一种I2C总线的测试治具制造技术

本申请公开了一种I2C总线的测试治具，包括：微控制器，用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号；I2C总线多路复用器，用于将目标测试信号转换为N路目标测试信号，并将目标中断信号转换为N路目标中断信号；其中，N≥2。通过本申请所提供的测试治具，可以同时输出N路目标测试信号和N路目标中断信号，这样工作人员就可以利用该测试治具对待测试电路板上的多路I2C总线进行测试，由此就相对减少了工作人员对待测试电路板上的I2C总线进行测试时所需要的时间。

A test fixture for I2C bus

【技术实现步骤摘要】
一种I2C总线的测试治具
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种I2C总线的测试治具。
技术介绍
随着大数据时代的到来，服务器在通信领域当中得到了极为广泛的应用，在服务器上通常会设置有实现不同逻辑功能的电路板，在实际应用当中，为了检测服务器中的各个电路板能否实现正常的数据通信，通常需要对待测电路板上每一路I2C总线进行测试。在现有技术当中，如果需要对服务器中待测电路板上的各路I2C总线进行测试时，通常需要工作人员利用一路目标测试信号和一路目标中断信号对待测电路板上的每一路I2C总线进行单独测试，并且，工作人员在对待测电路板上的I2C总线进行测试的过程中，一次只能对待测电路板上的一路I2C总线进行测试。显然，此种测试方式，浪费了工作人员大量的宝贵时间。所以，如何减少工作人员在对待测电路板上I2C总线进行测试时的时间，是本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种I2C总线的测试治具，以减少工作人员在对待测电路板上I2C总线进行测试时的时间。其具体方案如下：一种I2C总线的测试治具，包括：微控制器，用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号；I2C总线多路复用器，用于将所述目标测试信号转换为N路所述目标测试信号，并将所述目标中断信号转换为N路所述目标中断信号；其中，N≥2。优选的，所述微控制器具体为CPU。优选的，所述CPU具体为ADM3202。优选的，所述微控制器具体为MCU。优选的，所述MCU具体为R5F56217BDFB。优选的，所述I2C总线多路复用器中的各个通信信道具有不同的通讯地址。优选的，所述I2C总线多路复用器上还设置有用于显示所述各个通信信道是否处于通路状态的指示灯。优选的，所述I2C总线多路复用器具体为I2C总线四路复用器。优选的，所述I2C总线四路复用器具体为PCA9544A或PCA9545A或PCA9546A。可见，在本专利技术中，首先是在I2C总线的测试治具中设置有用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号的微控制器，以及分别将目标测试信号和目标中断信号转换为N路目标测试信号和N路目标中断信号的I2C总线多路复用器。这样当工作人员将待测电路板上的多路I2C总线与该测试治具中的I2C总线多路复用器进行连接时，利用该测试治具就可以对待测试电路板上的多路I2C总线同时提供多路目标测试信号和多路目标中断信号，由此工作人员就可以利用该测试治具对待测试电路板上的多路I2C总线同时进行测试。相比于现有技术，需要工作人员对待测试电路板上的每一路I2C总线进行单独测试，并且，一次只能利用一路目标测试信号和一路目标中断信号对待测电路板上的一路I2C总线进行测试而言，通过本专利技术所提供的测试治具，可以使得工作人员对待测试电路板上的多路I2C总线同时进行测试，由此就相对减少了工作人员对待测电路板上I2C总线进行测试所需要的时间。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种I2C总线的测试治具的结构图；图2为本专利技术实施例提供的另一种I2C总线的测试治具的结构图；图3为本专利技术实施例提供的一种对待测试电路板上的I2C总线进行测试的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参见图1，图1为本专利技术实施例提供的一种I2C总线的测试治具的结构图。该I2C总线的测试治具包括：微控制器11，用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号；I2C总线多路复用器12，用于将目标测试信号转换为N路目标测试信号，并将目标中断信号转换为N路目标中断信号；其中，N≥2。在本实施例中，为了使得I2C总线的测试治具可以对待测试电路板上的多路I2C总线同时进行测试，是在该测试治具中设置了用于对待测电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号的微控制器11，以及用于将一路目标测试信号和一路目标中断信号分别转换为N路目标测试信号和N路目标中断信号的I2C总线多路复用器12。这样工作人员在使用该测试治具对待测试电路板上的I2C总线进行测试时，只需要将待测试电路板上的I2C总线与I2C总线多路复用器12上的相应接口进行连接，就可以利用该测试治具对待测试电路板上的多路I2C总线提供多路目标测试信号和多路目标中断信号。具体的，微控制器11可以为待测试电路提供一路目标测试信号和一路中断目标中断信号，并通过SDL/SCA通道将这一路目标测试信号传输至I2C总线多路复用器12，通过INT#通道将这一路目标中断信号传输至I2C总线多路复用器12；当I2C总线多路复用器12接收到目标测试信号和目标中断信号之后，就可以通过I2C多路复用器上的SCL0/SCA0通道、SCL1/SCA1通道、SCL2/SCA2通道、……SCLN/SCAN通道将这一路目标测试信号转换为N路目标测试信号，以及通过I2C多路复用器上的INT#0通道、INT#1通道、INT#2通道、……INT#N通道将这一路目标中断信号转换为N路目标中断信号，这样一来，该测试治具就可以为待测电路板上的多路I2C总线提供多路目标测试信号和目标中断信号，这样利用该测试治具就可以对待测试电路板上的多路I2C总线同时进行测试，并由此减少工作人员在对待测试电路板上多路I2C总线进行测试的时间。请参见图2，图2为本专利技术实施例提供的一种具体的I2C总线的测试治具的结构图。在本实施例中，通过测试治具10可以将微控制器11为待测试电路板20所提供的一路目标测试信号和一路目标中断信号转换为四路目标测试信号和四路目标中断信号。也即，微控制器11通过SCL/SDA通道将一路目标测试信号传输到I2C总线四路复用器121，通过INT通道将一路目标中断信号传输到I2C总线四路复用器121，之后，I2C总线四路复用器121通过SCL0/SCA0通道、SCL1/SCA1通道、SCL2/SCA2通道和SCL3/SCA3通道将这一路目标测试信号转换为四路目标测试信号，通过INT#0通道、INT#1通道、INT#2通道和INT#3通道将这一路目标中断信号转换为四路目标中断信号，这样工作人员就可以利用测试治具10同时对待测试电路板20上的四路I2C总线进行测试。具体的，在本实施例中，可以以待测试电路板20上的一路I2C总线为例进行说明，也即，当将待测试电路板20通过SCL/SCA通道与测试治具10中的I2C总线四路复用器121中的SCL0/SDA0通道相连时，就可以得到一路目标测试信号；当将待测试电路板20上的GPIO通道与测试治具10中的I2C总线四路复用器121中INT#0通道相连时，就可以得到一路目标中断信号。这样工作人员就可以对待测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种I2C总线的测试治具，其特征在于，包括：微控制器，用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号；I2C总线多路复用器，用于将所述目标测试信号转换为N路所述目标测试信号，并将所述目标中断信号转换为N路所述目标中断信号；其中，N≥2。

【技术特征摘要】
1.一种I2C总线的测试治具，其特征在于，包括：微控制器，用于对待测试电路板上的I2C总线提供一路目标测试信号和一路目标中断信号；I2C总线多路复用器，用于将所述目标测试信号转换为N路所述目标测试信号，并将所述目标中断信号转换为N路所述目标中断信号；其中，N≥2。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述微控制器具体为CPU。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述CPU具体为ADM3202。4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述微控制器具体为MCU。5.根据权利要求4所述的测试治具，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：尤信富，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32