一种无极性干接点电路的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种无极性干接点电路的测试装置，包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路，该测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源。隔离电源和测试电源启动后，当干接点端子对应的MOS管导通时，光接收器的阴极端输出低电平，当MOS管关断后，光接收器的阴极端输出高电平。故通过检测光接收器的阴极端的电平值，与对驱动电路的驱动指令进行对比即可检测无极性干接点电路的功能是否正常，而在此基础上，通过第一二极管将隔离电源与干接点端子之间隔开，避免干接点端子所连接的电路器件对测试电路的影响。

A test device of non polarity dry contact circuit

【技术实现步骤摘要】
一种无极性干接点电路的测试装置
本技术涉及电路测试领域，特别是涉及一种无极性干接点电路的测试装置。
技术介绍
干接点是一种电气开关，具有闭合和断开两个状态。干接点两个接点间没有极性，可以互换。在轨道交通车辆的电气控制领域，由于电气线路中的电气部件(如各种电磁阀、接触器、断路器、开关等)特性各不相同，所要求的驱动电压/电源也有各有差别，因而对无极性的干接点进行了广泛的应用。由于在轨道交通车辆上的无极性干接点电路的应用较多，需要对其的功能进行测试。图1为现有技术中的无极性干接点电路的电路图。如图1所示，无极性干接点电路通常包括两个背向连接的MOS管(如图1中的Q1和Q2)。Q1和Q2的源极连接在一起，各自的漏极作为干接点端子；或者Q1和Q2的漏极连接在一起，各自的源极作为干接点端子。Q1和Q2的门极连接在一起，共用一个驱动电路；或者Q1和Q2各自的门极分别与不同的驱动电路相连。对无极性干接点电路的测试主要为检测Q1和Q2的导通/关断状态，与控制系统发出的干接点驱动指令进行比较，判断无极性干接点电路是否正确执行了驱动指令。而正是由于无极性干接点电路的干接点端子连接的电源/负载各有差异，受到连接的电源/负载的影响，现有的测试MOS管开关电路的方式不适用于无极性干接点电路。因此，如何对无极性干接点电路进行测试且不受干接点端子连接的电路器件的影响，是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种无极性干接点电路的测试装置，用于对无极性干接点电路进行测试且不受干接点端子连接的电路器件的影响。为了解决上述技术问题，本技术提供一种无极性干接点电路的测试装置，包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路；所述测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源；其中，所述隔离电源的输出端与所述第一二极管的阳极端连接，所述第一二极管的阴极端与所述干接点端子连接；所述光耦合器的光发射器的阳极端与所述隔离电源的输出端连接，所述光耦合器的光接收器的阳极端与所述测试电源的输出端连接。可选的，还包括：与所述光接收器的阴极端连接的第一电平检测电路。可选的，还包括：设于所述隔离电源的输出端与所述第一二极管的阳极端之间的限流电阻；所述光发射器的阳极端连接于所述限流电阻与所述第一二极管的阳极端之间。可选的，还包括：设于所述隔离电源的输出端与所述光发射器的阳极端之间的第二二极管。可选的，还包括：设于所述光发射器的阴极端与地之间的第三二极管。可选的，所述第二二极管和所述第三二极管均具体为稳压二极管；其中，所述第二二极管的阴极端与所述隔离电源的输出端连接，所述第二二极管的阳极端与所述光发射器的阳极端连接；所述第三二极管的阳极端接地，所述第三二极管的阴极端与所述光发射器的阴极端连接。可选的，所述测试电路的数量具体为两个，一个所述测试电路对应一个所述干接点端子。可选的，还包括：分别与第一测试电路的光接收器的阴极端和第二测试电路的光接收器的阴极端连接的门电路，以及与所述门电路连接的第二电平检测电路。可选的，所述门电路具体为与非门电路；所述与非门电路的第一输入端与所述第一测试电路的光接收器的阴极端连接，所述与非门电路的第二输入端与所述第二测试电路的光接收器的阴极端连接，所述与非门电路的输出端与所述第二电平检测电路的输入端连接。本技术所提供的无极性干接点电路的测试装置，包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路，该测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源；其中，隔离电源的输出端与第一二极管的阳极端连接，第一二极管的阴极端与干接点端子连接；光耦合器的光发射器的阳极端与隔离电源的输出端连接，光耦合器的光接收器的阳极端与测试电源的输出端连接。隔离电源和测试电源启动后，当干接点端子对应的MOS管导通时，由于MOS管的压降小于光耦合器的光接收器的压降，故电流主要流经MOS管电路，光耦合器的光发射器无法发光，光接收器无法导通，故在光接收器的阴极端输出低电平，当MOS管关断后，电流流经光发射器，光发射器发光使光接收器导通，在光接收器的阴极端输出高电平。故通过检测光接收器的阴极端的电平值，与对驱动电路的驱动指令进行对比即可检测无极性干接点电路的功能是否正常，而在此基础上，通过第一二极管将隔离电源与干接点端子之间隔开，可以避免干接点端子所连接的电路器件对测试电路的影响，从而不管无极性干接点电路运行于什么工作环境中，都可以在同等条件下对其进行测试。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。图1为现有技术中的无极性干接点电路的电路图；图2为本技术实施例提供的一种无极性干接点电路的测试装置的电路图；图3为本技术实施例提供的另一种无极性干接点电路的测试装置的电路图。具体实施方式本技术的核心是提供一种无极性干接点电路的测试装置，用于对无极性干接点电路进行测试且不受干接点端子连接的电路器件的影响。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护范围。图2为本技术实施例提供的一种无极性干接点电路的测试装置的电路图。本技术实施例提供的无极性干接点电路的测试装置包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路；测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源；其中，隔离电源的输出端与第一二极管的阳极端连接，第一二极管的阴极端与干接点端子连接；光耦合器的光发射器的阳极端与隔离电源的输出端连接，光耦合器的光接收器的阳极端与测试电源的输出端连接。如图2所示，在具体实施中，对应无形性干接点电路的两个MOS管Q1和Q2，测试电路的数量具体可以为两个，一个测试电路对应一个干接点端子。对应MOS管Q1的测试电路包括隔离电源U11，第一二极管D11，光耦合器V1A，测试电源U12。其中，隔离电源U11的输出端与第一二极管D11的阳极端连接，第一二极管D11的阴极端与干接点端子1连接；光耦合器V1A的光发射器的阳极端与隔离电源U11的输出端连接，阴极端接地，光接收器的阳极端与测试电源U12连接，阴极端通过下拉电阻R12接地。对应MOS管Q2的测试电路包括隔离电源U21，第一二极管D21，光耦合器V2A，测试电源U22。其中，隔离电源U21的输出端与第一二极管D21的阳极端连接，第一二极管D21的阴极端与干接点端子2连接；光耦合器V2A的光发射器的阳极端与隔离电源U21的输出端连接，阴极端接地，光接收器的阳极端与测试电源U22连接，阴极端通过下拉电阻R22接地。MOS管Q1和MOS管Q2的栅极分别与驱动电路连接，MOS管Q1和MOS管Q2的源极相连并接地。应用本技术实施例提供的无极性干接点电路的测试装置，以对应MOS管Q1的测试电路为例，在隔离电源U11和测试电源U12启动后，当干接点端子1对应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种无极性干接点电路的测试装置，其特征在于，包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路；所述测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源；其中，所述隔离电源的输出端与所述第一二极管的阳极端连接，所述第一二极管的阴极端与所述干接点端子连接；所述光耦合器的光发射器的阳极端与所述隔离电源的输出端连接，所述光耦合器的光接收器的阳极端与所述测试电源的输出端连接。

【技术特征摘要】
1.一种无极性干接点电路的测试装置，其特征在于，包括与无极性干接点电路的干接点端子连接的测试电路；所述测试电路包括隔离电源，第一二极管，光耦合器和测试电源；其中，所述隔离电源的输出端与所述第一二极管的阳极端连接，所述第一二极管的阴极端与所述干接点端子连接；所述光耦合器的光发射器的阳极端与所述隔离电源的输出端连接，所述光耦合器的光接收器的阳极端与所述测试电源的输出端连接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：与所述光接收器的阴极端连接的第一电平检测电路。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：设于所述隔离电源的输出端与所述第一二极管的阳极端之间的限流电阻；所述光发射器的阳极端连接于所述限流电阻与所述第一二极管的阳极端之间。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：设于所述隔离电源的输出端与所述光发射器的阳极端之间的第二二极管。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，还包括：设于所述光发射器的阴极端与地...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈学军，董科军，
申请(专利权)人：株洲田龙铁道电气股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南,43