一种滑轨多参数测量方法以及测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种滑轨多参数测量方法以及测量装置，测量方法包括驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；将样品图像中所存在的图像孤立点滤除；采用区域生长算法对样品图像进行图像分割操作，将待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；采用拼接算法对待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。本发明专利技术通过拼接算法实现多个待测图像的拼接操作，将多个待测图像拼接在一起形成一个包含有整个待测样品的整体图像，之后基于点拼接计算待测样品的各项参数，整个计算过程计算量低，参数检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种滑轨多参数测量方法以及测量装置
本专利技术涉及智能检测
，更具体地说涉及一种滑轨工件的多参数测量方法以及测量装置。
技术介绍
目前工业界对滑轨工件的检测大多数情况下都是通过人工检测实现滑轨工件的参数检测操作的，而人工检测方法是使用电子游标卡尺对抽检的滑轨工件逐一进行参数测量以及记录，从而确定出滑轨工件的尺寸误差，以便分拣出不合规定的产品。传统的人工检测的方法虽然简单，但是当滑轨工件种类繁多，孔洞数量较多，对滑轨工件进行检测时存在着工作量大。此过程需要耗费大量的人力、物力且容易造成误测或漏测，受人为因素影响大。由于滑轨工件精度、产量要求，人工测量达不到对产品快速稳定准确的测量效果，已无法满足滑轨工件的要求。申请号为CN201821001450.2的专利文献中公开的测量装置虽然能够快速测量工件的尺寸，但对于测量精度要求高、测量参数比较多的工件，通过恒定电压方式进行尺寸测量并不能实现对工件各种参数的快速测量。为此本领域技术人员提出了基于图像处理技术的工件检测方法，但是本领域技术人员均清楚，滑轨工件是一种具有一定长度的机械构件，在进行图像采集的过程中，难以获取一个完成的滑轨工件图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤100，驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；步骤200，将所采集的多个样品图像中所存在的图像孤立点滤除；步骤300，采用区域生长算法对所采集的多个样品图像进行图像分割操作，将多个所述待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；步骤400，采用拼接算法对多个所述待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；步骤500，基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。

【技术特征摘要】
1.一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤100，驱动待测样品移动，采集待测样品移动过程中的多个样品图像；步骤200，将所采集的多个样品图像中所存在的图像孤立点滤除；步骤300，采用区域生长算法对所采集的多个样品图像进行图像分割操作，将多个所述待测图片中的样品区域提取出来，形成多个待测图像；步骤400，采用拼接算法对多个所述待测图像执行图像拼接操作，获取待测样品的整体图像；步骤500，基于点拼接处理，根据所述整体图像，计算待测样品的各项参数。2.根据权利要求1所述的一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，步骤200包括以下步骤：步骤210，对多个所述样品图像进行二值化操作；步骤220，对多个所述样品图像先后进行腐蚀运算以及膨胀运算。3.根据权利要求1所述的一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，步骤400包括以下步骤：步骤410，识别相邻的两个样品图像中的重叠区域；步骤420，分别获取相邻的两个样品图像中重叠区域中的特征点；步骤430，分别对相邻两个样品图像的特征点进行匹配，计算相邻两个样品图像之间的单应矩阵；步骤440，根据相邻的两个样品图像中的重叠区域，完成相邻两个待测图像的拼接。4.根据权利要求3所述的一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，步骤500包括以下步骤：步骤510，分别识别并定位出各个待测图像中的孔洞区域；步骤520，利用最小二乘法分别计算各个待测图像中孔洞区域的拟合圆的质心和半径；步骤530，分别为各个待测图像建立像素坐标系，分别获取各个待测图像中孔洞区域的质心坐标；步骤540，根据各个待测图像中各个孔洞区域的质心坐标以及相邻两个样品图像之间的单应矩阵，计算整体图像中各个孔洞区域的质心坐标。5.根据权利要求3所述的一种滑轨多参数测量方法，其特征在于，步骤100中，在待测样品移动过程中，在待测样品旁边放置一个参照物，令所述参照物与待测样品一同移动...

【专利技术属性】
技术研发人员：易俊，陈韦兆，曾亚光，韩定安，王茗祎，周月霞，张尚贤，冯俊键，
申请(专利权)人：佛山科学技术学院，
类型：发明
国别省市：广东,44