磁导率测试设备和磁导率测试方法技术

本发明专利技术提供了一种磁导率测试设备和磁导率测试方法，涉及零部件质量检测技术领域，磁导率测试设备包括弱磁计、光纤传感器、固定架、移动架和移动机构；弱磁计和光纤传感器均安装于固定架和移动架中的一方上，且光纤传感器配置成采集并发送弱磁计的永磁棒的移动信息；移动架通过移动机构连接于固定架，且移动机构配置成能够驱动移动架相对固定架往复移动，以使安装于固定架和移动架中的另一方上的待测件靠近或远离弱磁计的永磁棒；磁导率测试方法应用于前述磁导率测试设备，本发明专利技术缓解了现有技术中存在的对零部件的磁导率进行检测时完全依靠人工进行，检测过程中人眼部疲劳容易判断失误，且检测效率低的技术问题。

Permeability testing equipment and methods

【技术实现步骤摘要】
磁导率测试设备和磁导率测试方法
本专利技术涉及零部件质量检测
，尤其是涉及一种磁导率测试设备和磁导率测试方法。
技术介绍
现有技术中，某些含有铁素体的零部件会产生微弱的磁导率，当该零部件被应用于电子设备时，其将会对电子设备产生一些负面影响，例如，在对FPC(FlexiblePrintedCircuit简称FPC)软板，即柔性电路板进行生产时，柔性电路板上的钢片会产生微弱的磁导率，当其磁导率达到一定数值时就会对柔性电路板的功能产生影响。目前，生产过程中，为保证零部件的磁导率不会对成品设备的功能产生负面影响，或者，保证零部件的磁导率处于对成品设备的功能生产的负面影响较小的范围内；主要采用使用弱磁计对零部件的磁导率进行预先检测。弱磁计是同时适合车间和现场使用的无损检测仪器，其结构主要包括壳体和安装于壳体上的永磁棒，在使用中，可在壳体上安装具有已知磁导率的测试标准样，永磁棒则会被测试标准样吸引向测试标准样方向移动并吸附于测试标准样上，吸引力的大小取决于插入测试标准样的磁性大小。其中，永磁棒伸出壳体，当有待测件靠近永磁棒时，待测件会吸引永磁棒，如果待测件的磁导率大于测试标准样，则，永磁棒向待测件方向移动并吸附于待测件上；如果待测件的磁导率小于测试标准样，则，永磁棒仍吸附于测试标准样；由此，即可通过不断更换不同已知磁导率的测试标准样的方式，算出待测件的磁导率范围，实际使用过程中，基本无待测件的磁导率等于测试标准样的磁导率的情况。但是，目前，使用弱磁计对零部件的磁导率进行检测完全依靠人工逐件进行检测，人工检测过程中人眼部疲劳容易判断失误，且检测效率低的技术问题。专利
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种磁导率测试设备和磁导率测试方法，以缓解现有技术中存在的对零部件的磁导率进行检测时完全依靠人工进行，检测过程中人眼部疲劳容易判断失误，且检测效率低的技术问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种磁导率测试设备，包括弱磁计、光纤传感器、固定架、移动架和移动机构；所述弱磁计和所述光纤传感器均安装于所述固定架和所述移动架中的一方上，且所述光纤传感器配置成采集并发送所述弱磁计的永磁棒的移动信息；所述移动架通过所述移动机构连接于所述固定架，且所述移动机构配置成能够驱动所述移动架相对所述固定架往复移动，以使安装于所述固定架和所述移动架中的另一方上的待测件靠近或远离所述弱磁计的永磁棒。在可选的实施方式中，所述固定架包括架体和上模组件；所述上模组件包括上模板，所述上模板固定于所述架体的顶部；所述光纤传感器和所述弱磁计均安装于所述上模板，且所述弱磁计的永磁棒朝下延伸；所述移动架位于所述上模板的下方，用于安装所述待测件；所述移动机构配置成驱动所述移动架相对所述上模板上下运动以靠近或远离所述上模板。在可选的实施方式中，所述上模组件还包括光纤传感器安装座，所述光纤传感器安装座包括第一调节块和第二调节块；所述光纤传感器固定于所述第二调节块上；所述第二调节块以能够相对所述第一调节块调节上下距离的方式连接于所述第一调节块上；在所述上模板上开设有长孔，所述第一调节块以能够沿所述长孔的长度方向滑动的方式连接于所述长孔内。