光学模组测试装置制造方法及图纸

技术编号:22349565 阅读:38 留言:0更新日期:2019-10-19 18:09
本实用新型专利技术公开一种光学模组测试装置,包括机架、载体、水平调节机构、光源、高度调节机构、载台和升降调节机构,机架用于放置光学模组,载体可沿第一方向移动地设于机架,水平调节机构连接于载体,以驱动载体沿第一方向移动,高度调节机构连接于光源,以驱动光源沿垂直于第一方向的第二方向移动,载台包括可沿第二方向移动地连接于载体的第一载台和第二载台,升降调节机构用于驱动第一载台和第二载台沿第二方向移动。通过本实用新型专利技术提供的光学模组测试装置,可实现在同一个设备上实现两个测试步骤,只需要一组夹具,因此成本较低,而且不需要移动光学模组,测试过程简单,缩短了测试时间,效率较高,软件版本也可采用同一个,利于产线管控。

Optical module test device

【技术实现步骤摘要】
光学模组测试装置
本技术涉及电子产品光学模组
,特别是涉及一种光学模组测试装置。
技术介绍
随着生活水平的不断提高,各种终端设备已成为生活中的必需品,而用户对终端设备的要求也越来越高。对于安全性而言,因指纹具有个体唯一性特征,而使得指纹识别具有优良的隐私保护功能,因此指纹识别被广泛应用在各种终端设备中,以增加用户体验以及安全性。在指纹识别模组等光学模组的生产过程中,通常需要在两个不同的测试站进行磁粉测试(MT1测试和MT2测试),两个测试站的测试治具载体是相同的,区别仅在于测试环境,即光学模组到匀光板或图表板的距离(即焦距)不同。在MT1中,采用匀光板,焦距一般在2.75±0.05mm,在MT2中,采用匀光板+图表板,焦距一般在3.89±0.05mm。因此,在两个测试站中需要两版软件测试,且每次测试时间分别为15~18秒。上述测试中,存在以下问题:1、需要两个独立的测试站,两组夹具,成本较高。2、软件版本较多,不利于产线管控。3、测试时间较长,生产效率较低。4、光学模组需要进出两个测试站,测试流程繁琐,效率较低。前面的叙述在于提供一般的背景信息,并不一定构成现有技术。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种成本较低、效率较高的光学模组测试装置。本技术提供一种光学模组测试装置,包括机架、载体、水平调节机构、光源、高度调节机构、载台和升降调节机构,所述机架用于放置光学模组,所述载体可沿第一方向移动地设于所述机架,所述水平调节机构连接于所述载体,以驱动所述载体沿第一方向移动,所述高度调节机构连接于所述光源,以驱动所述光源沿垂直于所述第一方向的第二方向移动,所述载台包括可沿所述第二方向移动地连接于所述载体的第一载台和第二载台,所述升降调节机构用于驱动所述第一载台和所述第二载台沿所述第二方向移动。进一步地,所述机架为框架结构,其用于支撑所述载体、所述水平调节机构、所述高度调节机构、所述载台和所述升降调节机构,所述机架包括底板、顶板和连接架,所述底板和所述顶板相对设于所述机架的底部和顶部,所述连接架的两端分别与所述底板和所述顶板固定连接。进一步地,所述机架包括导轨,所述载体上设有与所述导轨配合的滑道,所述滑道可沿所述导轨沿所述第一方向动。进一步地,所述载体包括本体和连接于所述本体的连接部,所述本体包括主板和两个分别设于所述主板两端的侧板,所述连接部固定连接于所述主板的底部;所述水平调节机构连接于所述连接部。进一步地,所述水平调节机构为活塞缸,其包括缸体和活塞杆,所述缸体固定于所述机架上,所述活塞杆可沿所述第一方向活动地套设于所述缸体,所述活塞杆连接于所述载体的所述连接部。进一步地,所述高度调节机构为垂直升降平台,所述垂直升降平台包括调节部和与所述调节部传动连接的运动部,所述调节部可转动地设置,所述运动部连接于所述光源。进一步地,所述光源和所述高度调节机构设于所述载体上。进一步地,所述高度调节机构设于所述机架上。进一步地,所述包括第一调节机构和第二调节机构,所述第一调节机构和所述第二调节机构用于分别驱动所述第一载台和所述第二载台沿所述第二方向移动。进一步地,所述载体上设有第一滑块和第二滑块,所述第一滑块和所述第二滑块上分别设有内螺纹;所述第一调节机构包括第一操作部和连接于所述第一操作部的第一调节部,所述第一调节部上设有外螺纹,所述第一调节部的外螺纹与所述第一滑块的内螺纹配合,所述第二调节机构包括第二操作部和连接于所述第二操作部的第二调节部,所述第二调节部上设有外螺纹,所述第二调节部的外螺纹与所述第二滑块的内螺纹配合。通过本技术提供的光学模组测试装置,可实现在同一个设备上实现两个测试步骤,只需要一组夹具,因此成本较低,而且不需要移动光学模组,测试过程简单,缩短了测试时间,效率较高,软件版本也可采用同一个,利于产线管控。附图说明图1为本技术一实施例的光学模组测试装置的立体结构示意图。图2为图1所示光学模组测试装置的一角度平面视图。图3为图1所示光学模组测试装置的另一角度平面视图。图4为图1所示光学模组测试装置移除部分零部件的立体结构示意图。图5为图4的一角度平面视图。具体实施方式下面结合附图和实施例,对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术,但不用来限制本技术的范围。请参图1至图5,本技术一实施例中提供的光学模组测试装置,包括机架10、载体12、水平调节机构13、光源14、高度调节机构15、载台16和升降调节机构18。本实施例中,机架10为框架结构,其用于支撑载体12、水平调节机构13、高度调节机构15、载台16和升降调节机构18。具体地,机架10包括底板102、顶板104和连接架106,底板102和顶板104相对设于机架10的底部和顶部,连接架106的两端分别与底板102和顶板104固定连接。机架10还包括固定连接于连接架106的导轨108。本实施例中,载体12包括本体122和连接于本体122的连接部124。具体地,本体122包括主板126和两个分别设于主板126两端的侧板127,连接部124固定连接于主板126的底部。载体12可沿第一方向移动地设于机架10内。本体122上设有与导轨108配合的滑道120,滑道120可沿导轨108沿第一方向(本实施例中为水平方向)移动。具体地,两个侧板127上分别设有第一滑块128和第二滑块129,第一滑块128和第二滑块129上分别设有内螺纹。本实施例中,水平调节机构13连接于载体12的连接部124,以驱动连接部124沿第一方向移动,进而带动载体12沿第一方向移动。具体地,水平调节机构13为活塞缸,包括缸体132和活塞杆134,缸体132固定于机架10上,活塞杆134可沿第一方向活动地套设于缸体132,活塞杆134连接于载体12的连接部124。更具体地,水平调节机构13为气缸,可以理解,水平调节机构13还可为其他伸缩式结构,例如直线电机等,并且水平调节机构13还可为其他结构,例如通过电机驱动电机转动,电机的转动通过齿轮齿条的配合实现直线移动,从而带动载体12沿第一方向移动,对于水平调节机构13的具体结构在此不做限制。本实施例中,光源14和高度调节机构15设于载体12上,随载体12沿第一方向移动。本实施例中,高度调节机构15连接于光源14,以驱动光源14沿垂直于第一方向的第二方向(本实施例中为竖直方向)移动,以调节光源14相对机架10的高度。具体地,高度调节机构15为垂直升降平台,垂直升降平台包括调节部152和与调节部152传动连接的运动部154,运动部154连接于光源14,通过旋转调节部152可带动光源14沿第二方向移动。运动部154与调节部152之间的传动可通过蜗轮蜗杆、齿轮齿条等机构实现。更具体地,高度调节机构15可为LV60-C2型号的交叉滚子导轨型垂直升降平台。可以理解,高度调节机构15不限于垂直升降平台,也可为其他可实现转动转换为直线移动的传动机构,例如齿轮齿条传动。本实施例中,载台16包括第一载台162和第二载台164,第一载台162和第二载台164可沿第二方向移动地连接于载体12。本实施例中,升降调节机构18包括第一调节机构182和第二调节机构184,第一调节机构182可转动但不可移动地连本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学模组测试装置,其特征在于,包括机架(10)、载体(12)、水平调节机构(13)、光源(14)、高度调节机构(15)、载台(16)和升降调节机构(18),所述机架(10)用于放置光学模组,所述载体(12)可沿第一方向移动地设于所述机架(10),所述水平调节机构(13)连接于所述载体(12),以驱动所述载体(12)沿第一方向移动,所述高度调节机构(15)连接于所述光源(14),以驱动所述光源(14)沿垂直于所述第一方向的第二方向移动,所述载台(16)包括可沿所述第二方向移动地连接于所述载体(12)的第一载台(162)和第二载台(164),所述升降调节机构(18)用于驱动所述第一载台(162)和所述第二载台(164)沿所述第二方向移动。

