一种三线制的低功耗电源电压检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三线制的低功耗电源电压检测电路，包括LDO稳压芯片、串联的R1和R2，LDO的输入端接电源VBAT端子，LDO的输出端接MCU的VCC接口，其中R1的一端接VBAT端子，R1的另一端接MCU的SDA接口，R2的一端接MCU的SCL接口，R2的另一端接C1，C1的另一端接MCU的AD接口。该三线制的低功耗电源电压检测电路，低功耗，电路中使用元件简单，元件占用空间小，可使PCB设计更趋向于小型化。

【技术实现步骤摘要】
一种三线制的低功耗电源电压检测电路
本技术涉及检测电路，具体涉及一种三线制的低功耗电源电压检测电路。
技术介绍
当前使用较多的低功耗电池电压检测电路(如图5)，电源电压大于MCU输入电压时，不能直接使用AD接口采样，一般需要使用三极管或运放进行电压衰减，然后在通过AD进行采样，测量电源电压。为此提出一种三线制的低功耗电源电压检测电路。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种三线制的低功耗电源电压检测电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种三线制的低功耗电源电压检测电路，包括LDO稳压芯片、串联的R1和R2，LDO的输入端接电源VBAT端子，LDO的输出端接MCU的VCC接口，其中R1的一端接VBAT端子，R1的另一端接MCU的SDA接口，R2的一端接MCU的SCL接口，R2的另一端接C1，C1的另一端接MCU的AD接口。优选的，所述C1的容量为200pF。优选的，所述R1和R2均为47KΩ。本技术的技术效果和优点：该三线制的低功耗电源电压检测电路，低功耗，电路中使用元件简单，元件占用空间小，可使PCB设计更趋向于小型化。附图说明图1为本技术的电路图；图2为电路工作时示波器测得SDA波形图；图3为电路工作时示波器测得SCL波形图；图4为电路工作时示波器测得AD采样波形图；图5为传统电源电压检测电路图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本技术提供了如图1所示的一种三线制的低功耗电源电压检测电路，包括LDO稳压芯片、串联的R1和R2，LDO的输入端接电源VBAT端子，LDO的输出端接MCU的VCC接口，其中R1的一端接VBAT端子，R1的另一端接MCU的SDA接口，R2的一端接MCU的SCL接口，R2的另一端接C1，C1的另一端接MCU的AD接口。所述C1的容量为200pF，所述R1和R2均为47KΩ。电路中电池电压通过LDO稳压芯片后，转为MCU可用电源电压值，此部分不包括在检测电路中，仅作示意测量的电源电压大于MCU输入电压。电路原理：电路工作时，SDA接口、SCL接口和AD接口在示波器测得的波形分别如图2、图3、图4所示，当MCU接收到电池电压检测的命令时，首先将SDA与SCL接口通过设置同时接地(t1-t2)，然后在t2时刻将SDA接口设置为开漏状态，此时AD接口波形上升，(t2-t3)时AD采样到的电压为电源电压的一半，即VAD＝VBAT*R2/(R1+R2)，检测这个时间段的电压，再通过计算便能得到电池电压。平时不检测时，将SDA与SCL均设置为开漏状态，即此时电阻均为开路状态，电路中无电源消耗。最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种三线制的低功耗电源电压检测电路，包括LDO稳压芯片、串联的R1和R2，LDO的输入端接电源VBAT端子，LDO的输出端接MCU的VCC接口，其中R1的一端接VBAT端子，R1的另一端接MCU的SDA接口，R2的一端接MCU的SCL接口，R2的另一端接C1，C1的另一端接MCU的AD接口。

【技术特征摘要】
1.一种三线制的低功耗电源电压检测电路，包括LDO稳压芯片、串联的R1和R2，LDO的输入端接电源VBAT端子，LDO的输出端接MCU的VCC接口，其中R1的一端接VBAT端子，R1的另一端接MCU的SDA接口，R2的一端接MCU的SCL接口，R2...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑辉，
申请(专利权)人：深圳市安美通科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44