一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法及系统技术方案

技术编号:22263929 阅读:42 留言:0更新日期:2019-10-10 15:48
本发明专利技术公开了一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法及系统,具体步骤为:预设GAMMA调节模式下,获取待调节OLED模组的第一特定绑点对应的RGB寄存器配置值,依据第一关系和上述寄存器配置值获得对应的样本库中OLED模组样本编号,依据第二关系和样本库OLED模组样本编号获得GAMMA数据模型,依据上述GAMMA数据模型得到待调节OLED模组所有待调节绑点对应的RGB寄存器初始值;其中,依据样本库中OLED模组样本编号下的所有绑点与其对应的RGB寄存器配置值的关系建立GAMMA数据模型;建立每个OLED模组样本编号与第二特定绑点对应的RGB寄存器配置值的关系得到第一关系;依据样本库中每个OLED模组样本编号与其一一对应的GAMMA数据模型的关系得到第二关系,由此减少了OLED模组的Gamma调节时间并提高了显示屏生产线的产能。

A Prediction Method and System for the Initial Value of GAMMA Regulation of OLED Module

【技术实现步骤摘要】
一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法及系统
本专利技术属于图像处理领域,具体涉及一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法及系统。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode,OLED)显示屏又称有机电激发光显示屏,OLED的基本结构是由一薄而透明具半导体特性之铟锡氧化物(ITO),与电力之正极相连,再加上另一个金属阴极,包成如三明治的结构,当电力供应至适当电压时,正极空穴与阴极电荷就会在发光层中结合,产生光亮,依其配方不同产生红、绿和蓝RGB三基色,构成基本色彩。AOI(AutomaticOpticInspection,自动光学检测技术)广泛应用于显示屏缺陷检测中。在显示屏的AOI检测流程中,显示屏依次显示待检测画面,视觉传感器同步拍摄待检测的画面,取像完成后进入缺陷检测流程。图像质量的一致性是自动光学检测缺陷检出率的基础。然而,图像灰度的一致性对检出影响因素主要存在如下两个方面:图像灰度的一致性和待检测画面的目标灰度值的评估。由于显示缺陷特征形态多样,当图像灰度上下波动时,缺陷的对比度和缺陷面积会随之受到影响,直接影响系统对显示屏缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,具体步骤为:预设GAMMA调节模式下,获取待调节OLED模组的第一特定绑点对应的RGB寄存器配置值,依据第一关系和上述寄存器配置值获得对应的样本库中OLED模组样本编号,依据第二关系和所述样本库OLED模组样本编号获得GAMMA数据模型,依据上述GAMMA数据模型得到待调节OLED模组所有待调节绑点对应的RGB寄存器初始值;所述GAMMA数据模型为:所述样本库中OLED模组样本编号下的所有绑点与其对应的RGB寄存器配置值的关系;所述第一关系为:选择所述样本库中每个OLED模组样本与所述第一特定绑点属性相同的第二特定绑点,建立每个OL...

【技术特征摘要】
1.一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,具体步骤为:预设GAMMA调节模式下,获取待调节OLED模组的第一特定绑点对应的RGB寄存器配置值,依据第一关系和上述寄存器配置值获得对应的样本库中OLED模组样本编号,依据第二关系和所述样本库OLED模组样本编号获得GAMMA数据模型,依据上述GAMMA数据模型得到待调节OLED模组所有待调节绑点对应的RGB寄存器初始值;所述GAMMA数据模型为:所述样本库中OLED模组样本编号下的所有绑点与其对应的RGB寄存器配置值的关系;所述第一关系为:选择所述样本库中每个OLED模组样本与所述第一特定绑点属性相同的第二特定绑点,建立每个OLED模组样本编号与第二特定绑点对应的RGB寄存器配置值的关系;所述第二关系为:所述样本库中每个OLED模组样本编号与其一一对应的GAMMA数据模型的关系。2.根据权利要求1所述的一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,依据所有OLED模组样本的第二特定绑点对应的RGB寄存器配置值的大小排序得到OLED模组样本编号。3.根据权利要求1或2所述的一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,获取所述GAMMA数据模型包括以下步骤:所述预设GAMMA调节模式下,获取OLED模组样本的若干绑点下其对应的RGB寄存器配置值,模拟得到所有绑点与其对应的RGB寄存器配置值的关系模拟曲线f1作为所述GAMMA数据模型。4.根据权利要求1-3中任一项所述的一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,分别依据所述第一关系和所述第二关系建立第一神经网络泛函数F1和第二神经网络泛函数F2,以减少对应的样本库中OLED模组样本编号获取的计算时间。5.根据权利要求1-4中任一项所述的一种OLED模组的GAMMA调节初值预测方法,其特征在于,比较待调节OLED模组的第一特定绑点对应的RGB寄存器配置值与OLED模组样本的第二特定绑点对应的RGB寄存器配置值的差值绝对值,以确定所述对应的样本库中OLED模组样本编号。6.一种OLED模组的GAMMA调节初值预测系统,该系统包括数据采集模块和数据...

【专利技术属性】
技术研发人员:何光瑜詹东旭张胜森郑增强
申请(专利权)人:武汉精立电子技术有限公司武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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