异物检查装置以及异物检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及异物检查装置以及异物检查方法。减低异物的检测遗漏的可能。主面的法线方向相对于电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜。

Foreign body inspection device and foreign body inspection method

【技术实现步骤摘要】
异物检查装置以及异物检查方法
本专利技术涉及异物检查装置以及异物检查方法。
技术介绍
锂离子二次电池等非水电解液二次电池作为个人计算机、便携电话以及便携信息终端等的电池被广泛使用。尤其是锂离子二次电池，与现有的二次电池相比削减了CO2的排出量，作为贡献于节能的电池而受到关注。过去，非水电解液二次电池用隔离部件对芯体卷绕而成的隔离部件卷绕体的开发被不断推进。一并研讨检测附着于该隔离部件卷绕体的异物的异物检查。作为能适用于上述异物检查的检查的一例，能举出在专利文献1公开的技术。在专利文献1公开的技术中，使用TDI(TimeDelayIntegration，时间延迟积分)传感器，以下述的要领检测附着于样品的异物。首先，将从X射线源放出的X射线通过毛细管透镜变换成平行X射线，样品移动，横穿X射线源与TDI传感器之间，并对样品照射平行X射线。然后，在TDI传感器接受透过样品的平行X射线，从TDI传感器所取得的图像中检测异物。现有技术文献专利文献专利文献1：日本公开专利公报「特开2016-38350号公报(2016年3月22日公开)」附着于隔离部件卷绕体的异物由于经常被夹在非水电解液二次电池用隔离部件中的第n圈与第n+1圈之间，或者埋没在第n圈的内部，因此成为与隔离部件卷绕体的侧面大致垂直的面状。另外，n是自然数。所谓隔离部件卷绕体的侧面，是与卷绕的非水电解液二次电池用隔离部件的面垂直的面，在将卷绕体视作大致圆筒形状的情况下来说，是指圆筒的底面以及顶面。另一方面，在利用电磁波产生源以及图像传感器的上述异物检查中，为了在图像传感器鲜明地得到非水电解液二次电池用隔离部件整体的图像，电磁波产生源通常对隔离部件卷绕体的侧面照射电磁波。由此，在利用电磁波产生源以及图像传感器的上述异物检查中经常对异物的侧面照射电磁波。其结果，异物的大的面在图像上未以足够的像素数拍到，从而异物的图像小，发生易于出现异物的检测遗漏的问题。
技术实现思路
本专利技术的一个方案目的在于，实现能减低异物的检测遗漏的可能的异物检查装置以及异物检查方法。为了解决上述的课题，本专利技术的一个实施方式所涉及的异物检查装置具备：对检查对象物照射电磁波的电磁波产生源；和具有设有构成透过上述检查对象物的上述电磁波的图像的大量像素的主面的图像传感器，上述主面的法线方向相对于上述电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜。为了解决上述的课题，本专利技术的一个实施方式所涉及的异物检查方法包含如下工序：对检查对象物照射电磁波；和由设于图像传感器的主面的大量像素构成透过上述检查对象物的上述电磁波的图像的工序，使上述主面的法线方向相对于对上述检查对象物照射的电磁波的强度最高的方向倾斜来配置上述图像传感器。专利技术的效果根据本专利技术的一个方案，能减低异物的检测遗漏的可能。附图说明图1是表示本专利技术的一个方案所涉及的异物检查装置的概略结构的图。图2是图像传感器的主面的俯视图。图3是在主面的法线方向相对于电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜的状态下，从与电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向平行的方向观察主面得到的图。图4是表示本专利技术的其他方案所涉及的异物检查装置的概略结构的图。图5是表示在图4所示的异物检查装置中，被实际引导到大量像素的电磁波通过检查对象物的侧面的范围的印象图。附图标记的说明1检查对象物12非水电解液二次电池用隔离部件13异物2电磁波产生源21电磁波3图像传感器31主面32像素33检查段34主面的法线方向35在第1方向上延伸的轴100、101异物检查装置Z与电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向平行的方向具体实施方式图1是表示本专利技术的一个方案所涉及的异物检查装置100的概略结构的图。图2是图像传感器3的主面31的俯视图。异物检查装置100检测附着于检查对象物1的异物13。检查对象物1是薄膜的非水电解液二次电池用隔离部件12对芯体11卷绕而成的隔离部件卷绕体。但检查对象物1也可以非水电解液二次电池用隔离部件12以外的薄膜对芯体11卷绕而成，也可以不是薄膜对芯体11卷绕而成的结构。