在可选的实施方式中，所述上模组件还包括弱磁计安装座，所述弱磁计安装座包括支撑柱和顶压板件；所述支撑柱具有多个，且多个所述支撑柱的一端均与所述上模板的顶面连接，多个所述支撑柱的另一端均与所述顶压板件连接，所述弱磁计卡固于所述上模板和所述顶压板件之间，在所述上模板上开设有开口，所述弱磁计的永磁棒穿过所述开口朝下延伸。在可选的实施方式中，所述弱磁计安装座还包括弱磁计保护座；在所述弱磁计保护座上设置有限位缺口，所述弱磁计保护座以所述限位缺口半包围所述弱磁计的永磁棒的方式安装于所述开口内。在可选的实施方式中，所述移动架包括下模板、定位块和旋转件；所述下模板固定于所述移动机构；所述定位块固定于所述下模板的上表面，且在所述定位块上开设有用于固定待测件的定位槽；所述旋转件转动连接于所述定位块或所述下模板，配置成能够相对所述定位块转动以覆盖或远离所述定位槽。在可选的实施方式中，在所述下模板上设置有导向柱，在所述上模板上开设有导向孔，所述导向柱插设于所述导向孔的内部。在可选的实施方式中，所述移动机构包括电机和与所述电机连接的伸缩杆，所述电机通过安装板安装于所述固定架；所述移动架安装于所述伸缩杆，所述电机配置成能够驱动所述伸缩杆伸缩以带动所述移动架相对所述固定架往复移动。在可选的实施方式中，所述磁导率测试设备还包括扫码枪，所述扫码枪安装于所述固定架和所述移动架中安装有所述弱磁计的一方上，配置成采集并发送所述待测件的编号信息。第二方面，本专利技术实施例提供一种磁导率测试方法，该磁导率测试方法应用于前述实施方式中任一项所述的磁导率测试设备。具体地，该磁导率测试方法包括第一步骤、第二步骤和第三步骤；所述第一步骤包括：在所述弱磁计的设定位置上安装测试标准样；将待测件安装于所述固定架和所述移动架中未安装所述弱磁计的一方上；驱动所述移动机构使所述移动架相对所述固定架移动，以使所述待测件靠近所述弱磁计的永磁棒；以及由所述光纤传感器对所述弱磁计的永磁棒的移动信息进行采集并将采集到的信息传递给外部控制中心；所述第二步骤包括：由外部控制中心根据接收到的信号对所述待测件的磁导率与所述测试标准样的磁导率比对情况；如果所述永磁棒吸附于所述测试标准样，则，所述待测件的磁导率小于所述测试标准样的磁导率；如果所述永磁棒向所述待测件的方向移动并吸附于所述待测件，则，所述待测件的磁导率大于所述测试标准样的磁导率；所述第三步骤包括：根据所述第二步骤中比对情况的结果调试后得出所述待测件的磁导率范围；如果所述待测件的磁导率大于所述测试标准样的磁导率，则驱动所述移动机构使所述移动架相对所述固定架移动，以使所述待测件远离所述弱磁计的永磁棒，然后更换具有大于当前测试标准样的磁导率的测试标准样重复所述第一步骤和所述第二步骤，直至所述待测件的磁导率小于所述测试标准样的磁导率，以得出所述待测件的磁导率范围；如果所述待测件的磁导率小于所述测试标准样的磁导率，则驱动所述移动机构使所述移动架相对所述固定架移动，以使所述待测件远离所述弱磁计的永磁棒，然后更换具有小于当前测试标准样的磁导率的测试标准样重复所述第一步骤和所述第二步骤，直至所述待测件的磁导率大于所述测试标准样的磁导率，以得出所述待测件的磁导率范围。本专利技术实施例能够产生如下有益效果：本专利技术实施例的第一方面提供一种磁导率测试设备，该磁导率测试设备包括弱磁计、光纤传感器、固定架、移动架和移动机构；弱磁计和光纤传感器均安装于固定架和移动架中的一方上，且光纤传感器配置成采集并发送弱磁计的永磁棒的移动信息；移动架通过移动机构连接于固定架，且移动机构配置成能够驱动移动架相对固定架往复移动，以使安装于固定架和移动架中的另一方上的待测件靠近或远离弱磁计的永磁棒。本专利技术实施例能够对柔性电路板上的钢片等含有低铁素体的待测件进行磁导率检测，以判断待测件是否满足磁导率的设计要求，进而可提高产品合格率。