一种LED外延层生长方法技术

技术编号:22332229 阅读:41 留言:0更新日期:2019-10-19 12:40
本申请公开了一种LED外延层生长方法,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u‑GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、NH3裂解、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却。本发明专利技术方法通过引入N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、H2气氛中温InGaN:Si层、N2气氛高温GaN:Mg层的结构和NH3裂解工艺以提升量子阱发光区的电子空穴对,增强发光辐射效率,提高LED的发光效率,并减少外延片翘曲,改善外延片外观。

【技术实现步骤摘要】
一种LED外延层生长方法
本申请涉及LED外延设计应用
,具体地说,涉及一种LED外延层生长方法。
技术介绍
LED(LightEmittingDiode,发光二极管)是一种固体照明,体积小、耗电量低使用寿命长高亮度、环保、坚固耐用等优点受到广大消费者认可,国内生产LED的规模也在逐步扩大;市场上对LED亮度和光效的需求与日俱增,客户关注的是LED更省电,亮度更高、光效更好,这就为LED外延生长提出了更高的要求。目前,LED市场上现在要求LED芯片驱动电压低,特别是大电流下驱动电压越小越好、光效越高越好;LED市场价值的体现为(光效)/单价,光效越好,价格越高,所以LED高光效一直是LED厂家和院校LED研究所所追求的目标。并且目前大部分厂家生产LED的尺寸已经由2英寸升级为4英寸。LED尺寸升级为4英寸后,LED普遍存在外延片翘曲大、发光效率低下等技术难题。因此,如何通过LED外延生长提高LED的发光效率,并减少外延片翘曲,成为现阶段亟待解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此,本申请所要解决的技术问题是提供了一种LED外延层生长方法,把传统的n型GaN层,设计为N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、H2气氛中温InGaN:Si层、N2气氛高温GaN:Mg层的结构,并通过引入NH3裂解工艺,以增强发光辐射效率,提高LED的发光效率,并减少外延片翘曲,改善外延片外观。为了解决上述技术问题,本申请有如下技术方案:一种LED外延层生长方法,其特征在于,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u-GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、NH3裂解、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却,其中,所述生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层包括:通入N2、H2及二甲基锌DMZn,在N2和H2的混合气氛下,保持生长温度为500℃至550℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入50-70sccm的TMGa、1200-1400sccm的TMIn、100-130sccm的TMAl,生长厚度为70nm至110nm的N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层,Zn掺杂浓度为2E18atoms/cm3至5E18atoms/cm3;所述生长H2气氛中温InGaN:Si层包括:升高温度至750℃至850℃,通入H2和SiH4,在H2气氛下,保持生长温度为750℃至850℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入80-95sccm的TMGa、900-1000sccm的TMIn、生长厚度为60nm至80nm的H2气氛中温InGaN:Si层,Si掺杂浓度为1E19atoms/cm3至3E19atoms/cm3;所述生长N2气氛高温GaN:Mg层包括:升高温度至1050℃至1150℃,通入N2和CP2Mg,在N2气氛下,保持生长温度为1050℃至1150℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入110-130sccm的TMGa,生长厚度为40nm至55nm的N2气氛高温GaN:Mg层,Mg掺杂浓度为1E20atoms/cm3至1E21atoms/cm3;所述NH3裂解包括:保持压力不变,升高温度至1250℃,通入H2、N2作为载气,同时通入80-100L/min的NH3,反应过程中将温度从1250℃渐变增加至1400℃,NH3流量从100-80L/min渐变减少至20-30L/min,反应时间控制为35s-45s,使NH3在高温下充分裂解,裂解的N原子附着在上述生长的N2气氛高温GaN:Mg层上,同时裂解的H元素随载气输送至尾管排出反应室。可选地,其中:所述处理衬底,具体为:将蓝宝石衬底在H2气氛里进行退火,清洁衬底表面,温度为1050℃至1150℃。可选地,其中:所述生长低温成核层GaN和生长高温GaN缓冲层,具体为:降低温度至500℃至620℃,保持反应腔压力400Torr至650Torr,通入NH3和TMGa,在蓝宝石衬底上生长厚度为20nm至40nm的低温成核层GaN;停止通入TMGa,进行原位退火处理,退火温度升高至1000℃至1100℃,退火时间为5min至10min;退火之后,将温度调节至900℃至1050℃,继续通入TMGa,外延生长厚度为0.2μm至1μm的高温GaN缓冲层,生长压力控制在400Torr-650Torr。可选地,其中:所述生长非掺杂u-GaN层,具体为:升高温度到1050℃至1200℃,保持反应腔压力100Torr-500Torr,通入NH3和TMGa,持续生长厚度为1μm至3μm的非掺杂u-GaN层。可选地,其中:所述生长发光层,具体为:保持反应腔压力100Torr至500Torr、温度700℃至800℃,所用MO源为TEGa、TMIn和SiH4,生长掺杂In的厚度为2nm至5nm的量子阱层InyGa(1-y)N,y=0.1至0.3;接着升高温度至800℃至950℃,保持反应腔压力100Torr至500Torr,所用MO源为TEGa、TMIn和SiH4,生长厚度为8nm至15nm的垒层GaN,垒层GaN进行Si掺杂,Si掺杂浓度为8E16atoms/cm3至6E17atoms/cm3;重复InyGa(1-y)N的生长,然后重复GaN的生长,交替生长InyGa(1-y)N/GaN发光层,控制周期数为5至15个。可选地,其中:所述生长P型AlGaN层,具体为:保持反应腔压力20Torr至200Torr、温度900℃至1100℃,通入MO源为TMAl、TMGa和CP2Mg,持续生长厚度为50nm至200nm的P型AlGaN层,生长时间为3min至10min,Al的摩尔组分为10%至30%,Mg掺杂浓度1E18atoms/cm3-1E21atoms/cm3。可选地,其中:所述生长P型GaN层,具体为:保持反应腔压力100Torr至500Torr、温度850℃至1000℃,通入MO源为TMGa和CP2Mg,持续生长厚度为100nm至800nm的P型GaN层,Mg掺杂浓度1E18atoms/cm3-1E21atoms/cm3。可选地,其中:所述生长P型GaN接触层,具体为:保持反应腔压力100Torr至500Torr、温度850℃至1050℃,通入MO源为TEGa和CP2Mg,持续生长厚度为5nm至20nm的掺杂Mg的P型GaN接触层,Mg掺杂浓度1E19atoms/cm3-1E22atoms/cm3。可选地,其中:所述降温冷却,具体为:外延生长结束后,将反应时的温度降至650℃至800℃,采用纯N2氛围进行退火处理5min至10min,然后降至室温,结束生长。与现有技术相比,本申请所述的方法,达到了如下效果:第一、本专利技术LED外延生长方法,与传统方法相比,把传统的n型GaN层,设计为N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、H2气氛中温InGaN:Si层和N2气氛高温GaN:Mg层结构,目的是在最靠近量子阱的区域,先通过生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED外延层生长方法,其特征在于,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u‑GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、NH3裂解、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却,其中,所述生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层包括:通入N2、H2及二甲基锌DMZn,在N2和H2的混合气氛下,保持生长温度为500℃至550℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入50‑70sccm的TMGa、1200‑1400sccm的TMIn、100‑130sccm的TMAl,生长厚度为70nm至110nm的N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层,Zn掺杂浓度为2E18atoms/cm

