一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备制造技术

本申请提供了一种光学组件，其包括第一调制元件和第二调制元件，所述第一调制元件与第二调制元件相互连接，所述第二调制元件用于将所透过的光线的光场按照预设规则进行重新排布，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换，所述第一调制元件用于对透过第二调制元件的光线进行再次调制。

An optical component, a transmitting unit, a sensing module and an electronic device

【技术实现步骤摘要】
一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备
本申请属于光学
，尤其涉及一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备。
技术介绍
现有的三维(ThreeDimensional,3D)感测模组通常采用发射能量较集中的激光器作为光源来投射感测光图案，所以一旦设置在光源出光侧用于形成结构化感测光线的光学元件出现破损的话，高能量的激光会直接照射到使用者的眼睛上造成损害。
技术实现思路
本申请所要解决的技术问题在于提供一种光学组件、发射单元、传感模组及电子设备以解决上述技术问题。本申请实施方式提供一种光学组件，其包括第一调制元件和第二调制元件，所述第一调制元件与第二调制元件相互连接，所述第二调制元件用于将所透过的光线的光场按照预设规则进行重新排布，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换，所述第一调制元件用于对透过第二调制元件的光线进行再次调制。在某些实施方式中，所述第二调制元件与第一调制元件之间直接固定连接或者间接连接。在某些实施方式中，所述第二调制元件贴合在所述第一调制元件上。在某些实施方式中，所述调制层选自正式聚合物分散液晶层、反式聚合物分散液晶层、聚合物网络液晶层及双稳态胆甾相液晶层中的任意一种。在某些实施方式中，所述第一调制元件的调制层处于透明状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度小于或等于10％。在某些实施方式中，所述第一调制元件的调制层处于散射状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度大于或等于70％。在某些实施方式中，所述第二调制元件为衍射光学元件。本申请实施方式还提供一种发射单元，其包括检测处理器及如上述任意一实施方式所述的光学组件。所述检测处理器分别与第一电极和第二电极连接，所述检测处理器用于通过第一电极和第二电极检测第一调制元件的电学特性值并根据所测得的第一调制元件的电学特性值来判断所述光学组件是否破损。在某些实施方式中，所述第一调制元件的电学特性值包括电阻值和/或电容值。在某些实施方式中，所述检测处理器为比较电路，用于比较所测得的第一调制元件的电学特性值与预设的标准值，并根据比较结果判断所述第一调制元件是否完好。在某些实施方式中，所述预设的标准值为第一调制元件完好时所测得的电容值，若检测所得的第一调制元件的电容值与预设标准值的差值超出预设的误差范围，则所述检测处理器判断所述光学组件破损。在某些实施方式中，还包括光源，所述光源用于发射感测光线，所述光源与检测处理器相连接，所述检测处理器在判断出第一调制元件破损时关闭所述光源。在某些实施方式中，还包括底座，所述底座上开设有多层台阶状的容置槽，所述容置槽包括底面，所述底面包括位于中间部分的连通部及围绕在连通部外围的支撑部，位于上层的容置槽在底面连通部所在区域向下开设出位于下层的容置槽，上层容置槽的连通部被挖空而形成下层容置槽的开口，所述第一调制元件固定连接在其中一层容置槽底面的支撑部上。在某些实施方式中，所述第二调制元件与第一调制元件直接连接，所述第二调制元件不与底座直接连接。在某些实施方式中，所述第二调制元件和第一调制元件分别固定连接在不同层的两个容置槽底面的支撑部上，所述第二调制元件与第一调制元件之间不直接连接。在某些实施方式中，还包括光源，所述第二调制元件与所述光源相对设置，所述第一调制元件设置在第二调制元件背向光源的一侧，所述光源发出的原始光线为能够投射出预设光斑图案的散斑光线，所述原始光线依次经过第二调制元件和第一调制元件进行投射，所述发射单元需要投射结构光光线时，所述第一调制元件的调制层转换为透明状态，所述原始光线经第二调制元件调制成结构光光线后透过透明状态的调制层进行投射，所述发射单元需要投射泛光光线时，所述第一调制元件的调制层转换为散射状态，所述光线经第二调制元件调制成结构光光线后再经过散射状态的调制层时被散射为泛光光线进行投射；或者，还包括光源，所述第一调制元件与所述光源相对设置，所述第二调制元件设置在第一调制元件背向光源的一侧，所述光源发出的原始光线为能够投射出预设光斑图案的散斑光线，所述原始光线依次经过第一调制元件和第二调制元件进行投射，所述发射单元需要投射结构光光线时，所述第一调制元件的调制层转换为透明状态，所述原始光线透过处于透明状态的调制层后再经第二调制元件调制为结构光光线进行投射，所述发射单元需要投射泛光光线时，所述第一调制元件的调制层转换为散射状态，所述原始光线经过散射状态的调制层时被散射为泛光光线，所述泛光光线经过第二调制元件调制后仍为泛光光线进行投射。本申请实施方式还提供一种传感模组，其包括接收单元及如上述任意一实施方式所述的发射单元。所述接收单元用于获取发射单元在目标对象上所投射出的感测光图案的图像以进行感测。本申请实施方式还提供一种电子设备，其包括如上述任意一实施方式所述的传感模组。所述电子设备根据所述传感模组所感测到的目标对象的三维信息来执行相应功能。本申请实施方式所提供的发射单元、传感模组及电子设备利用第一调制元件中已有的第一电极和第二电极中间夹设调制层的结构来检测第一调制元件的电学特性值，通过比较所测得的第一调制元件的电学特性值与第一调制元件完好时的标准电学特性值来可以方便地检测的所述第一调制元件是否破损，从而防止光源所发出的光从破损处直接照射使用者眼睛而可能造成的伤害。本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请实施方式的实践了解到。附图说明图1是本申请实施方式提供的电子设备的结构意图。图2是图1中所述发射单元的功能模块示意图。图3是图1中所述发射单元的投射光路示意图。图4是图3中所述第一调制元件处于散透明状态时的光路图示意图。图5是图3中所述第一调制元件处于透明状态时的光路图示意图。图6是图2中所述第一调制元件与转换控制器及检测处理器的连接示意图。图7是图1中所述发射单元的结构示意图。图8是本申请一变更实施方式提供的发射单元的结构示意图。图9是本申请另一变更实施方式提供的发射单元的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本申请的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或排列顺序。由此，限定有“第一”、“第二”的技术特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述技术特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定或限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体化连接；可以是机械连接，也可以是电连接或相互通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件之间的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学组件，其特征在于：包括第一调制元件和第二调制元件，所述第一调制元件与第二调制元件相互连接，所述第二调制元件用于将所透过的光线的光场按照预设规则进行重新排布，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换，所述第一调制元件用于对透过第二调制元件的光线进行再次调制。