【技术特征摘要】
1.一种光学模组测试装置,其特征在于,包括机架(10)、载体(12)、水平调节机构(13)、光源(14)、高度调节机构(15)、载台(16)和升降调节机构(18),所述机架(10)用于放置光学模组,所述载体(12)可沿第一方向移动地设于所述机架(10),所述水平调节机构(13)连接于所述载体(12),以驱动所述载体(12)沿第一方向移动,所述高度调节机构(15)连接于所述光源(14),以驱动所述光源(14)沿垂直于所述第一方向的第二方向移动,所述载台(16)包括可沿所述第二方向移动地连接于所述载体(12)的第一载台(162)和第二载台(164),所述升降调节机构(18)用于驱动所述第一载台(162)和所述第二载台(164)沿所述第二方向移动。2.如权利要求1所述的光学模组测试装置,其特征在于,所述机架(10)为框架结构,其用于支撑所述载体(12)、所述水平调节机构(13)、所述高度调节机构(15)、所述载台(16)和所述升降调节机构(18),所述机架(10)包括底板(102)、顶板(104)和连接架(106),所述底板(102)和所述顶板(104)相对设于所述机架(10)的底部和顶部,所述连接架(106)的两端分别与所述底板(102)和所述顶板(104)固定连接。3.如权利要求1所述的光学模组测试装置,其特征在于,所述机架(10)包括导轨(108),所述载体(12)上设有与所述导轨(108)配合的滑道(120),所述滑道(120)可沿所述导轨(108)沿所述第一方向动。4.如权利要求1所述的光学模组测试装置,其特征在于,所述载体(12)包括本体(122)和连接于所述本体(122)的连接部(124),所述本体(122)包括主板(126)和两个分别设于所述主板(126)两端的侧板(127),所述连接部(124)固定连接于所述主板(126)的底部;所述水平调节机构(13)连接于所述连接部(124)。5.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡波王建李玉森
申请(专利权)人:昆山丘钛微电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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