【技术特征摘要】
1.一种LED外延层生长方法,其特征在于,依次包括:处理衬底、生长低温成核层GaN、生长高温GaN缓冲层、生长非掺杂u-GaN层、生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层、生长H2气氛中温InGaN:Si层、生长N2气氛高温GaN:Mg层、NH3裂解、生长发光层、生长P型AlGaN层、生长P型GaN层、生长P型GaN接触层、降温冷却,其中,所述生长N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层包括:通入N2、H2及二甲基锌DMZn,在N2和H2的混合气氛下,保持生长温度为500℃至550℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入50-70sccm的TMGa、1200-1400sccm的TMIn、100-130sccm的TMAl,生长厚度为70nm至110nm的N2和H2混合气氛低温AlInGaN:Zn层,Zn掺杂浓度为2E18atoms/cm3至5E18atoms/cm3;所述生长H2气氛中温InGaN:Si层包括:升高温度至750℃至850℃,通入H2和SiH4,在H2气氛下,保持生长温度为750℃至850℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入80-95sccm的TMGa、900-1000sccm的TMIn、生长厚度为60nm至80nm的H2气氛中温InGaN:Si层,Si掺杂浓度为1E19atoms/cm3至3E19atoms/cm3;所述生长N2气氛高温GaN:Mg层包括:升高温度至1050℃至1150℃,通入N2和CP2Mg,在N2气氛下,保持生长温度为1050℃至1150℃,保持生长压力为450Torr至550Torr,并通入110-130sccm的TMGa,生长厚度为40nm至55nm的N2气氛高温GaN:Mg层,Mg掺杂浓度为1E20atoms/cm3至1E21atoms/cm3;所述NH3裂解包括:保持压力不变,升高温度至1250℃,通入H2、N2作为载气,同时通入80-100L/min的NH3,反应过程中将温度从1250℃渐变增加至1400℃,NH3流量从100-80L/min渐变减少至20-30L/min,反应时间控制为35s-45s,使NH3在高温下充分裂解,裂解的N原子附着在上述生长的N2气氛高温GaN:Mg层上,同时裂解的H元素随载气输送至尾管排出反应室。2.根据权利要求1所述的一种LED外延层生长方法,其特征在于,所述处理衬底,具体为:将蓝宝石衬底在H2气氛里进行退火,清洁衬底表面,温度为1050℃至1150℃。3.根据权利要求1所述的一种LED外延层生长方法,其特征在于,所述生长低温成核层GaN和生长高温GaN缓冲层,具体为:降低温度至500℃至620℃,保持反应腔压力400Torr至650Torr,通入NH3和TMGa,在蓝宝石衬底上生长厚度为20nm至40nm的低温成核层GaN;停止通入TMGa,进行...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐平胡耀武龚彬彬谢鹏杰
申请(专利权)人:湘能华磊光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖南,43

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1