【技术特征摘要】
1.一种光学组件，其特征在于：包括第一调制元件和第二调制元件，所述第一调制元件与第二调制元件相互连接，所述第二调制元件用于将所透过的光线的光场按照预设规则进行重新排布，所述第一调制元件包括第一电极、第二电极及设置在第一电极和第二电极之间的调制层，所述第一电极和第二电极用于对所述调制层施加电场，所述调制层能够随着所述电场的电场强度变化至少在透明状态和散射状态之间进行转换，所述第一调制元件用于对透过第二调制元件的光线进行再次调制。2.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件与第一调制元件之间直接连接或者间接连接。3.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件贴合在所述第一调制元件上。4.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述调制层选自正式聚合物分散液晶层、反式聚合物分散液晶层、聚合物网络液晶层及双稳态胆甾相液晶层中的任意一种。5.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于透明状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度小于或等于10％。6.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第一调制元件的调制层处于散射状态时，透过所述第二调整元件的光线的雾度大于或等于70％。7.如权利要求1所述的光学组件，其特征在于，所述第二调制元件为衍射光学元件。8.一种发射单元，其特征在于，包括检测处理器及如权利要求1至7中任意一项所述的光学组件，所述检测处理器分别与第一电极和第二电极连接，所述检测处理器用于通过第一电极和第二电极检测第一调制元件的电学特性值并根据所测得的第一调制元件的电学特性值来判断所述光学组件是否破损。9.如权利要求8所述的发射单元，其特征在于：所述第一调制元件的电学特性值包括电阻值和/或电容值。10.如权利要求8所述的发射单元，其特征在于：所述检测处理器为比较电路，用于比较所测得的第一调制元件的电学特性值与预设的标准值，并根据比较结果判断所述第一调制元件是否破损。11.如权利要求10所述的发射单元，其特征在于：所述预设的标准值为第一调制元件完好时所测得的电容值，若检测所得的第一调制元件的电容值与预设标准值的差值超出预设的误差范围，则所述检测处理器判断所述光学组件破损。12.如权利要求8-11中任意一项所述的发射单元，其特征在于：还包括光源，所述光源用于发射感测光线，所述光源与检测处理器相连接，所述检测处理器在判断出第一调制元件破损时关闭所述光源。13.如权利要求8-11中任意一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：王小明，李问杰，
申请(专利权)人：深圳阜时科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44