一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。

A Pulse Period Testing Device for Neutron Beam and Its Testing Method

【技术实现步骤摘要】
一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法
本专利技术涉及一种中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法。
技术介绍
散裂中子源是通过加速器驱动高能质子轰击重金属靶体，从而得到高中子通量的中子束流。先进的中子源是中子科学研究的基础，能够为物质微观结构和运动状态的研究提供必要的工具。质子加速轰击钨靶产生出脉冲中子束流，同时也产生了快中子束。快中子束在每个中子束流脉冲周期的零时刻发出，随中子束流传输，如果全部到达样品，会对测试结果造成很大的背底，在不同研究和实验需要的中子束流波段不尽相同，因此，在快中子束流传输过程中，需要设计一种装置对快中子进行滤除，而又能放行需要的脉冲中子流束。例如：专利号为2017200036286的专利公开了一种散裂中子源快中子滤除装置。这样就需要对中子束流脉冲周期进行测量，以便于根据不同波段的中子束流来进行过滤快中子。
技术实现思路
针对
技术介绍
中指出的问题，本专利技术提出一种可对中子束流脉冲周期进行测试的装置及测试方法。本专利技术的技术方案是这样实现的：一种中子束流的脉冲周期测试装置，包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。本专利技术还进一步设置为，还包括转盘，转盘设置在壳体内，电机设置在壳体的外侧，电机的驱动轴伸入壳体内驱动转盘转动，所述的闪烁体设置在转盘的盘面上，所述的闪烁体整体为环形，中子发生源对应闪烁体设置。本专利技术还进一步设置为，还包括与微处理器连接的触摸显示器。本专利技术还进一步设置为，所述的壳体的上设有抽真空管。一种中子束流的脉冲周期测试方法，包括如下步骤：步骤一，在一个密闭的壳体内设置一个环形的闪烁体，闪烁体可绕其中心转动，匀速的驱动闪烁体转动；步骤二，中子发生源向壳体内的闪烁体的入射面发射中子，使至少一个周期的中子束射到闪烁体上；步骤三，闪烁体上的发光信号通过光纤传递给光电倍增管，光电倍增管再把信号发送给微处理器，微处理器记录接收到的信号数量及强度；步骤四，微处理器对单位时间内的信号数量及强度的数据信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，其先通过电机来驱动闪烁体匀速转动，中子源再向闪烁体发射中子束，使大于一个周期内发射的中子束能完全射向闪烁体，这样闪烁体上就能发光，并通过光检测器产生电信号，并把该电信号发送给微处理器，由于快中子会区别于其他中子，具有更大的能量，这样接收到快中子的光检测元件就能发出更强的信号，微处理器接收该电信号，并进行电信号数量及强度的存储和处理，微处理器对单位时间内存储的电信号数量及强度信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术的结构示意图；图3为本专利技术的原理框图；图4为本专利技术转盘上闪烁体的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如下参考图1-4对本专利技术进行说明：一种中子束流的脉冲周期测试装置，包括壳体1、中子发生源2、闪烁体3、光检测器、微处理器4、电机5。所述壳体1为密闭壳体，中子发生源2安装在壳体1内一侧壁上并可向壳体1内发射中子束。所述的闪烁体3可转动的设置在壳体1内，所述的电机5用于驱动闪烁体3，中子发生源2朝向闪烁体3的入射面设置，还包括转盘6，转盘6设置在壳体1内，电机5设置在壳体1的外侧，电机5的驱动轴伸入壳体1内驱动转盘6转动，转盘6与电机5的驱动轴同轴联动设置，所述的闪烁体3设置在转盘6的盘面上，所述的闪烁体3整体为环形，中子发生源2对应闪烁体3设置。光检测器具有若干个光纤7和若干个光检测元件8，光检测元件8为光电倍增管，光纤7对应连接闪烁体3设置，若干个光检测元件8对应连接光纤7设置，光检测元件8与微处理器4连接。其中，还包括与微处理器4连接的触摸显示器9，在触摸显示器9上可测得波形图，并与操作人员进行交互。其中，所述的壳体1的上设有抽真空管10，可将壳体内部抽成真空环境，减少中子束通过时在空气中的散射。一种中子束流的脉冲周期测试方法，包括如下步骤：步骤一，在一个密闭的壳体1内设置一个环形的闪烁体3，闪烁体3可绕其中心转动，匀速的驱动闪烁体3转动；步骤二，中子发生源2向壳体1内的闪烁体3的入射面发射中子，使至少一个周期的中子束射到闪烁体3上；步骤三，闪烁体3上的发光信号通过光纤7传递给光电倍增管，光电倍增管再把信号发送给微处理器4，微处理器4记录接收到的信号数量及强度；步骤四，微处理器4对单位时间内的信号数量及强度的数据信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。本专利技术的有益效果：本专利技术提供的中子束流的脉冲周期测试装置及测试方法，其先通过电机5来驱动闪烁体3匀速转动，中子源再向闪烁体3发射中子束，使大于一个周期内发射的中子束能完全射向闪烁体3，这样闪烁体3上就能发光，并通过光检测器产生电信号，并把该电信号发送给微处理器4，由于快中子会区别于其他中子，具有更大的能量，这样接收到快中子的光检测元件8就能发出更强的信号，微处理器4接收该电信号，并进行电信号数量及强度的存储和处理，微处理器4对单位时间内存储的电信号数量及强度信息进行处理，并找出其中的规律化的变化，从而得出中子束流的脉冲周期。以上所述的仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。

【技术特征摘要】
1.一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：包括壳体、中子发生源、闪烁体、光检测器、微处理器、电机，所述壳体为密闭壳体，中子发生源安装在壳体内一侧壁上并可向壳体内发射中子束，所述的闪烁体可转动的设置在壳体内，所述的电机用于驱动闪烁体，中子发生源朝向闪烁体的入射面设置，光检测器具有若干个光纤和若干个光检测元件，光纤对应连接闪烁体设置，若干个光检测元件对应连接光纤设置，光检测元件与微处理器连接。2.根据权利要求1所述的一种中子束流的脉冲周期测试装置，其特征在于：还包括转盘，转盘设置在壳体内，电机设置在壳体的外侧，电机的驱动轴伸入壳体内驱动转盘转动，所述的闪烁体设置在转盘的盘面上，所述的闪烁体整体为环形，中子发生源对应闪烁体设置。3.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱铁威，
申请(专利权)人：钱铁威，
类型：发明
国别省市：浙江,33