同时，由于在本专利技术实施例中，将现有技术中的弱磁计安装于固定架和移动架中的一方上，将待测件安装于固定架和移动架中的另一方上，并配合移动机构和光纤传感器，以对生产过程中的零部件的磁导率进行检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁导率测试设备，其特征在于，包括弱磁计(1)、光纤传感器(2)、固定架(3)、移动架(4)和移动机构(5)；所述弱磁计(1)和所述光纤传感器(2)均安装于所述固定架(3)和所述移动架(4)中的一方上，且所述光纤传感器(2)配置成采集并发送所述弱磁计(1)的永磁棒(11)的移动信息；所述移动架(4)通过所述移动机构(5)连接于所述固定架(3)，且所述移动机构(5)配置成能够驱动所述移动架(4)相对所述固定架(3)往复移动，以使安装于所述固定架(3)和所述移动架(4)中的另一方上的待测件靠近或远离所述弱磁计(1)的永磁棒(11)。

【技术特征摘要】
1.一种磁导率测试设备，其特征在于，包括弱磁计(1)、光纤传感器(2)、固定架(3)、移动架(4)和移动机构(5)；所述弱磁计(1)和所述光纤传感器(2)均安装于所述固定架(3)和所述移动架(4)中的一方上，且所述光纤传感器(2)配置成采集并发送所述弱磁计(1)的永磁棒(11)的移动信息；所述移动架(4)通过所述移动机构(5)连接于所述固定架(3)，且所述移动机构(5)配置成能够驱动所述移动架(4)相对所述固定架(3)往复移动，以使安装于所述固定架(3)和所述移动架(4)中的另一方上的待测件靠近或远离所述弱磁计(1)的永磁棒(11)。2.根据权利要求1所述的磁导率测试设备，其特征在于，所述固定架(3)包括架体(31)和上模组件(32)；所述上模组件(32)包括上模板(321)，所述上模板(321)固定于所述架体(31)的顶部；所述光纤传感器(2)和所述弱磁计(1)均安装于所述上模板(321)，且所述弱磁计(1)的永磁棒朝下延伸；所述移动架(4)位于所述上模板(321)的下方，用于安装所述待测件；所述移动机构(5)配置成驱动所述移动架(4)相对所述上模板(321)上下运动以靠近或远离所述上模板(321)。3.根据权利要求2所述的磁导率测试设备，其特征在于，所述上模组件(32)还包括光纤传感器安装座(301)，所述光纤传感器安装座(301)包括第一调节块(3011)和第二调节块(3012)；所述光纤传感器(2)固定于所述第二调节块(3012)上；所述第二调节块(3012)以能够相对所述第一调节块(3011)调节上下距离的方式连接于所述第一调节块(3011)上；在所述上模板(321)上开设有长孔(3211)，所述第一调节块(3011)以能够沿所述长孔(3211)的长度方向滑动的方式连接于所述长孔(3211)内。4.根据权利要求2所述的磁导率测试设备，其特征在于，所述上模组件(32)还包括弱磁计安装座(302)，所述弱磁计安装座(302)包括支撑柱(3021)和顶压板件(3022)；所述支撑柱(3021)具有多个，且多个所述支撑柱(3021)的一端均与所述上模板(321)的顶面连接，多个所述支撑柱(3021)的另一端均与所述顶压板件(3022)连接，所述弱磁计(1)卡固于所述上模板(321)和所述顶压板件(3022)之间，在所述上模板(321)上开设有开口，所述弱磁计(1)的永磁棒(11)穿过所述开口朝下延伸。5.根据权利要求4所述的磁导率测试设备，其特征在于，所述弱磁计安装座(302)还包括弱磁计保护座(3023)；在所述弱磁计保护座(3023)上设置有限位缺口，所述弱磁计保护座(3023)以所述限位缺口半包围所述弱磁计(1)的永磁棒(11)的方式安装于所述开口内。6.根据权利要求2所述的磁导率测试设备，其特征在于，所述移动架(4)包括下模板(41)、定位块(42)和旋转件(43)；所述下模板(41)固定于所述移动机构(5)；所述定位块(42)固定于所述下模板(41)的上表面，且在...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕明洋，陈龙，许兵兵，
申请(专利权)人：淮安杰鼎唐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32