【技术实现步骤摘要】
一种学业成长曲线测试方法和系统
本专利技术涉及学业检测
，特别是指一种学业成长曲线测试方法和系统。
技术介绍
现有技术中，检测学生的学业成长大多是根据学生的成绩或者成绩排名的上升或下降来判断的，但是这种判断标准对每个学生的成长判断是片面的，容易忽略学生在成绩之外的其他因素的成长判断。
技术实现思路
本专利技术提出一种学业成长曲线测试方法和系统，解决现有判断标准中根据学生的成绩或者成绩排名的上升或下降来判断，从而导致对每个学生的成长判断片面、容易忽略学生在成绩之外的其他因素成长的问题。本专利技术的技术方案是这样实现的：一种学业成长曲线测试方法，包括S1，确定学业成长曲线测试周期；S2，获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；S3，根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。作为本专利技术的一个优选实施例，步骤S2中考试倾向性评分具体指的是学生在考试中正确题目的倾向性，包括但不限于创造力、记忆力、想象力。作为本专利技...
【技术保护点】
1.一种学业成长曲线测试方法，其特征在于，包括S1，确定学业成长曲线测试周期；S2，获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；S3，根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。
【技术特征摘要】
1.一种学业成长曲线测试方法，其特征在于，包括S1，确定学业成长曲线测试周期；S2，获取各个学生在测试周期内的评分因素的相关信息，评分因素的相关信息包括学生的日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分；S3，根据评分因素的权重系数，计算出学生在该测试周期内的得分，根据各个测试周期的得分拟合出学业成长曲线。2.根据权利要求1所述的学业成长曲线测试方法，其特征在于，步骤S2中考试倾向性评分具体指的是学生在考试中正确题目的倾向性，包括但不限于创造力、记忆力、想象力。3.根据权利要求1所述的学业成长曲线测试方法，其特征在于，步骤S2中学生的日常评分包括学生听课时的评分、与老师交互的评分以及日常作业的评分。4.根据权利要求1所述的学业成长曲线测试方法，其特征在于，还包括以下步骤S4，根据日常评分、考试评分、拓展活动评分、交际能力评分和考试倾向性评分分别单独拟合出子成长曲线，并与学业成长曲线关联。5.根据权利要求4所述的学业成长曲线测试方法，其特征在于，还包括以下步骤：S5，根据学业成长曲线和子成长曲线得出学业报告。6.一种学业成长曲线测试系统，其特征在于，包括设置单元，...
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