【技术实现步骤摘要】
一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪
本专利技术涉及成像光谱仪领域，尤其涉及一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪光学系统。
技术介绍
分光技术一直是光谱仪系统的核心，光栅和棱镜是近年来的主流分光手段。光栅分光所用光学元件少，光谱线性好，缺点是光栅一般使用第一级光谱，光能利用率低，衍射效率在宽谱段内不能提高，导致系统光能利用率低，杂散光较严重。棱镜通过不同波段折射率差使不同波长的出射光有不同的角度，从而发生色散，具有一定的非线性，需要后期校正，但棱镜一般由普通的玻璃材料组成，在宽谱段内有较高的透过率，对光能利用率很高，信号光杂散光比例(信杂比)大，并且对光偏振性不敏感。近年来随着超精密光学加工、制造和检测技术的显著进步，复杂的曲面棱镜和复杂的光学表面的高精度加工、检测和装调成为了可能，利用棱镜色散分光加上复杂光学表面大的设计自由度有效地校正光谱仪系统的各种成像像差和畸变，可构建性能优良的高信杂比宽谱段光谱仪系统。传统的宽谱段棱镜光谱仪的使用方案常有两种：一为对单狭缝分光成像，在接近焦面探测器位置利用分色片实现不同谱段的分离，然后在各自焦面处利用对应该谱段的探测器接收信号，该方案...
【技术保护点】
1.一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，包括双狭缝组件(1)、准直自由曲面镜(2)、曲面棱镜(3)、成像自由曲面镜(4)、分谱段折转镜(5)、谱段一探测器(6)和谱段二探测器(7)，其特征在于：地物目标反射的光线经过双狭缝组件(1)入射到准直自由曲面镜(2)，而后经准直自由曲面镜(2)反射至曲面棱镜(3)的前表面透射，在曲面棱镜(3)的后表面内反射，再次透射经过曲面棱镜(3)的前表面后在成像自由曲面镜(4)上反射聚焦。其中，经双狭缝组件(1)下方狭缝入射的光经分谱段折转镜(5)反射至谱段一探测器(6)接收，经双狭缝组件(1)上方狭缝入射的光直接入射至谱段二探测器(7)探测接收。
【技术特征摘要】
1.一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，包括双狭缝组件(1)、准直自由曲面镜(2)、曲面棱镜(3)、成像自由曲面镜(4)、分谱段折转镜(5)、谱段一探测器(6)和谱段二探测器(7)，其特征在于：地物目标反射的光线经过双狭缝组件(1)入射到准直自由曲面镜(2)，而后经准直自由曲面镜(2)反射至曲面棱镜(3)的前表面透射，在曲面棱镜(3)的后表面内反射，再次透射经过曲面棱镜(3)的前表面后在成像自由曲面镜(4)上反射聚焦。其中，经双狭缝组件(1)下方狭缝入射的光经分谱段折...
【专利技术属性】
技术研发人员：侯佳，王跃明，何志平，舒嵘，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31
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