚（CP）上升沿触发，触发器IC2A输出脚6脚跳转为L，进入到异常状态（表中：工作状态5），与门IC3A输出低电平，从而关断恒流控制MOS管，避免电路发生异常情况下该恒流控制MOS管依然工作，从而起到保护恒流控制MOS管作用。表1：在开机时候，因部分检测点的信号例如电流检测点信号I，若开关MOS管Q1未开通，LD器件环路无电流，MCU模块采集到的电流检测点I信号异常（无信号）便送出错误驱动信号导致无法开通开关MOS管Q1，从而电路无法打开工作，如此形成自锁的死循环。为解决上述问题，现有技术的做法为：在现有的保护电路模块中，利用软件控制时序，先强制将电流检测点I报错屏蔽，后开启开关MOS管Q1完成后，再打开电流检测点I报错让其恢复检测功能。这种情况常常因为程序循环执行的时间的不确定性导致误报错。这个方法设计的软件时序非常复杂，会出现设备误报错误，若MCU模块屏蔽时间过长，导致实际错误未报，烧坏LD器件，造成具大的经济损失。
技术实现思路
综上所述，本技术旨在解决现有技术软件时序非常复杂，会出现设备误报错误，若MCU模块屏蔽时间过长，导致实际错误未报，烧坏LD器件，造成具大的经济损失等技术问题，而公开了一种延时电路及其数字恒流驱动控制电路为了解决上述技术问题，本技术提供一种延时电路，包括：与门、控制开关、电阻R3、二极管D2以及电容C3；所述二极管D2的阳极连接与门的第一输入端，电阻R3的一端连接于所述与门的第二输入端，二极管D2的阴极与所述电阻R3的另一端连接；所述电容C3阳极同时连接与门的第一输入端和第二输入端，电容C3的阴极接地；与门的输出端连接于控制开关的控制端。二极管D2的阴极与所述电阻R3的另一端连接该连接处的任意一处可以引出一个信号端，可以直接从二极管D2的阴极处引出该信号端；使用的时候，将外部信号源（可以是电源，或者控制器输出端）连接于信号端，信号为高电平时候，二极管D2反向，电流无法直接流过二极管D，只能经过电阻R3慢慢对电容C3充电，当电容C3阳极的电压为高电平时，二极管D2两端电压都为高电平，即与门的第一输入端和第二输入端均为高电平，故与门的输出也为高电平，此高电平可以驱动控制开关的控制端，使控制开关打开。即该控制开关打开的时间得到了延时，实现了延时跳变的作用，电路结构简单可靠，故障率低。在一些实施方式中，所述控制开关为4路双向模拟开关，型号为：74HC4066。在一些实施方式中，所述控制开关为三极管。三极管的基极作为控制端连接于与门的输出端。在一些实施方式中，所述二极管D2的阴极引出信号端。本技术的另一方面还提供了一种数字恒流驱动控制电路，包括，MCU模块、与非门IC1A、触发器IC2A、恒流控制MOS管Q2以及第二与门IC3A；所述MCU模块的信号输出端连接于与非门IC1A，与非门IC1A输出端连接于触发器IC2A的CP端；所述第二与门IC3A的输入端分别连接于触发器IC2A的输出端和MCU模块的Reset端；还包括以上任一项所述的延时电路；所述控制开关串联连接于与非门IC1A与触发器IC2A之间，所述二极管D2的阴极引出信号端，所述信号端连接于MCU模块的reset端。开机时候，MCU模块将信号经reset端输出，经过延时电路延时特定的时间后，延时电路的控制开关才打开，也即使与非门IC1A输出端与触发器IC2A的CP端连通，检测功能开始工作；即，该数字恒流驱动控制电路的开关MOS管Q1已经打开，同时，由于触发器IC2A的人为事先设置输出高电平，恒流控制MOS管Q2也已经打开，而此时电流测点I（或者其他测点）的检测功能被延时发挥，也即等到LD器件环路正常工作后检测功能延时到期才自动打开，这样可以避免开机时候电流检测点I报错而无法发开机，进入死循环，同时，本技术采用硬件延时，相比于现有技术的软件强制延时方案，其不仅能避免程序的复杂设计，并且能精准控制延时时间，能将延时时间控制在最合理的范围内。在不占用软件资源的情况下，最直接有效的完成触发器电路的跳转。在一些实施方式中，所述触发器IC2A的型号为：74HC74。采用上述技术方案，与现有技术相比，本技术所产生的有益效果在于：本技术电路采用硬件延时电路，不仅能避免程序的复杂设计，并且能精准控制延时时间，能将延时时间控制在最合理的范围内。在不占用软件资源的情况下，最直接有效的完成触发器电路的跳转。具有很强的实用性。【附图说明】图1为现有技术中的数字恒流驱动控制电路示意图；图2为图1中数字恒流驱动控制电路的恒流MOS管驱动模块示意图；图3为本技术的延时电路示意图；图4为本技术的数字恒流驱动控制电路示意图中的恒流MOS管驱动模块示意图。【具体实施方式】下列实施例是对本技术的进一步解释和补充，对本技术不会构成任何限制。如图3所示，本技术的一种延时电路，包括：与门10、控制开关20、电阻R3、二极管D2以及电容C3；所述二极管D2的阳极连接与门10的第一输入端，电阻R3的一端连接于所述与门10的第二输入端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种延时电路，其特征在于，包括：与门（10）、控制开关（20）、电阻R3、二极管D2以及电容C3；所述二极管D2的阳极连接与门（10）的第一输入端，电阻R3的一端连接于所述与门（10）的第二输入端，二极管D2的阴极与所述电阻R3的另一端连接；所述电容C3阳极同时连接与门（10）的第一输入端和第二输入端，电容C3的阴极接地；与门（10）的输出端连接于控制开关（20）的控制端。

【技术特征摘要】
1.一种延时电路，其特征在于，包括：与门（10）、控制开关（20）、电阻R3、二极管D2以及电容C3；所述二极管D2的阳极连接与门（10）的第一输入端，电阻R3的一端连接于所述与门（10）的第二输入端，二极管D2的阴极与所述电阻R3的另一端连接；所述电容C3阳极同时连接与门（10）的第一输入端和第二输入端，电容C3的阴极接地；与门（10）的输出端连接于控制开关（20）的控制端。2.根据权利要求1所述的延时电路，其特征在于，所述控制开关（20）为4路双向模拟开关，型号为：74HC4066。3.根据权利要求1所述的延时电路，其特征在于，所述控制开关（20）为三极管。4.根据权利要求1~3中任一项所述的延时电路，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴恺，卢国杰，牛增强，韩金龙，
申请(专利权)人：深圳市联赢激光股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44