异物检查装置100具备电磁波产生源2以及图像传感器3。电磁波产生源2对检查对象物1的侧面14照射电磁波21。所谓检查对象物1的侧面14，是与卷绕的非水电解液二次电池用隔离部件12的面垂直的面。电磁波21透过检查对象物1。作为电磁波21的一例能举出X射线，但电磁波21并不限定于X射线。图像传感器3具有主面31。在主面31接受透过检查对象物1的电磁波21，设有构成该电磁波21的图像的大量像素32。大量像素32具有：多个像素32在第1方向上排列而成的检查段33在与该第1方向垂直的第2方向上排列多个的结构。各像素32的沿着第1方向的尺寸是尺寸D1，沿着第2方向的尺寸是尺寸D2。在本实施方式中，规定相互垂直的3方向即X方向、Y方向、以及Z方向。Z方向是与电磁波产生源2放出的电磁波21、换言之对检查对象物1照射的电磁波21的强度最高的方向平行的方向。另外，在将电磁波21近似看作以电磁波产生源2中的电磁波21的放出部分的中心22为顶点的正圆锥的情况下，电磁波产生源2放出的电磁波21的强度最高的方向与相当于该正圆锥的高度的方向大致平行。在图1中，将沿着该正圆锥的高度的直线作为轴23。Y方向从、Z方向观察是多个检查段33所排列的方向。X方向从Z方向观察是构成同一检查段33的多个像素32所排列的方向。在主面31的法线方向34和Z方向一致的情况下，第1方向以及第2方向分别与X方向以及Y方向一致。在此，异物检查装置100使主面31的法线方向34相对于Z方向倾斜。若将主面31朝向电磁波产生源2侧且主面31的法线方向34和Z方向一致的状态设为0°，则相对于Z方向的法线方向34的倾斜角度θ只要是-90°＜θ＜90°即可，没有特别限制，优选θ≤-60°或60°≤θ，更优选θ≤-85°或85°≤θ。另外θ≠0°。根据异物检查装置100，由于在图像传感器3中能得到主面31的法线方向34和Z方向平行的情况下得不到的图像，因此能向检查提供新的适用范围。具体地，将主面31的法线方向34倾斜，能减小在与Z方向平行的方向上观察时的、设于主面31的各像素32的看上去的面积。由此，由于图像传感器3的像素数保持不变，而在图像传感器3所构成的图像中拍到的检查对象物1的范围变窄，因此能得到与提高图像传感器3的分辨率同等的效果。因此，在图像传感器3所构成的图像清晰地拍到异物13，能减低异物13的检测遗漏的可能。通过将主面31的法线方向34倾斜，缩小了从与Z方向平行的方向观察时的设于主面31的各像素32的看上去的面积，参考图1～图3以下对此详细进行说明。图3是在主面31的法线方向34相对于Z方向倾斜的状态下在与Z方向平行的方向上观察主面31的图。在图1以及图2中，主面31的法线方向34相对于Z方向在Y-Z平面上右转地转动而倾斜。另外，如上述那样，在主面31的法线方向34和Z方向一致的情况下，第1方向以及第2方向分别与X方向以及Y方向一致。据此可以说，主面31的法线方向34相对于Z方向以在与X方向一致的第1方向上延伸的轴35转动而倾斜。在主面31的法线方向34这样转动的情况下，若在与Z方向平行的方向上观察主面31，则如图3所示那样，沿着各像素32的Y方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种异物检查装置，其特征在于，具备：对检查对象物照射电磁波的电磁波产生源；和具有主面的图像传感器，该主面设有构成透过上述检查对象物的上述电磁波的图像的大量像素，上述主面的法线方向相对于上述电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜。

【技术特征摘要】
2018.03.29 JP 2018-0659131.一种异物检查装置，其特征在于，具备：对检查对象物照射电磁波的电磁波产生源；和具有主面的图像传感器，该主面设有构成透过上述检查对象物的上述电磁波的图像的大量像素，上述主面的法线方向相对于上述电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向倾斜。2.根据权利要求1所述的异物检查装置，其特征在于，上述大量像素具有多个像素在第1方向上排列而成的检查段在与该第1方向垂直的第2方向上排列多个的结构，上述主面的法线方向以在上述第1方向上延伸的轴转动而倾斜。3.根据权利要求1或2所述的异物检查装置，其特征在于，上述电磁波产生源发出具有扩散的上述电磁波。4.根据权利要求1～3中任一项所述的异物检查装置，其特征在于，上述检查对象物包含薄膜在与上述电磁波产生源放出的电磁波的强度最高的方向垂直的方向上层叠的层叠体，上述主面的法线方向向...

【专利技术属性】
技术研发人员：加集功士，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP